故障解析装置 - 企業ランキング(全5社)
更新日: 集計期間:2025年10月01日〜2025年10月28日
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| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 項目 : 内容 測定方式 : レーザー熱反射(ThermoReflectance)法 絞込み精度 : 約2μm 使用波長 : 670nm(他波長も選択可) 計測時間 : 約90秒(視野フルサイズ最速) 対応装置 : PHEMOS-X / Dual PHE... | 生成AI用半導体等の3次元構造化や微細化が進む先端半導体デバイスの欠陥箇所特定の成功確率を向上させます。 | ||
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- 代表製品
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TD Imaging | 半導体故障解析装置(発熱計測)
- 概要
- 項目 : 内容 測定方式 : レーザー熱反射(ThermoReflectance)法 絞込み精度 : 約2μm 使用波長 : 670nm(他波長も選択可) 計測時間 : 約90秒(視野フルサイズ最速) 対応装置 : PHEMOS-X / Dual PHE...
- 用途/実績例
- 生成AI用半導体等の3次元構造化や微細化が進む先端半導体デバイスの欠陥箇所特定の成功確率を向上させます。
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東機通商株式会社