デバイス - 企業ランキング(全10社)
更新日: 集計期間:2025年08月06日〜2025年09月02日
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会社名 |
企業情報 |
代表製品 |
製品画像・製品名・価格帯 |
概要 |
用途/実績例 |
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- 所在地
- 東京都
- 従業員数
- 1100
- 事業内容
- 高速通信、光チップ、および半導体ウェーハチップのテスト分野に注力し、「測定器+装置+ソリューション」からなる完全なエコシステムを構築しています。
主な製品ラインナップは以下の通りです。
高速信号&光通信計測器:サンプリングオシロスコープ、クロックリカバリユニット、誤り率測定器(BERT)、波長計、高精度ソースメータなど
光チップ試験装置:LD(レーザーダイオード)CoCバーンインシステム、ベアチップテスター、シリコンフォトニクスウェーハテストシステムなど
半導体試験装置:SiCウェーハバーイン試験装置、SiCベアチップテスト・KGD(Known Good Die)選別システム、WATウェーハパラメータ測定システム、、WLR/PLR信頼性試験システムなどの高性能試験装置
業界向けソリューション:1.6T光インターコネクトテストソリューション、CPO(Co-Packaged Optics)テストソリューションなど、業界ニーズに対応する総合的なソリューションを提供し、多様化する顧客要求に柔軟に対応します。
- 主要取引先
- Intel、Broadcom、on semi、住友電工、古河電工など
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- 所在地
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- 事業内容
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- 所在地
- 東京都
- 従業員数
- 1100
- 事業内容
- 高速通信、光チップ、および半導体ウェーハチップのテスト分野に注力し、「測定器+装置+ソリューション」からなる完全なエコシステムを構築しています。
主な製品ラインナップは以下の通りです。
高速信号&光通信計測器:サンプリングオシロスコープ、クロックリカバリユニット、誤り率測定器(BERT)、波長計、高精度ソースメータなど
光チップ試験装置:LD(レーザーダイオード)CoCバーンインシステム、ベアチップテスター、シリコンフォトニクスウェーハテストシステムなど
半導体試験装置:SiCウェーハバーイン試験装置、SiCベアチップテスト・KGD(Known Good Die)選別システム、WATウェーハパラメータ測定システム、、WLR/PLR信頼性試験システムなどの高性能試験装置
業界向けソリューション:1.6T光インターコネクトテストソリューション、CPO(Co-Packaged Optics)テストソリューションなど、業界ニーズに対応する総合的なソリューションを提供し、多様化する顧客要求に柔軟に対応します。
- 主要取引先
- Intel、Broadcom、on semi、住友電工、古河電工など
- 代表製品
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各種デバイス、素子向け『ウエハーレベル バーンイン』
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- 所在地
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- 事業内容
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