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ネットワークアナライザ - 企業ランキング(全19社)

更新日: 集計期間:2026年04月15日〜2026年05月12日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
周波数範囲 5 kHz ~ 4.5 / 8.5 / 14 / 20 / 26.5 GHz ポート数 2ポート 周波数分解能 1 Hz 最大出力電力 10 dBm ダイナミックレンジ 127 dB (typ.) IF帯域幅 (IF BW) 1 Hz ~ 10 ... エレクトロニクス、通信、マイクロ波の各分野において、研究開発から量産まで幅広く利用可能です 。 通信・ネットワーク: 5G/Wi-Fi通信機器、UWB、RFID、光通信コンポーネントの評価 。 半導体: デジタル/アナログ/RFチップ、メモリ、MCU、第三世代半導体のテスト 。 ...
内容 周波数範囲5 kHz ~ 8.5 / 14 / 20 / 26.5 GHz 周波数分解能1 Hz ポート数2 または 4 ポート 最大出力電力10 dBm ダイナミックレンジ127 dB (typ.) IF帯域幅 (IF BW)1 Hz ~ 10 MHz 表示形式... 本製品は、電子工学、通信、マイクロ波などの分野で広く活用されます 。 研究開発 (R&D): 高周波回路、アンテナ、フィルタなどのアンプ・周波数特性や位相特性、群遅延の精密な評価 。 製造ライン: 工場でのバッチ生産時におけるコンポーネントの品質検査 。 教育・学術研究: 大学や...
主な仕様 測定速度800 MHz~1 GHz、500 kHz IFBW 201ポイントに対して1.3 ms ダイナミックレンジ4 GHz、10 Hz IFBW 150 dB(代表値) トレースノイズ0 dBm、10 kHz IFBW 0.0005 dB(代表値) テストポート出力... 電気特性計測 供試体 DUT (Device under test) - 被試験デバイス、検査対象機、試験中の装置、被試験体、被検体、被測定物、測定対象 EUT (Equipment under test) - 被試験機器 UUT (Unit under test) - 被試験...
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  1. 代表製品
    新製品リゴル ベクトル・ネットワーク・アナライザ DNA5000新製品リゴル ベクトル・ネットワーク・アナライザ DNA5000
    概要
    周波数範囲 5 kHz ~ 4.5 / 8.5 / 14 / 20 / 26.5 GHz ポート数 2ポート 周波数分解能 1 Hz 最大出力電力 10 dBm ダイナミックレンジ 127 dB (typ.) IF帯域幅 (IF BW) 1 Hz ~ 10 ...
    用途/実績例
    エレクトロニクス、通信、マイクロ波の各分野において、研究開発から量産まで幅広く利用可能です 。 通信・ネットワーク: 5G/Wi-Fi通信機器、UWB、RFID、光通信コンポーネントの評価 。 半導体: デジタル/アナログ/RFチップ、メモリ、MCU、第三世代半導体のテスト 。 ...
    新製品リゴル ベクトル・ネットワーク・アナライザ DNA6000新製品リゴル ベクトル・ネットワーク・アナライザ DNA6000
    概要
    内容 周波数範囲5 kHz ~ 8.5 / 14 / 20 / 26.5 GHz 周波数分解能1 Hz ポート数2 または 4 ポート 最大出力電力10 dBm ダイナミックレンジ127 dB (typ.) IF帯域幅 (IF BW)1 Hz ~ 10 MHz 表示形式...
    用途/実績例
    本製品は、電子工学、通信、マイクロ波などの分野で広く活用されます 。 研究開発 (R&D): 高周波回路、アンテナ、フィルタなどのアンプ・周波数特性や位相特性、群遅延の精密な評価 。 製造ライン: 工場でのバッチ生産時におけるコンポーネントの品質検査 。 教育・学術研究: 大学や...
    R&S ベクトルネットワークアナライザZNBR&S ベクトルネットワークアナライザZNB
    概要
    主な仕様 測定速度800 MHz~1 GHz、500 kHz IFBW 201ポイントに対して1.3 ms ダイナミックレンジ4 GHz、10 Hz IFBW 150 dB(代表値) トレースノイズ0 dBm、10 kHz IFBW 0.0005 dB(代表値) テストポート出力...
    用途/実績例
    電気特性計測 供試体 DUT (Device under test) - 被試験デバイス、検査対象機、試験中の装置、被試験体、被検体、被測定物、測定対象 EUT (Equipment under test) - 被試験機器 UUT (Unit under test) - 被試験...