パーティクルカウンタ - 企業ランキング(全36社)
更新日： 集計期間:2025年07月30日〜2025年08月26日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 光学方式：側方散乱方式 光源：半導体レーザ励起固体レーザ 粒径区分：0.02 μm～0.08 μm 定格流量 10 mL/min 計数効率 3 % 最大粒子個数濃度 50 000個/mL（計数損失10 ％以内） | 最先端半導体製造工場の薬液供給プラントの送り Wet洗浄ラインの薬液管理 薬液製造メーカーの製造ライン・出荷検査ライン 等 | ||
| ●測定粒径範囲：0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921：1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自動測定が可能 ● 測定結果をプリンタ（オプション）に印字可能 | クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等 | ||
| ■ 最小可測粒径0.1μm、定格流量10 mＬ/min ■ 粒径区分（５段階、出荷時） 0.1μm、0.15μm、0.2μm、0.3μm、0.5μm以上 （ オプションで1.0μmまで対応） ■ 液漏れセンサ内蔵。本体内で液漏れ発生時に警報を出力 ■ KS-42AFはサファイアセルを使用。 ■ 粒径範囲内で任意に粒径を設定可能 | 半導体洗浄ライン 薬液製造メーカー 出荷検査 等 | ||
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リオン株式会社
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- 代表製品
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パーティクルカウンター20ナノ・HF対応 KS-20F リオン
- 概要
- 光学方式：側方散乱方式 光源：半導体レーザ励起固体レーザ 粒径区分：0.02 μm～0.08 μm 定格流量 10 mL/min 計数効率 3 % 最大粒子個数濃度 50 000個/mL（計数損失10 ％以内）
- 用途/実績例
- 最先端半導体製造工場の薬液供給プラントの送り Wet洗浄ラインの薬液管理 薬液製造メーカーの製造ライン・出荷検査ライン 等
パーティクルカウンター 気中 0.1μm KC-22A
- 概要
- ●測定粒径範囲：0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921：1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自動測定が可能 ● 測定結果をプリンタ（オプション）に印字可能
- 用途/実績例
- クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等
パーティクルカウンター液中 0.1μm KS-42A/42AF
- 概要
- ■ 最小可測粒径0.1μm、定格流量10 mＬ/min ■ 粒径区分（５段階、出荷時） 0.1μm、0.15μm、0.2μm、0.3μm、0.5μm以上 （ オプションで1.0μmまで対応） ■ 液漏れセンサ内蔵。本体内で液漏れ発生時に警報を出力 ■ KS-42AFはサファイアセルを使用。 ■ 粒径範囲内で任意に粒径を設定可能
- 用途/実績例
- 半導体洗浄ライン 薬液製造メーカー 出荷検査 等
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リオン株式会社
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