光学センサ - 企業ランキング(全8社)
更新日: 集計期間:2026年09月02日〜2026年09月29日
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| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 【取扱製品(抜粋)】 ■ファイバーレーザ用切断ヘッド ・FineCutter ・SpeedCutter ・MiniCutter ・LightCutter2.0 ・ProCutter 2.0 ■計測機器 ・シングルポイントセンサ CHRoco... | 【用途・測定項目・メリットなどキーワード】 非接触、光センサ、光学センサ、共焦点、分光干渉法、厚み、薄膜、厚膜、ギャップ、高さ、表面粗さ、平坦度、TTV、形状、外観、エッジ、斜面、計測、測定、検査、高速、3次元、ラインセンサ、ラインスキャン、エリアスキャン、全面、小型、コンパク... | ||
| 【ラインアップ】 <CHRocodile 2 DPS(色収差共焦点方式)> ・光源:白色LED ・プローブにより100μm~38.5mmまで測定可能 ・材料によらず全体の厚みを測定可能 <CHRocodile 2 IT(分光干渉原理方式)> ・光源:赤外SLD ... | 【用途・測定項目・メリットなどキーワード】 非接触センサ、光センサ、光学センサ、共焦点、分光干渉法、厚み、薄膜、厚膜、ギャップ、高さ、表面粗さ、平坦度、TTV、形状、外観、エッジ、斜面、計測、測定、検査、高速、3次元、高精度、インライン、モニタリング、In-Situ、加工中、加... | ||
| 【その他の特長】 ■測定レンジ: 32μm~3900μm (n=1, 線形性1um) 16μm~1900μm (n=1, 線形性0.35um) ■分解能:最大1nm(n=1) ■測定周波数: 70kHz ■インターフェイス:Ethernet,RS422,アナロ... | 【用途】 ■Siなど等半導体ウェハー厚み測定 フイルム、樹脂、ガラス、液晶ギャップセル、太陽電池等の 厚み測定やドープウェハー測定 【用途・測定項目・メリットなどキーワード】 非接触センサ、光センサ、光学センサ、分光干渉法、厚み、薄膜、厚膜、ギャップ、形状、... | ||
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- 代表製品
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プレシテック・ジャパン株式会社 会社案内
- 概要
- 【取扱製品(抜粋)】 ■ファイバーレーザ用切断ヘッド ・FineCutter ・SpeedCutter ・MiniCutter ・LightCutter2.0 ・ProCutter 2.0 ■計測機器 ・シングルポイントセンサ CHRoco...
- 用途/実績例
- 【用途・測定項目・メリットなどキーワード】 非接触、光センサ、光学センサ、共焦点、分光干渉法、厚み、薄膜、厚膜、ギャップ、高さ、表面粗さ、平坦度、TTV、形状、外観、エッジ、斜面、計測、測定、検査、高速、3次元、ラインセンサ、ラインスキャン、エリアスキャン、全面、小型、コンパク...
非接触厚み測定 光学センサ「CHRocodile 2シリーズ」
- 概要
- 【ラインアップ】 <CHRocodile 2 DPS(色収差共焦点方式)> ・光源:白色LED ・プローブにより100μm~38.5mmまで測定可能 ・材料によらず全体の厚みを測定可能 <CHRocodile 2 IT(分光干渉原理方式)> ・光源:赤外SLD ...
- 用途/実績例
- 【用途・測定項目・メリットなどキーワード】 非接触センサ、光センサ、光学センサ、共焦点、分光干渉法、厚み、薄膜、厚膜、ギャップ、高さ、表面粗さ、平坦度、TTV、形状、外観、エッジ、斜面、計測、測定、検査、高速、3次元、高精度、インライン、モニタリング、In-Situ、加工中、加...
厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』
- 概要
- 【その他の特長】 ■測定レンジ: 32μm~3900μm (n=1, 線形性1um) 16μm~1900μm (n=1, 線形性0.35um) ■分解能:最大1nm(n=1) ■測定周波数: 70kHz ■インターフェイス:Ethernet,RS422,アナロ...
- 用途/実績例
- 【用途】 ■Siなど等半導体ウェハー厚み測定 フイルム、樹脂、ガラス、液晶ギャップセル、太陽電池等の 厚み測定やドープウェハー測定 【用途・測定項目・メリットなどキーワード】 非接触センサ、光センサ、光学センサ、分光干渉法、厚み、薄膜、厚膜、ギャップ、形状、...
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