分光分析 - 企業ランキング(全8社)
更新日： 集計期間:2026年04月01日〜2026年04月28日
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| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 【特長】 ○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を同定し組成・化学結合状態を分析する手法。 ○絶縁物の表面分析に適しており、Arイオンエッチングによる深さ分析や10μm径のビームによる局所分析が可能。 | ・多層膜の組成深さ分布評価 ・多層膜の界面状態評価 ・ 表面の元素・化学結合状態評価 ・ 表面の元素面分布評価 | ||
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株式会社イオンテクノセンター
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- 代表製品
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表面分析 X線光電子分光分析（ESCA・XPS）
- 概要
- 【特長】 ○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を同定し組成・化学結合状態を分析する手法。 ○絶縁物の表面分析に適しており、Arイオンエッチングによる深さ分析や10μm径のビームによる局所分析が可能。
- 用途/実績例
- ・多層膜の組成深さ分布評価 ・多層膜の界面状態評価 ・ 表面の元素・化学結合状態評価 ・ 表面の元素面分布評価
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株式会社イオンテクノセンター
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