分布測定器 - 企業ランキング(全42社)

更新日：2025年10月29日集計期間:2025年10月01日〜2025年10月28日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

会社名	企業情報	代表製品
会社名	企業情報	製品画像・製品名・価格帯	概要	用途/実績例
東朋テクノロジー株式会社	所在地愛知県従業員数 700 事業内容【産業用通信機器/インターフェイス製品】〇電力線通信装置・PLINE 〇産業用無線・各種〇多重伝送装置・TOLINE 〇リレーターミナル〇PLC変換アダプター　など【半導体検査/製造装置】〇薄膜ストレス測定装置・FLXシリーズ〇光干渉式膜厚測定装置・TohoSpec... 主要取引先	全面膜厚分布測定装置　『Full Face』応相談	・薄膜測定モデル　測定可能範囲： 50nm～20um (酸化膜換算）　用途： SiO2膜、スパッタ膜、レジスト、液膜・厚膜測定モデル　測定可能範囲： 1um～100um (酸化膜換算）　　　　用途：厚膜やフィルム等・極厚膜測定モデル　測定可能範囲：...	SiO2膜、スパッタ膜、レジスト、液膜、フィルム、ウェハ厚さの測定
東朋テクノロジー株式会社		全面膜厚分布測定装置　『Full Face』応相談	・薄膜測定モデル　測定可能範囲： 50nm～20um (酸化膜換算）　用途： SiO2膜、スパッタ膜、レジスト、液膜・厚膜測定モデル　測定可能範囲： 1um～100um (酸化膜換算）　　　　用途：厚膜やフィルム等・極厚膜測定モデル　測定可能範囲：...	SiO2膜、スパッタ膜、レジスト、液膜、フィルム、ウェハ厚さの測定
---	所在地 --- 事業内容 ---	--- ---	---	---

東朋テクノロジー株式会社

所在地

愛知県

従業員数

700

事業内容

【産業用通信機器/インターフェイス製品】〇電力線通信装置・PLINE 〇産業用無線・各種〇多重伝送装置・TOLINE 〇リレーターミナル〇PLC変換アダプター　など【半導体検査/製造装置】〇薄膜ストレス測定装置・FLXシリーズ〇光干渉式膜厚測定装置・TohoSpec...

主要取引先

代表製品

全面膜厚分布測定装置　『Full Face』

概要

・薄膜測定モデル　測定可能範囲： 50nm～20um (酸化膜換算）　用途： SiO2膜、スパッタ膜、レジスト、液膜・厚膜測定モデル　測定可能範囲： 1um～100um (酸化膜換算）　　　　用途：厚膜やフィルム等・極厚膜測定モデル　測定可能範囲：...

用途/実績例

SiO2膜、スパッタ膜、レジスト、液膜、フィルム、ウェハ厚さの測定

全面膜厚分布測定装置　『Full Face』

概要

・薄膜測定モデル　測定可能範囲： 50nm～20um (酸化膜換算）　用途： SiO2膜、スパッタ膜、レジスト、液膜・厚膜測定モデル　測定可能範囲： 1um～100um (酸化膜換算）　　　　用途：厚膜やフィルム等・極厚膜測定モデル　測定可能範囲：...

用途/実績例

SiO2膜、スパッタ膜、レジスト、液膜、フィルム、ウェハ厚さの測定
---

所在地

---

事業内容

---

分布測定器 - 企業ランキング(全42社)

すべてを閲覧するには会員登録（無料）が必要です。