反射率測定器 - 企業ランキング(全7社)
更新日: 集計期間:2025年09月17日〜2025年10月14日
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会社名 | 代表製品 | ||
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製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
![]() [XRR]X線反射率法
応相談 |
「臨界角(θc)」とは、屈折率が大きいところから小さいところに光が向かうとき、全反射が起きる最も小さな入射角のことです。 試料にX線を極浅い角度で入射させると、入射角 が臨界角より小さいときは入射したX線はすべて反射(全反射)されます。入射角を徐々に大きくしていき、入射角が臨界... | ・薄膜の膜密度評価・膜厚評価 (Si酸化膜・Low-k膜・磁性材料・金属膜・有機EL・非晶質膜などの膜密度・膜厚評価) ・積層膜の膜密度評価 ・界面層の密度評価・膜厚評価 | |
詳しいデータはカタログをご覧ください | 照明・ディスプレイの分析です | ||
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- 代表製品
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[XRR]X線反射率法
- 概要
- 「臨界角(θc)」とは、屈折率が大きいところから小さいところに光が向かうとき、全反射が起きる最も小さな入射角のことです。 試料にX線を極浅い角度で入射させると、入射角 が臨界角より小さいときは入射したX線はすべて反射(全反射)されます。入射角を徐々に大きくしていき、入射角が臨界...
- 用途/実績例
- ・薄膜の膜密度評価・膜厚評価 (Si酸化膜・Low-k膜・磁性材料・金属膜・有機EL・非晶質膜などの膜密度・膜厚評価) ・積層膜の膜密度評価 ・界面層の密度評価・膜厚評価
【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定
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- 詳しいデータはカタログをご覧ください
- 用途/実績例
- 照明・ディスプレイの分析です
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