反射率測定器 - 企業ランキング(全6社)

更新日：2025年08月20日集計期間:2025年07月23日〜2025年08月19日
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会社名	企業情報	代表製品
会社名	企業情報	製品画像・製品名・価格帯	概要	用途/実績例
株式会社渋谷光学	所在地埼玉県従業員数 23 事業内容光学部品：光学設計から金物、組み立て調整までお任せください。装置等の光学ユニット全体の設計や照明系のご相談も承ります。国内外の協力会社とも連携し、お客様のニーズにお応えします。設計から生産まで一連のノウハウを有しており、確実な結果をお届けします。顕微鏡関連：マイクロスコープユニットや対物レンズ、ミクロメーターなどの顕微鏡アクセサリーを多数取り揃えております。顕微鏡に関するお困りのことについてもお気軽にお問い合わせください。ガラス加工：単結晶材料など様々な材料を加工することが可能です。光学ガラスについてのことなら何でもご相談ください。コーニング社、ショット社、イーグル社の在庫を多種類持ち、多様なニーズにお応えします。レンズ、ミラー、プリズムの特注品製作も多くの実績があります。他社では高額になるケースでも、ぜひお問い合わせください。その他にも微細なガラス加工の技術を生かし、基準スケールやキャリブレーション用のプレート、チャートを製作しております。主要取引先オリンパス株式会社株式会社エビデント株式会社ニコンソリューションズ株式会社モリテックス株式会社菱光社コニカミノルタ株式会社株式会社ナリカ	反射率測定装置 MSP-100 100万円 ~ 500万円	測定波長：　380～1050nm 測定再現性：　±0.2％(380～450nm)、±0.02％(451～950nm)、±0.2％(951～1050nm) 試料側N.A.：　N.A. 0.12(10×対物レンズ使用時) 試料の測定範囲：　φ50μm(10×対物レンズ使用時) 試料の曲率半径：　-1R～-∞、+1R～∞ 表示分解能：　1nm 測定時間：　数秒～十数秒(サンプリング時間により異なる) 外形寸法：　(W)230×(H)560×(D)460mm(本体のみ) 使用温度範囲：　18～28℃ 使用湿度：　60％以下(結露なきこと)	微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定。
株式会社渋谷光学		反射率測定装置MSP-100 100万円 ~ 500万円	・特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。（薄板0.2mmの反射率測定が可能：×20倍対物レンズ使用時）・レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。（試料面に微小スポット（φ50μm）を結ぶ）・低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。（独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現）・色度測定、Lab*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。	・Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。・単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。・同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。
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株式会社渋谷光学

所在地

埼玉県

従業員数

23

事業内容

光学部品：光学設計から金物、組み立て調整までお任せください。装置等の光学ユニット全体の設計や照明系のご相談も承ります。国内外の協力会社とも連携し、お客様のニーズにお応えします。設計から生産まで一連のノウハウを有しており、確実な結果をお届けします。顕微鏡関連：マイクロスコープユニットや対物レンズ、ミクロメーターなどの顕微鏡アクセサリーを多数取り揃えております。顕微鏡に関するお困りのことについてもお気軽にお問い合わせください。ガラス加工：単結晶材料など様々な材料を加工することが可能です。光学ガラスについてのことなら何でもご相談ください。コーニング社、ショット社、イーグル社の在庫を多種類持ち、多様なニーズにお応えします。レンズ、ミラー、プリズムの特注品製作も多くの実績があります。他社では高額になるケースでも、ぜひお問い合わせください。その他にも微細なガラス加工の技術を生かし、基準スケールやキャリブレーション用のプレート、チャートを製作しております。

主要取引先

オリンパス株式会社株式会社エビデント株式会社ニコンソリューションズ株式会社モリテックス株式会社菱光社コニカミノルタ株式会社株式会社ナリカ

代表製品

反射率測定装置 MSP-100

概要

測定波長：　380～1050nm 測定再現性：　±0.2％(380～450nm)、±0.02％(451～950nm)、±0.2％(951～1050nm) 試料側N.A.：　N.A. 0.12(10×対物レンズ使用時) 試料の測定範囲：　φ50μm(10×対物レンズ使用時) 試料の曲率半径：　-1R～-∞、+1R～∞ 表示分解能：　1nm 測定時間：　数秒～十数秒(サンプリング時間により異なる) 外形寸法：　(W)230×(H)560×(D)460mm(本体のみ) 使用温度範囲：　18～28℃ 使用湿度：　60％以下(結露なきこと)

用途/実績例

微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定。

反射率測定装置MSP-100

概要

・特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。（薄板0.2mmの反射率測定が可能：×20倍対物レンズ使用時）・レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。（試料面に微小スポット（φ50μm）を結ぶ）・低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。（独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現）・色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。

用途/実績例

・Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。・単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。・同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。
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所在地

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事業内容

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