深さ測定器 - 企業ランキング(全10社)
更新日： 集計期間:2026年03月18日〜2026年04月14日
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| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 広波長帯域の赤外線を干渉計に導き変調する。変調された赤外線を薄膜表面に照射すると、薄膜各層の界面から（多重）反射した光は光学干渉を起こす。干渉波形（インターフェログラム）は検出器にて観察され、これをフーリエ変換し反射率スペクトルを得る。この反射率スペクトルは既存のFTIR解析技術... | 特徴 ・膜厚測定スループット: 60 枚/ 1時間 （1パラメータ測定） 5点測定（パターン認識ありの場合） ・光学系: プローブスポットサイズ：200x800 μm または 70 μm φ 使用赤外光波長： 0.9-20 μm （NIRオプションあり） ・... | ||
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日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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- 代表製品
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トレンチ深さ測定装置 IR2100
- 概要
- 広波長帯域の赤外線を干渉計に導き変調する。変調された赤外線を薄膜表面に照射すると、薄膜各層の界面から（多重）反射した光は光学干渉を起こす。干渉波形（インターフェログラム）は検出器にて観察され、これをフーリエ変換し反射率スペクトルを得る。この反射率スペクトルは既存のFTIR解析技術...
- 用途/実績例
- 特徴 ・膜厚測定スループット: 60 枚/ 1時間 （1パラメータ測定） 5点測定（パターン認識ありの場合） ・光学系: プローブスポットサイズ：200x800 μm または 70 μm φ 使用赤外光波長： 0.9-20 μm （NIRオプションあり） ・...
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日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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