膜厚測定システム - 企業ランキング(全5社)
更新日： 集計期間:2025年03月26日〜2025年04月22日
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| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
膜厚測定システム SKOP
応相談 |
測定可能膜厚範囲(nd換算)：1.5 . 70.0 μm (その他の膜厚に関してはご相談ください) 実測繰返し精度(標準偏差)： SiO2：0.001 (@ 厚み1.6 μm) Air：0.007 (@ 厚み10 μm)、0.01 (@ 厚み30 μm) Si：0.0003 (@ 厚み1.5 μm)、0.004 (@ 厚み9 μm) 測定スポット径：3.6 mm 詳しいスペックについては弊社担当までご連絡ください。 | Si、SiO2、SiN、SiC、LN、ガラス・レンズ上のコーティング膜、フィルム上のコーティング膜 | |
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オプトシリウス株式会社
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- 代表製品
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膜厚測定システム SKOP
- 概要
- 測定可能膜厚範囲(nd換算)：1.5 . 70.0 μm (その他の膜厚に関してはご相談ください) 実測繰返し精度(標準偏差)： SiO2：0.001 (@ 厚み1.6 μm) Air：0.007 (@ 厚み10 μm)、0.01 (@ 厚み30 μm) Si：0.0003 (@ 厚み1.5 μm)、0.004 (@ 厚み9 μm) 測定スポット径：3.6 mm 詳しいスペックについては弊社担当までご連絡ください。
- 用途/実績例
- Si、SiO2、SiN、SiC、LN、ガラス・レンズ上のコーティング膜、フィルム上のコーティング膜
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オプトシリウス株式会社
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