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質量分析装置 - 企業ランキング(全45社)

更新日: 集計期間:2026年02月18日〜2026年03月17日
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会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
ICP-MSは特定の質量/電荷比(m/z)のイオン強度を測定する手法です。イオン源としては一般的にアルゴンプラズマが用いられます。 アルゴンプラズマは、高周波電流の流れる誘導コイルを巻いた石英3重管にアルゴンを流すことで得られ、非常に高いガス温度、電子温度を持つため、多くの元... ・Siウエハ表面の金属汚染評価 ・薄膜中(SiO2膜など)に含まれる金属不純物量評価 ・クリーンルームの汚染評価 ・溶液中(超純水、高純度試薬)に含まれる金属不純物の評価 ・粉体やバルク(Si・石英など)中に含まれる金属不純物の評価 ・薄膜(酸化膜、金属膜など)の組成分...
一次イオン照射量を少なくすることで、表面の分子状態を保って二次イオンを発生させることが可能となります。得られた二次イオンを、飛行時間型(Time-of-Flight)質量計で分析します。 ・変色部(曇り、シミなど)、剥離部の成分評価・原因調査 ・残渣、付着物、異物(数μm以上)の有機・無機定性分析 ・処理前後の最表面評価 ・有機EL・有機太陽電池・高分子フィルムの材料及び添加剤の分布評価 ・金属薄膜の層構造評価・不純物の定性評価 ・二次電池のバインダーの...
詳しいデータはカタログをご覧ください 日用品の分析です
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  1. 代表製品
    [ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法[ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法
    概要
    ICP-MSは特定の質量/電荷比(m/z)のイオン強度を測定する手法です。イオン源としては一般的にアルゴンプラズマが用いられます。 アルゴンプラズマは、高周波電流の流れる誘導コイルを巻いた石英3重管にアルゴンを流すことで得られ、非常に高いガス温度、電子温度を持つため、多くの元...
    用途/実績例
    ・Siウエハ表面の金属汚染評価 ・薄膜中(SiO2膜など)に含まれる金属不純物量評価 ・クリーンルームの汚染評価 ・溶液中(超純水、高純度試薬)に含まれる金属不純物の評価 ・粉体やバルク(Si・石英など)中に含まれる金属不純物の評価 ・薄膜(酸化膜、金属膜など)の組成分...
    [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法[TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法
    概要
    一次イオン照射量を少なくすることで、表面の分子状態を保って二次イオンを発生させることが可能となります。得られた二次イオンを、飛行時間型(Time-of-Flight)質量計で分析します。
    用途/実績例
    ・変色部(曇り、シミなど)、剥離部の成分評価・原因調査 ・残渣、付着物、異物(数μm以上)の有機・無機定性分析 ・処理前後の最表面評価 ・有機EL・有機太陽電池・高分子フィルムの材料及び添加剤の分布評価 ・金属薄膜の層構造評価・不純物の定性評価 ・二次電池のバインダーの...
    【分析事例】染料・顔料を塗布した紙の分析【分析事例】染料・顔料を塗布した紙の分析
    概要
    詳しいデータはカタログをご覧ください
    用途/実績例
    日用品の分析です