質量分析装置 - 企業ランキング(全45社)
更新日: 集計期間:2026年05月27日〜2026年06月23日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 詳しいデータはカタログをご覧ください | 有機フィルム・日用品・食品の分析です | ||
| 詳しいデータはカタログをご覧ください | バイオテクノロジ・日用品の分析です | ||
[SIMS]二次イオン質量分析法
応相談 |
酸素やセシウムなどのイオン(一次イオン)を試料表面に照射すると試料表面近傍の原子は攪拌され、一部が真空中に飛び出してきます(スパッタリング)。 飛び出してきた粒子のうちイオン(二次イオン)を質量分析することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行います。 | ・構成元素の評価 ・汚染や不純物の評価 ・深さ方向への元素分布評価 ・元素の二次元分布・三次元分布評価 ・各種金属材料・無機材料・炭素材料・有機材料の評価 | |
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- 代表製品
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【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析
- 概要
- 詳しいデータはカタログをご覧ください
- 用途/実績例
- 有機フィルム・日用品・食品の分析です
イオン化法ESI・APCIによる検出成分の違い
- 概要
- 詳しいデータはカタログをご覧ください
- 用途/実績例
- バイオテクノロジ・日用品の分析です
[SIMS]二次イオン質量分析法
- 概要
- 酸素やセシウムなどのイオン(一次イオン)を試料表面に照射すると試料表面近傍の原子は攪拌され、一部が真空中に飛び出してきます(スパッタリング)。 飛び出してきた粒子のうちイオン(二次イオン)を質量分析することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行います。
- 用途/実績例
- ・構成元素の評価 ・汚染や不純物の評価 ・深さ方向への元素分布評価 ・元素の二次元分布・三次元分布評価 ・各種金属材料・無機材料・炭素材料・有機材料の評価
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