回転プローブ(Turn Probes)
回転プローブ(Turn Probes)
プローブ先端を40°〜70°回転させることによって、フラックスや酸化皮膜の多い鉛フリーはんだのパッドにも確実にコンタクト出来るプローブです
- 企業:テスプロ株式会社
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年10月08日~2025年11月04日
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回転プローブ(Turn Probes)
プローブ先端を40°〜70°回転させることによって、フラックスや酸化皮膜の多い鉛フリーはんだのパッドにも確実にコンタクト出来るプローブです
4端子法プローブ(Kelvin Probes)
微小抵抗値を正確に測定するために電流、電圧測定用の2本の端子を一本にまとめたコンタクトプローブです。
プッシュバックテストプローブ(Push Back Probes)
接触子(プランジャ)先端が測定ターゲットの形状によってバックすることで、良不良判別ができるプローブです。
ステッププローブ(Step Probes for Position Testing)
種々の先端形状と寸法を取り揃えており、ワイヤハーネスやコネクタのピン挿入の良否判別にも使える、プローブです。
多方向測定メカニズムの特性を持った万能赤外線タッチプローブ
多方向測定メカニズムの特性を持った万能赤外線タッチプローブ 【特長】 ○全方向プローブ:φ63 mm ○最大計測速度:3m/分 ○繰り返し精度:1μm2σ ○高加速度・高計測速度 ○信頼性の高い赤外線データ通信 ○大量のクーラントと劣悪な環境下でさえ証明されたタッチ特性 ○低電力消費 ○長期安定を維持する磨耗の無い測定メカニズム ○頑丈なデザイン ○他のブルーム測定機器と赤外線レシーバが共有可能 ○自動調芯スタイラスにより、交換後の芯出し作業不要 ○耐塵耐水性IP68 ●詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。
あらゆるタイプの工具長測定を高速、高精度かつ自動で行うプローブ
あらゆるタイプの工具長測定を高速、高精度かつ自動で行うプローブ 【特徴】 ○工具長測定、工具折損検出 ○機械熱変位補正(1軸) ○測定工具最小径:0.5mm/HP 0.1mm ○繰り返し精度:0.5μm 2σ/HP 0.1μm 2σ ○磨耗の無い光学式信号発生方式により長寿命 ○コンパクトで頑丈な設計 ○脆くて小径の工具でも測定可能 ○本体のLEDで信号検出確認 ○簡単な操作性 ●詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。
ワーク表面のアナログスキャンにより加工不良を素早く、そして確実に検知
デジログ革命- BRC電波通信技術。ワイヤレスタッチプローブTC64-DIGILOGは、まさにデジログ革命であり、特にマシニングセンター、旋盤に適しています。ワーク表面のアナログスキャンにより加工不良を素早く、そして確実に検知します。BRC電波通信技術は、外部評価ユニットに測定したステータス信号を無線で送信します。また、このシステムはTC63-DIGILOGのモジュラーバージョンとしても利用できます。 【特徴】 ○セットアップ時間の減少 ○無人化の実現 ○スクラップ率の減少 ○生産性の向上 ○製品の高品質化 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
EMSイミュニティ試験でNGとなった場合、電磁波がどこから侵入したかを評価することが可能(不具合解決のヒントが得られます!)
MT-676シリーズ 局所電磁波照射プローブ ・車載電子機器開発会社様、EMCコンサルティング会社様でご採用 ・イミュニティ試験でNGとなった場合、解決ヒントを得ることが可能 ・不具合につながる脆弱性部品・回路の特定(推定) ・トラッキングジェネレータ付きスペアナを信号源に使用 ・外部からの電磁波侵入の周波数プロファイルを一気に取得可能 ・不具合の発生の原因を電界/磁界に分離可能 本製品はもともと、「暗号セキュリティ サイドチャネル攻撃,フォールト攻撃」「実装攻撃に対抗する 耐タンパー技術」の研究用として開発した製品になります。国内外の大学・研究機関に広くご採用いただいております。(フォールト攻撃の一つに「電磁波照射」による誤動作から暗号が解読される「脆弱性」の評価に使われます) ElectroMagnetic Analysis and Fault Injection(EM Injection) onto Secure Circuits
生産終了されたオリンパス社のOMCLシリーズと同等の品質の代替品をお探しの方へ!最も汎用的なAFMプローブ/カンチレバーです。
当製品は、生産終了されたオリンパス社のOMCL-AC160TSと同等品です。そのため、従来のオリンパス社製のAFMプローブと同様にご使用いただけます。 <SPM-AC160S-ASの特徴> 1. 高分解能測定 高いQ値、300 kHz(Typ.)の共振周波数およびバネ定数26 N/m(Typ.)の柔らかさを両立。これにより、試料へのダメージを最小限に抑え、高分解能な試料表面の凹凸測定および高感度な位相測定が可能。 2. 安定した先端構造 尖鋭化処理および従来のプローブの製造経験による安定した鋭利な探針。テトラヘドラル型の採用により、光学顕微鏡が組み合わさったSPM装置で測定する際に、試料と探針の位置関係を確認できるため、正確な位置調整が容易。
生産終了されたオリンパス社のOMCLシリーズと同等の品質の代替品をお探しの方へ!最も汎用的なAFMプローブ/カンチレバーです。
当製品は、生産終了されたオリンパス社のOMCL-AC240TSと同等品です。そのため、従来のオリンパス社製のAFMプローブと同様にご使用いただけます。 <SPM-AC240S-ASの特徴> 1. 粘弾性の測定や柔らかい試料に対応 ダイナミックモード(タッピングモード)用としては小さいバネ定数の機械特性を持つため、試料と探針間の荷重を小さく抑えられます。そのため柔らかい試料の形状および粘弾性の測定に適しています。 2. 安定した先端構造 尖鋭化処理および従来のプローブの製造経験による安定した鋭利な探針。テトラヘドラル型の採用により、光学顕微鏡が組み合わさったSPM装置で測定する際に、試料と探針の位置関係を確認できるため、正確な位置調整が容易。
生産終了されたオリンパス社のOMCLシリーズと同等の品質の代替品をお探しの方へ!最も汎用的なAFMプローブ/カンチレバーです。
当製品は、生産終了されたオリンパス社のOMCL-AC55TS(背面金コート)と同等品です。そのため、従来のオリンパス社製のAFMプローブと同様にご使用いただけます。 <SPM-AC55S-GSの特徴> 1. メガヘルツ領域の高共振周波数による高速測定 高い共振周波数によりスキャン速度が向上し、画像取得時間の大幅な短縮が可能です。 2. 低熱雑音カンチレバーで実現する高分解能測定 高い共振周波数と85 N/m(Nominal)の高いバネ定数を持つカンチレバーにより、熱雑音を抑えた高分解能測定が可能です。 特に、液体・固体界面の測定への応用が期待されます。 他レンジの背面金コート品も販売中。