更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
16～30 件を表示 ／ 全 121 件
メタルハライド照明装置 HC-M265
265W新技術メタルハイドランプ搭載！ メタルハライド照明装置 【特徴】 ○リップル±1％以下 ○デジタル照明・ランプ寿命表示 ○光照射強度：4000Lm ○色温度：7500K ○NA（開口率）選択可能 ○入力電源：AC85〜240V 50/60Hz ○使用ランプ：C265Wショートアークメタハラランプ/形式NTP-265 ○消費電力：310W ○ランプ寿命：約2000時間(光量が初期値に対し40%低下時) ○冷却方式：強制ファン冷却 ○使用環境：温度 +5〜+35℃(湿度70%以下) ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
メタルハライド照明装置 HC-M210
210W新技術メタルハイドランプ搭載 メタルハライド照明装置 【特徴】 ○リップル±2％以下 ○デジタル照明・ランプ寿命表示 ○光照射強度：3500Lm ○色温度：7500K ○入力電源：AC80〜240V 50/60Hz ○使用ランプ：DC210Wショートアークメタハラランプ/形式NTP-210 ○消費電力：290W ○ランプ寿命：約2000時間(光量が初期値に対し40%低下時) ○冷却方式：強制ファン冷却 ○使用環境：温度+5〜+35℃(湿度70%以下) ○外形寸法：W159 x D352 x H200(mm) ○重量：約5.5Kg ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
850nm,950nmといった近赤外線を照射、均一な面光源
本シリーズは近赤外線LEDを採用した光源装置です。 高拡散光、又はカメラ等の評価に最適な面光源タイプ 対象物を照らすための照明タイプ をご用意しております マイコンを搭載することで、外部通信制御に対応可能です。 対象機種 VLB-4IRシリーズ SOL-300IRシリーズ 選択できる波長を複数ご用意しており カスタムにも対応します。 SWIR領域の製品もございます。
【自社製品】あらゆる機能を搭載した万能型光源装置
■レーザのピンアサインを選ばす、基本的にどのレーザにも対応 ■温調機能付き：0℃～50℃の範囲で温度設定可能 ■駆動方式：APC／ACC(都度選択可) ■レーザ駆動電流値：～5Aクラス ■PROTECT機能付き ■レーザの駆動電流リミットを容易に設定できる ■設定温度・作業温度・消費電流値・レーザリミットがデジタル表示される ■FC・SC・SMAコネクタ他、コネクタ付きファイバケーブル出しも可能 ＊用途・希望仕様に合わせてカスタム製造可能です
超高圧水銀ランプを光源に使用した簡易的な露光装置です
『UVL-3』は、卓上型のUV露光器です。 主にガラス基板等を使用するフォトリソグラフィ工程において、 露光焼付けを手軽に行うことが可能。 カラー液晶と十字キーを装備し 照射時間を正確にコントロールします。 【特長】 ■フォトリソグラフィ工程における簡易露光焼付装置 ■卓上型・一体型のため省スペース ■マイコン搭載により、照射時間を正確に制御 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光配線基板用多チャンネルポリマー光導波路の量産検査用光導通検査装置
『光テスター（光配線導波路高速導通検査装置）』は、光配線基板用の 多チャンネルポリマー光導波路各チャンネルの導通を高速・高精度で検査する装置です。 測定光一括照射方式と高速導通検査ソフトウエアにより、複数チャンネルの 光導波路の光導通を一度にかつ迅速に測定することが可能です。 これにより、従来のファイバ調芯による損失測定方式では実現できなかった 光配線導波路量産段階における高速光導通テストが可能となりました。 【特長】 ■測定光一括励振方式による無調芯・高速測定 ■測定光一括励振光源ユニット・高N.A.検出光学系・高速画像処理アルゴリズムにより、 量産検査にも対応可能な高速・高精度・高再現性高速導通・相対損失測定 ・専用ソフトウエアにより光導波路の導波伝搬信号のみを抽出・処理・判定 ■電動ステージとの組み合わせによるデフォーカス測定モード・測定の自動化にも対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
太陽電池のセル・モジュール評価・検査用光源装置
太陽電池の検査用擬似光源で、光源部に高演色高輝度LEDを使用しており、高速安定ON/OFF・高寿命・小型軽量の擬似光源です。 照射強度は、光センサーでフィードバック制御されているので安定した強度が得られます。 光源部の制御は、1000W/n2固定と手動が有り、1000W/m2は内部で1000W/m2に判固定調整され、手動は装置のパネルのボリュームで調整します 【仕様により、セルやパネルの大きさに合わせた光源や、機構部の設計作成も可能ですので、こ用命下さい。】
可視光から近赤外まで照射できるハロゲン光源です。
シャッターを標準装備した、可視から近赤外まで光を照射できるハロゲン光源です。 外部制御用にRS485コネクタを装備。離れた場所から本装置を操作でき、複数台の光源装置などをデイジーチェーン接続することも可能です。 また、内蔵の減光板によって光量を調整するので、色温度を変化させることなく光量調整ができます。
照度アップとサイズダウンを実現！軽量コンパクトで装置組込に好適なLED光源
『LLBKシリーズ』は、メタハラ、ファイバー用光源の置き換えに好適な コンパクト設計のLEDライティングBox(LED光源)です。 従来製品に比べ小型ながら、光量が25％アップしており、 装置組込みに適しています。 鋼板検査、ガラス検査、シート検査、エッジ検査、画像処理用、目視検査用、 ラインセンサー用、エリアセンサー用などにご使用いただけます。 【特長】 ■軽量・コンパクト設計の為、装置組込に好適 ■約25％照度アップと、大幅なサイズダウンを実現 ■白・赤・緑・青、UV（365nm、385nm、405nm）を標準ラインアップ ■電源供給 DC24V（標準）、ACアダプター（オプション）の選択が可能 ■集光可変レンズを搭載した、スポット仕様もご用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
小型マイクロフォンアレイにカメラを搭載！最小1cmでの可視化を実現します
『音源可視化装置－高分解能版』は、最小分解能1cmを可能にした装置です。 小型マイクにカメラを搭載した小型版マイクロフォンアレイを使い、 より高密度に音を可視化。小型モータやギア接地面の可視化など、 今まで難しかった小型デバイスの可視化を実現します。 更に、広角小型カメラを搭載しているため、音の発生場所もその場で 確認可能。25fpsのリアルタイム処理で、突発音・移動する音・ 変化する音の可視化もできます。 【特長】 ■最小1cm分解能を実現 ■カメラ搭載小型マイクアレイ ■突発音・移動/変化する音の可視化 ■再生ソフトも標準梱包 ■カスタマイズ可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パルスモード、CWモードに対応。レーザ装置の微細な出力コントロールが可能です
『NCL-151』は、タッチパネルプロコンで遠隔操作、簡単設定ができる レーザコントローラです。 アナログ入力でレーザパワー制御可能なレーザ装置に接続する事で、 レーザ波形を任意に設定・制御することが可能。 PCLとも接続すればレーザ加工装置のシステム化を容易に行うことが 可能で、簡単な操作でレーザーに関する細かな条件設定を行えます。 【特長】 ■最大32条件の波形登録 ■20ポイントのパルス折線波形 ■繰り返し周波数、パルス数を任意設定 ■出力は0.01ms毎に設定可 ■フェードイン・フェードアウト機能 ■外部I/Oで自動機等のシステム構築 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
【Webデモ実施中】見えないものが見えてくる！クリーンルームや製造装置の粒子や気流を可視化
微粒子可視化システムとは、目に見えない微粒子を、専用のカメラとレーザー照明により、映像としてリアルタイムに可視化し録画することができるシステムです。 実験環境だけでなく、お客様の現場でご使用いただけるように、当社技術スタッフの1000件を超える評価サービスを通じて得たノウハウを結集し、これまでにない十分な感度と操作性を有するシステムです。 金属 / プラスチック / 樹脂 / フィルム / 半導体 製造現場で活躍 【詳しくはカタログをダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください】
動体解析、流体解析、衝突実験等の高速度撮影に対応！蛍光灯などの下での撮影時に生じるチラつき(フリッカ）を防ぐフリッカレス機能付き
250Wメタルハライドランプながら高照度を実現したフリッカーフリー照明装置です。 ハイスピードカメラ等高速度撮影に適しています。 【特長】 1.電源内蔵型ですので煩わしい配線がありません。 100Vのコンセントがあればどこでも使用可能です。 2.調光機能付です。 3.3種類のレンズを付属しております。 ※仕様詳細はPDFをダウンロードしてご覧ください。導入の際はお気軽にご相談ください。
明るさ3倍。コンパクト化と高照度を両立！
次世代型LED光源が新登場。従来機より約3倍の照度を発揮しながら大幅なコンパクト化を達成しました。ハロゲン光源からの置き換えはもちろんのこと、通常のLED照明では実現できない明るさにも対応可能です。
電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム
『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステムです。 また、セミオートプローバとの組み合わせにより、ウエハの自動測定に対応することも可能です。 【特長】 ■発光素子・受光素子のさまざまな電気・光学特性測定をウエハレベルで測定可能 ■各種測定の自動化・高速化・省力化を実現 ■当社製光計測用光学系M-Scopeシリーズ各種光学系を搭載可能 ■光計測・解析ソフトウエアOptometrics Customized Versionを搭載 ■個別素子の測定からインライン使用まで幅広く対応可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
