光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！
『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系（簡易型NFP計測光学系も使用可能） を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビーム プロファイル計測・解析に使用することができます。 また光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで さまざまなシステム構築が可能です。 【特長】 ■高機能NFP計測光学系 M-Scope type Sを使用 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、 さまざまな光デバイスの計測・解析が可能 ■低価格でシステム構築も可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【応用】 ■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測 ■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測 ■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■光配線導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■各種光モジュール・光学モジュールのNFP計測・ビームプロファイル計測 ■GI型マルチモード光ファイバのエンサークルドフラックス計測 ■その他、可視~近赤外域の汎用ビームプロファイル計測一般 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術・センサ技術・エレクトロニクス・ソフトウエア・精密機構技術を融合したユニークで新しいセンサ・電子光学機器の創造を目指しています。当社では、光学設計・光センサ・光源・光モジュール・計測システム設計の各分野で多くの経験と実績を有するエンジニアが、お客様のご要求仕様を分析し、最適なソリューションをご提案させていただきます。また、お客様のご要求仕様に基づく光学系や光学システムをカスタムで設計・製作させていただくことも可能です。
