絶対光散乱強度からの粒子濃度測定
粒子径が異なるポリスチレンラテックスの粒子濃度測定
光の波長より十分に小さい粒子によって散乱される光はレイリー散乱と言われており、この領域の大きさのサンプルの絶対散乱光強度を単一粒子からの散乱光強度で除算することで、粒子濃度が算出されます。 今回、粒子径の異なるポリスチレンラテックス(28nm ~ 2900nm)分散液の絶対散乱光強度を求め、理論式より粒子濃度の算出を試みました、 レイリー散乱領域を超えた大きさまで粒子濃度の評価可能であることがわかりました。また、1μm以上になると測定値から乖離する結果となっています。
- 企業:大塚電子株式会社
- 価格:応相談