大塚電子の企業情報

ラインスキャン膜厚計は非接触でかつ高精度で全面膜厚測定を実現し、製品開発プロセスや品質管理の効率化に大きく貢献します。 ラインスキャン膜厚計の原理、特長および工業分野におけるアプリケーション事例についてご紹介いたします。

高品質・高機能なフィルムを製造するためには、光学特性の測定および品質評価をもとに最適な製造条件を構築することが欠かせません。本セミナーでは、当社の光を用いた測定技術を通じて、機能性フィルムや塗布剤の光学特性、面内均一性、表面改質、および分散性を評価し、高付加価値なフィルムを製造・開発する手法をご紹介します。

本セミナーでは、外部講師に東京理科大学薬学部 准教授 草森 浩輔 先生をお招きし、「波動場三次元顕微鏡を用いた培養細胞の観察とその応用」というテーマでご講演いただきます。 近年、ラベルフリーによる細胞観察技術は生命科学研究において注目を集めている。従来の蛍光標識を用いた方法は有用である一方、標識操作に伴う細胞機能への影響や長期観察の制限が課題とされてきた。光波動場三次元顕微鏡（3D-OWFM）は、光の波動性を利用して物質内部構造を非侵襲的かつ高精細に可視化できる新しい顕微鏡であり、これまで主に工業材料として用いられるプラスチックフィルムなどの傷や異物の検出や解析に応用されてきた。 我々は、大塚電子株式会社製3D-OWFM（MINUK）を用いることでラベルフリーで生細胞の形態や構造を観察可能であることを実証し、そのバイオ実験における有用性を評価してきた。 本講演では、これまでの研究成果を紹介するとともに、3D-OWFMによるバイオ実験へのさらなる応用可能性について議論する。