更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
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接触することなく変位を高精度に測定。一切損傷や負荷を与えることなく、各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能です。
〇ナノメートル・サブナノメートルの精度を実現。 MicoSenseの独自技術による静電容量での高い温度特性・高安定性・高分解能・優れた直線性の実現。 〇被測定物に一切損傷や負荷を与えず測定。 接触することなく各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能。 〇目的やアプリケーションのに応じてた使用が可能。真空や非磁性対応の製品も含めさまざまなモデルをラインナップ。 MicroSense LLC独自の技術により開発された静電容量型変位センサです。 ■測定フルスケール：±5μm～4500μm、±15μm～250μm、±25μm～500μm ■出力分解能：最高0.0005%FS以下、最高0.001%FS以下、最高0.002%FS以下 ■出力直線性：最高0.02%FS以下、最高0.03%FS以下、最高0.1%FS以下、 ※詳細はPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせ下さい。
磁気をベクトルとして計測可能！実験用途に好適なシンプルモデルなど豊富に掲載
株式会社アイエムエスは、SENIS製品の販売、サポート、カスタム対応から、 OEM製品の開発、製作、販売を行っています。 当ガイドでは、3軸テスラメーター「3MH3」や、3軸アナログ磁界変換器 「F3A」、3軸磁気プローブ「TP-240」など豊富にご紹介。 この他、高度な磁界測定技術を応用し、直線性・絶縁性に優れた電流センサ なども多数掲載しておりますので、ぜひ、ダウンロードしてご覧下さい。 【掲載製品（抜粋）】 ■3軸テスラメーター 3MH3 ■3軸アナログ磁界変換器 F3A ■3軸磁気プローブ TP-240 ■マグネットアナライザー MAPPER ■電流センサ CS-03 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カビ指数とは、カビの発育環境を定量的に表すもので、カビ汚染を予測する指数である。
室内がカビの発育できる環境を保っている場合、居住者はカビ汚染が目に見える状態になってはじめて気付く。そして気付いた時には、すでに汚染部分からカビ胞子が室内に飛散している。カビが発生する環境であるかどうかを未然に知ることができれば、カビによる被害を受ける前に対応できるはずである。 そこで生きているカビそのものを環境のセンサに使い、その発育速度から環境を定量的に表示する方法を開発し『カビ指数（fungal index）』と名付けた。筆者はカビ指数を用いた環境調査を続けている。
金属材料の残留応力の測定が現地で容易に！持ち込み試験片の測定にも対応可能
『X線残留応力測定』は、小型～大型の構造物まで、“溶接線近傍の残留応力”や “ショットピーニングの効果”、“静的応力の検出”などを、「現場で」 「非破壊で」測定することが可能です。 鉄道をはじめ、橋梁や道路建築現場など、活用フィールドは様々。測定は 高速で行え、視覚的に結果を確認できます。 測定を実施することで、“損傷や変形などの原因究明”や“工程管理の検討”、 “改善するため適切な条件を選定”などが行えます。 【特長】 ■金属材料の残留応力の測定が簡単にできる ■非破壊で測定可能 ■測定が高速で行える（炭素鋼 約90秒） ■試料のセットが容易 ■視覚的に結果を確認できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定コストを低減！事前のサンプル加工が不要で開発サイクルを短納期化・単純化！
『MDR 3000 プロフェッショナル』は、20°までのオシレーション振幅、 0.001Hzから33Hzのオシレーション周波数でゴムコンパウンドを試験する ローターレスレオメーターです。 エラストマー及びゴムコンパウンドの加硫前/中/後の粘弾性を測定するように 設計。一台でフルレンジのレオメーター項目を試験できます。 分析ソフトウエア「モンコントロール」と組み合わせることでユーザーの 仕様に合わせたプログラム・任意の試験シーケンスを柔軟に構成します。 【特長】 ■バッチリリースの短納期化 ■品質管理データ、加硫状態、加硫特性などを一試験で評価可能 ■不良品・歩留まりの改善 ■加工プロセスの効率向上 ■分析ソフトウエア：直感的でシンプルな操作性なので経験値は必要なし ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ドイツ dk FIXIERSYSTEME社 特に非接触三次元測定機に特化したフィクスチャーSCHIENENFIXが非常に便利です
接触／非接触 三次元測定機用フィクスチャーシステムです SWA39 － 簡単交換のテーブルを使い少量多品種を切り替えて SPANNFIX PRO/ECO － 大型／小型三次元測定機用 QUADEREIX － 縦型固定用 SCHIENENFIX － 非接触三次元測定機専用 MICROFIX － 極小ワーク固定専用 非常に多彩なクランプで、ワーク位置決めの再現性を高めます。 ヒートガンなどでの固定や、粘土では、再現性は望めません 測定の基本は、固定から
全視野を数秒で一括撮影ができるため、撮影中の温度変化が少なく、急速な昇・降温条件が対応可能！
当社は、リフロまたは熱サイクルなどの温度条件下で、3次元画像を基に Z軸方向の反り・変形を計測・解析します。 測定システムは、プロジェクションモアレ式(モアレパターンをサンプルに 直接投影し非接触で計測のこと)が採用されることで測定精度が高く、 プロセス開発や故障解析、そして信頼性・品質管理の領域において 幅広く対応できます。 ご用命の際は当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■高速度・量産性 ■氷点下測定可能 ■優れた温度制御 ■熱膨張係数(CTE)同時測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
静電容量技術と渦電流技術を使用する非接触センサは長所と短所を持ってます
静電容量技術と渦電流技術を使用する非接触センサはそれぞれ、さまざまなアプリケーションに応じて、特有の長所と短所を併せ持っています。この観点で2つの技術を比較すると、アプリケーションに最も適した技術を選択するために役立ちます。静電容量センサは検出のために電界を使用します。こうした電界は、プロープと測定ターゲットの間にあるあらゆる材料に敏感です。このため、静電容量センサは清潔で乾燥した環境で使用する必要があります。渦電流線さは検出のために磁場を使用します。磁場は測定領域にある湿気を持つ材料（液体および小粒子）に敏感ではありません。このため、渦電流センサは濡れて汚れている環境で役に立ちます。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
TG-DTAでお客様の知りたい情報によって測定雰囲気など適切な条件を選定して測定します
示差熱熱重量同時測定装置（TG/DTA）では試料の酸化、熱分解、脱水等による重量変化、耐熱性の評価、反応速度の分析が可能です。 この事例では「TG-DTA 測定における雰囲気の影響」を紹介します。 我々はお客様から状況をお聞きして適切な測定雰囲気を提案しますが、その背景となります。 本比較を活用すれば樹脂で”その試料そのものが燃焼しているのか”、”その試料から放出されたガスなのかの切り分けも可能です。 弊社はTG/DTAの他、DSC、TMAの各種熱分析も強みとしております ●DSC： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TMA： 試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用できます 熱分析についての事例は以下をご覧ください。 https://www.seiko-sfc.co.jp/case/index.html ※その他資料の準備もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か？」 はんだ内部に潜む問題を検証します
電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・微小領域での結晶粒径、相構造に関する分析 ・実装部などの微小部における残留応力の評価（約50μｍでの解析事例あり） 本事例では 【EBSD】はんだ断面の内部歪み測定 を紹介しています。 EBSDで熱衝撃試験による”はんだ内部の歪みの変化”が確認できました。 この測定技術は、はんだの条件違いや経年劣化による不具合の発生時、事前の不具合予想に応用できます。 ぜひお試しください。 また、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料も多数あります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
めっき液の分析に不可欠な添加剤濃度測定！ 添加剤二成分・三成分に対応（抑制剤・促進剤・レベリング剤） 大手添加剤メーカーに対応！
PWB・Wafer・その他電子部品用めっき液はもちろん、 配線めっき・Viafill・Damacine・Bumpなどの各種メッキに対応。 回転数のレンジを広げることで、より多くの新規添加剤を分析できます。 また、“Get Me Expert”機能により、現場サポートへすぐに連絡可能。 全世界のケミカルメーカーが市販している添加剤に対応しています。 【特長】 ■ ＰＷＢ・Ｗａｆｅｒ・その他電子部品用めっき液に対応 ■ 配線めっき・TSVめっき・Viafill・Damacine・Bump等の各種めっきに対応 ■ シリンジが最大4つになり多様なサンプル分析が可能 ■ 最大42サンプルまで自動分析が可能（V30モデル） ■ SE液や校正標準液の調製を自動化 ■ 多言語対応 ■ ガルバノスタット内蔵 ■ 参照電極のメンテナンス性向上 ■ 下記ケミカルメーカーの添加剤に対応 アトテック/石原ケミカル/上村工業/奥野製薬工業/ダウ・ケミカル/マクダーミッド/メルテックス/ADEKA/EEJA/JCU etc. ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非開放タンクでのレベル測定、特に極低温アプリケーションに最適
用途 ・非開放タンクでのレベル測定、特に極低温アプリケーションに最適 ・フィルターの目詰まり監視 ・ポンプの監視並びに制御 ・高度に粘性でない気体および液体 特徴 ・差圧測定の範囲は0〜80mbar〜0〜1725mbarです ・50 barの高い作動圧力（静圧） ・最大50 barの過圧の安全 ・非常にコンパクトなデザイン ・オプションで、作動圧力表示付きバルブマニホールドを付加可能
多くの製薬会社などで導入！PIC/S対応の清浄度監視システムも提案！資料進呈中
当社では、BECKMAN COULTER（ベックマンコールター）社の 『MET ONE 気中パーティクルカウンタ』をご提供しています。 測定する清浄度や測定粒径、目的に応じたモデルを取り揃え、 製薬、ライフサイエンス、電子工学、航空宇宙、食品、半導体、精密機械など 幅広い分野で多数導入されています。 【特長】 ■光散乱方式を採用した微粒子測定 ■ハンドヘルド、ポータブルなど豊富な測定機器のバリエーション ■測定粒子径が幅広く、２粒径監視もOK。PIC/S GMPに対応 ■測定機器に合わせ、日本語に対応した監視システムも提案可能 ただ今、「微粒子測定の基本」「パーティクルカウンタの選び方」などがわかる 小冊子をダウンロードで進呈中！お問い合わせもお気軽にどうぞ。
電磁ノイズの発生源をどこまで特定できますか。
１．世界唯一！ 近傍電界・磁界の同時検出、連続測定を実現 （EMV-200） ２．高感度・高分解能測定が可能 ３．プローブ回転による配線方向によらない磁界測定の実現 ４．多機能な測定結果表示 ５．高精度なプローブ移動機構 ６．便利な機能 ７．多様なプローブが使用可能 ８．多くの企業での採用実績 ● EMIテスタは、電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を高精度に自動測定します。 ● 高精度可動テーブルは、PCBやIC等に複雑な凸凹があっても、その形状を自動的にトレースし、高感度に測定します。 ● 測定したデータは、多彩な3Dグラフィックスで可視化します。（専用の解析ソフトが付属されています。）
水銀透過法の概要及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 サステナブルな社会の実現において、優れた透過性能を持つ膜による省エネで低コストな分離・精製技術の開発がエネルギー、半導体、医療など様々な分野で期待されている。膜の透過性能は細孔構造に支配されるため、高度化した細孔構造を評価するための技術が重要となる。ここでは、東レリサーチセンターが独自に開発した水銀透過法の概要、及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。 【目次】 １. はじめに ２. 水銀透過法の概要 ３. 水銀透過法を適用した事例 ４. まとめ
