更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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発光層のゲストの定量・膜厚評価が可能
有機ELディスプレイは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点を活かし実用化が進みつつあります。発光層では発光効率を高めるために、ホスト分子中にゲスト分子がドーピングされています。今回、有機EL表示素子において赤色画素の発光層材料の同定を行いました。また、新規に段 差計を用いた発光層の膜厚評価や発光層中におけるゲスト材料の定量を行いました。発光層中のゲスト分子の定性・定量ならびに発光層の膜厚の評価が可能となりました。 測定法：TOF-SIMS・TEM・XPS 製品分野：ディスプレイ 分析目的：組成評価・同定・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします！
株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属および金属化合物の硬さや脆さなどの性能比較、変色の不具合がなぜ起こっているかを把握できます
電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では 【EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 を紹介しています。 EBSDで2相ステンレスにおいて、α 相とγ 相の分布割合と結晶方位が確認できました この測定技術は、金属や金属化合物における材料の分布で硬さ脆さなどの性能比較、析出具合を検出して色への影響把握に活用できます。 ぜひお試しください。 また、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析を行っており多面的に解析分析を行えます。 技術者が直接対応できますので、お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/
STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表面を保護するサンプリング法”により損失なしで確認可能です
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「STEMによるAuめっきされたコネクタ端子接点不良解析」 を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本STEMに加えTEM、SEM各種断面解析を行っております。 お気軽にご相談いただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜形状や層構造を確認でき半導体の不具合原因究明に応用できます
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 加えて以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」 を紹介しています。 本事例は問題なしの結果でしたが、異常検出も可能です。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本STEMに加えFIBとの併用で、試料のある領域に対して3D構築を行う不良個所特定も得意としております。 実際に紹介いたしますのでお気軽にお声がけいただければ幸いです。 セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。
パナソニックReRAM搭載MN101LR05D 8bitマイクロコントローラ
MN101LR05Dはポータブルヘルスケア、セキュリティ装置、センサー処理用と向けに開発された低消費電力の8bitシングルチップマイクロコントローラです。MN101LR05DはCPUコアが10MHz 8bitのAM13Lで６４KBのReRAM容量と４KBのSRAM容量を特徴としています。 MR101LR05Dは世界初の量産化されたReRAM(Resistive RAM:抵抗変化型メモリー）の実用例であり、既存の不揮発性メモリーの後継技術として多く活用されるとみられています。 MN101LR05Dは180nm CMOSプロセスに４層のAIメタライゼーションを使用して製造されています。この金属酸化物のReRAMセルはメタル3から４に接続するスタックWビアの間に形成されます。 レポートの結果は走査型電子顕微鏡（SEM)、透過型電子顕微鏡（TEM)、エネルギー分散型X線分析（TEM-EDS）、電子エネルギー損失分光法（TEM-EEKS）、および拡がり抵抗測定（SRP)のデータによるものです。
ヒト細胞株の同定や認証・同種細胞株内のクロスコンタミネーションの検出に！
当社では、細胞株の認証（STR分析）受託解析サービスを行っております。 ヒト培養細胞由来サンプルより、STR（short tandem repeat）遺伝子型を決定します。 GenePrint(R)System(10ローカス)、あるいは PowerPlex(R)16 System(16ローカス)を使用。 ヒト細胞株の同定や認証、同種細胞株内のクロスコンタミネーションの検出に ご利用ください。 【特長】 ■ヒト培養細胞由来サンプルより、STR遺伝子型を決定 ■ヒト細胞株の同定、認証および同種細胞株内のクロスコンタミネーションの 検出に適しているGenePrint(R)Systemを使用 ■iPS/ES細胞の遺伝子型の確認に適している PowerPlex(R)16 Systemを使用 ■ご希望のお客様には論文投稿用に無償で英語の報告書をご用意可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
不要な放射を捕捉し分析するための重要な機能を実装。
R&S RTO/RTE デジタル・オシロスコープは、電子設計におけるEMI問題を 分析する貴重なツールです。 高入力感度、高ダイナミックレンジ、強力なFFT実装は、不要な放射を捕捉し 分析するための重要な機能です。 【アプリケーション】 ■簡単セットアップ ■広い捕捉帯域幅と周波数領域での分かりやすいナビゲーション ■スペクトルコンポーネントの色分けされた表示による、 オーバーラップFFTの実装 ■相関時間 - 周波数解析のためのゲートFFT ■周波数マスクを使用した散発的なイベントの捕捉 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
連続繊維強化樹脂の多軸荷重に対する、積層ごとの疲労強度解析が可能です
FEMFAT laminateは、連続繊維強化樹脂の疲労解析を行うためのモジュールです。（ChannelMAXで利用可能）。 MAXモジュールの中で積層ごとの疲労強度評価を個別に実施できます。 積層材料の各積層の表側と裏側が、ダメージ計算の対象です。 解析手法は“Critical Component in Critical Plane”の応力種類を積層材料に適合したもので、繊維の破断と繊維中間層の破断を評価します。 さらに、ソリッド要素モデル（通常は8節点の六面体要素）を使用する場合、デラミネーション（層間はく離）も評価できます。 ダメージ計算には、静的強度特性（引張強度と圧縮強度）と疲労強度特性（S-N曲線）が、 繊維に対して平行方向と直角方向の荷重と、積層面のせん断方向の荷重に対して必要です。 Abaqusのinpファイルとodbファイルによる、COMPOSITE特性を定義したシェル要素とソリッド要素をサポートしています。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
AIFEM内のメッシュ作成ツールにてメッシュモデルを作成！ソフトウェアの有効性を示す結果に
このケースでは、構造解析ソフトウェアAIFEMを用いた タービンロータのモーダル解析と静解析について紹介します。 AIFEMによる解析結果は参考データ(某商用ソフトウェア)との 比較により、ソフトウェアの有効性を示す結果となりました。 解析の対象となるモデルは、ハブ、シュラウド、ブレード7枚で 構成されたタービンロータになります。 形状データは.stp形式のものが使用されており、AIFEM内の メッシュ作成ツールにてメッシュモデルが作成されました。 ※記事の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
効率よく仮想、EMI、EMS試験環境を構築することが可能です。
EMCに関する問題を解析する場合、ソース源となる信号波形だけでなく、その信号が流れる導体や空間についても解析を行う必要があります。 一般にEMC解析は簡単な解析にはなりませんが、Ansysのエレクトロニクス製品では、信号波形を解析するためのシステム回路シミュレーターと電磁波の振る舞いを解析する電磁界シュミュレーターがシームレスに連携できる環境を整えているため、効率よく仮想、EMI、EMS試験環境を構築することが可能です。 【EMC (Emission & Immunity) 対策】 ○仮想EMC サイト ○EMC (Emission & Immunity) 対策 ○SAR（Specific Absorption Rate）、非吸収率／局所吸収率の計算 ○"what-if"解析によるノイズ対策の検討 ○SIwave & HFSS のDynamic Link によりプリント基板を放射源とした EMC 解析の高速化 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
ベンカン機工ではFEM解析（Finite Element Method：有限要素法）による強度解析等のサービスをお受けいたします
ベンカン機工で取り扱っている各種プロセス向けの特殊継手は、一般的に使用、販売されている管継手以上に様々な仕様が要求されます。特に耐圧性能は高圧下での管継手の挙動と安全を確保するための大切な性能となります。耐圧性能は，管継手の形状・寸法の適正化により確保され、その設計手法の一つにFEM解析が使用されています。 このサービスは、以下の主な内容になります。 ・FEM解析を用いた管継手等の配管部材の設計サポート ▻ 特殊形状の管継手設計(高圧環境、鋳物製配管部材からのリプレース 等) ▻ 既設管継手の耐圧性能評価 ▻ 特殊継手の製造(材料調達～製造～試験・検査～出荷までサポート) ・弊社保有技術と組み合わせることで様々な対応が可能です ご相談は、まず弊社営業担当または当社HPからのWebでのお問い合わせに対応いたします。 最初のお打合せより、弊社技術本部の専任担当者が対応いたしますので、直接ご要望事項を解析結果へ反映させることが可能です。 打合せ方式に関しましても、出向、ご来社の他、Web会議（Zoom，MS Teams等）にも対応可能です。お気軽にご相談ください。
様々なチップの形状による超音波スケーラーの振動特性について調べました。
Simcenter Femap with Nastranによる解析事例、歯科器具-超音波スケーラーの振動特性シミュレーションをご紹介します。
強度解析および固有値解析の結果値を参考結果と比較することで、AIFEMの解析精度の検証も同時に実施！
自動車後部のフロアは、タイヤの静荷重と路面の振動荷重の両方から 影響を受けます。 フロアの変形や応力分布を確認することは、自動車の安全性能の向上は 当然のことながら、新しい構造設計の提案に繋がる重要な役割を果たします。 本解析では、自動車フロアの構造強度と固有値解析を行い、構造性能を調査します。 ※記事の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
AIFEMを用いた強度解析を実施！構造物には高い強度性能が要求されます
汎用有限要素法解析ソフトウェアAIFEMを用いた、洋上で使用する 移送装置の鋼構造の強度解析について紹介します。 搬送装置は、大型の海洋機器の搬送や移動に使用されるため、 構造物には高い強度性能が要求されます。 AIFEMを用いた強度解析を実施し、異なる作業条件下における 構造物の弱点位置を確認しました。 ※記事の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
