更新日： 集計期間:2025年12月24日～2026年01月20日
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ナノ表面粗さ・形状計測器によるサンプル測定デモ、大型の新製品紹介をさせていただきました！
「産業交流展2024」にて、当社ブースへのご来訪、誠にありがとうございました。 次の商品を展示しました。 ・ナノ表面粗さ・形状計測器「NanoSeven-40」 ・重荷重大型ラボジャッキ「RJ-105HL」、 ・高精度大型回転ステージ「RA-200CR」 【開催概要】 ■日時：11月20日(水)～22日(金) 10：00～17：00(最終日 16：00) ■場所：東京ビッグサイト 西1・2ホール(東京都江東区有明3-11-1) ■最寄り駅 ・ゆりかもめ線 東京ビッグサイト駅 徒歩3分 ・りんかい線 国際展示場駅 徒歩7分 ■ブース：東京ビジネスフロンティアゾーン ビ-07
片方向、往復の速度、時間の計測が可能！最速0.01msの計測ができます
当社が取り扱っている通過速度/時間計測計『ES2100TN』 をご紹介します。 1センサー、または2センサーに対応。 片方向、往復の速度、時間の計測ができ、 最小時間計測は0.01msで高速な計測も行えます。 【特長】 ■片方向、往復の速度、時間の計測が可能 ■1センサーまたは2センサーに対応可能 ■最速0.01msの計測が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
CRTを搭載させた係数機で、澱粉の重量を計測する装置
食品工場Ａ社に使用しました。CRTを搭載させた係数機で、澱粉の重量を計測する装置です。オールステンレスのパソコンラックを設置し、防塵対策を施しました。詳しくはお問い合わせください。
MK350Nが強力に進化,次世代測光機器 米国NISTへのトレサビリティ取得 フリッカー、TLCI,CQS
光評価に有効な機能や、世界的に注目される新機能の追加 R1~R15,CQS(NIST推奨色質度）、S/P Ratio,TLCI(TelevisionLCIbyBBC),CIE X/ Y/ Z,Purity,DUV, Flicker（Percentage) 照度/Lux,放射照度（mw/m2),Foot Candle,分光分布図、CIE1931色度座標x/y,CIE1976色度座標（u/v),色温度/CCT;CRI/R1-R15;三刺激値XYZ, COS(Color Quality Scale)色質度、peak波長；s/p 比；刺激純度/Purity; スマホのアプリでリモコン操作可能
【磁気測定が初めてという方へ】マグネットの着磁パターンの確認が可能です！
磁気は測れます。 磁石は材料によって磁気の強さが異なり、強い磁気の磁石を鉄に近づけると 強い力で吸着されます。 「磁気シート」は、磁気の強さに反応して分極部の色が変わる優れものです。 これを使用してマグネットの着磁パターンの確認が可能ですが、 N極なのかS極なのかもわかりませんし、磁気の強さまではわかりません。 この磁石からどのような磁気が出ているのか、その磁気はどの程度の 強さなのか、磁石を扱う方にとってはこの特性が重要になります。 その特性を知り、応用ができればモータや磁気センサ等の開発、 磁気応用製品の性能向上に役立ちます。 ※コラムの詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
“磁気”の持つ限りない可能性を追求！フラックスメーターやSENIS製品など豊富にご紹介
アイエムエスは、創業以来“着磁のスペシャリスト”として、磁気応用製品の 先端技術開発を支え続け、社会の発展に貢献してまいりました。 当カタログでは、「着磁ヨーク/空芯コイル」をはじめ、「サーチコイル」や 「着磁電源/脱磁電源」など、当社取扱い製品を多数ご紹介。 この他にも、「マグネットアナライザー」や「スマートテスラメーター」など 豊富に掲載しておりますので、ぜひ、ダウンロードしてご覧下さい。 【掲載内容（抜粋）】 ■着磁ヨーク/空芯コイル ■着磁電源/脱磁電源 ■着磁装置/検査装置 ■マグネットアナライザー ■スマートテスラメーター ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
これまで不可能であった、制御中のレゾルバ信号を制御や接続計測器に影響を与えず検出し角度・速度計測
レゾルバシステム計測器『RSM-100』は、レゾルバとR/Dコンバータで構成されたシステムのレゾルバ信号線を分岐検出しA,B,Zパルスと角度・速度に比例したアナログ電圧に変換しBNC端子で出力する製品です。また、励磁・SIN・COS信号もBNC端子で出力します。 本製品は第37回中小企業優秀新技術・新製品賞 優良賞 受賞しております。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
マイクロウェーブ・RF計測器メーカー シーイヤー社の製品を多数掲載！
当カタログは、当社が取り扱っているシーイヤー（Ceyear）社製品を 掲載した総合カタログです。 周波数500GHzまでの信号発器、シグナルアナライザ、ネットワーク アナライザ、パワーメータおよびマイクロ波コンポーネントといった 幅広い電計測機器をご紹介しております。 【掲載内容】 ■マイクロ波/ミリ波計測器 ■基礎計測器 ■光計測器 ■自動計測システムソリューション ■マイクロ波/ミリ波コンポーネント ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金具用テーパー角度寸法測定などに最適です。
画像処理に問わず、マシンビジョン検査装置（設備）においては、検査が満足に出来ることが条件となります。最初からあまり多くの品種、検査項目を全て網羅しようとすると、設備導入納期、及びコストに響き、更にはマシンビジョン検査装置（設備）とし不完全なものになる事もあります。今回は「金具のテーパー部を画像処理で寸法測定を行いたい。」というお客様の相談内容を例に、事例「寸法計測」をご紹介致します。詳しくはお問い合わせください。
高性能・長寿命 紫外線（UV）センサー・計測機
素子のサイズやUV-CやUV-Bに特化したフィルタを選ぶ事ができ、強光や微弱光など様々なアプリケーションに適したセンサーが必ずあります。
異常・劣化が診断可能！設備機器の困りごとを解決いたします
当社の故障劣化予知診断では、『高調波簡易診断』が可能です。 測定対象はモーター、機械。異常・劣化が診断できます。 診断対象は(A・B1・B2・B3・C)の5段階診断です。 また、電流不平衡・負荷モードも測定基準に含み、 モーターから一番近い制御盤で測定します。 【測定対象 モーター部】 ■回転軸・軸受・据付 ■巻線の絶縁・振動 ■軸受・ハウジングの損傷 ■エアギャップ不均一・振動 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
前処理装置内蔵で19kg！作業の迅速化と高精度データ管理が可能です
『ECL-88AO Lite』は、フィールド測定のために徹底した軽量化を実現した 一体型Nox・O2モニタです。 高い信頼性で好評のバイパスフローチョッピング式ガス分析計を採用した 「減圧NOx計」と、フローチョッピング式ガス分析法を組合わせた 「磁気力式O2分析計」を搭載しており、煙道排ガス等の窒素酸化物及び 酸素を高精度に連続測定可能。 また、測定に応じて豊富なオプションと仕様を用意しておりますので、 様々なユーザーニーズに対応できます。 【特長】 ■前処理装置内蔵で19kg ■軽量化と省スペース化の実現 ■メンテナンス性と操作性の向上 ■シンプルなキー操作 ■最小限のランニングコスト ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
赤外線カメラと特殊光学系、独自アルゴリズムを搭載してVCSELの酸化部を精密に計測します。
VCSELの酸化部を精密に計測します。 詳しくはお問い合わせください。
RITEC社のハイパワー製品には自動シャットダウン機能が標準で装備！
超音波物性計測装置 RPR-4000は、超音波非線形研究を支援するRITEC社製で、高性能・高出力超音波パルサー・レシーバーは送信波形に含まれる非線形成分を限りなく抑えた設計となっています。RITEC社で採用しているサイン波トーンバーストパルサーは、スクウェアウェーブパルサーでは得られない低歪・高出力信号をセンサーに供給します。標準の8KWサイン波トーンバーストパルサーは、電磁超音波探触子（EMAT)を十分に駆動できます。また、100dBのローノイズレシーバはEMATで受信された微弱な超音波信号を必要なレベルに低歪で増幅します。RITEC社のハイパワー製品には自動シャットダウン機能が標準で装備されています。さらに、探触子の故障や配線の短絡などから送信部を保護します。前面パネル表示とキーパッドにより外部制御用コンピュータを必要としません。（RS-232インタフェースを介して外部コンピュータから制御することもできます） 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光学系
『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。 これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に 移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能 です。 【特長】 ■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■最大20倍の観察光学倍率 ■同軸落射照明ポートを標準装備 ■同軸落射照明装置（オプション）との組合せで顕微鏡画像観察・実像に よる位置合わせが可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザNFP 計測システムの構築が可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
