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誘導耐電圧試験器・高周波耐電圧試験器をそれぞれ詳しくご紹介した資料！
『誘導耐電圧試験器』は、 変圧器等の各巻線間・層間などの絶縁強度を試験する試験器です。 誘導耐電圧試験は、無負荷電流が過大となるのを防ぐため、 定格周波数よりも高い周波数で高い電圧をかけます。 『高周波耐電圧試験器』は、さらに高い周波数を印加することができます。 モータ巻線・IH用コイルなどの絶縁性能の加速試験や 高周波出⼒電源としての利用が可能です。 耐圧試験器同様、試験時間の設定や遮断電流の設定ができます。 【ラインアップ】 ■誘導耐電圧試験器 ・インバータ電源方式 ・リニアアンプ電源方式 ■高周波耐電圧試験器 ・リニアアンプ電源方式 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
出力周波数を50～400Hzまで可変可能！様々な機能を搭載した誘導耐電圧試験器！
『誘導耐電圧試験器』は、 出力周波数を50～400Hzまで可変できる誘導耐電圧試験器です。 変圧器類の各巻線間・巻線層間・ターン間及び端子間の絶縁強度を 試験することが可能です。 電流値の上・下限値を設定してコンパレートする合否判定機能や タイマー機能を有しています。 電圧調整つまみで設定した出力電圧が基準電圧値の±3%の範囲に入るまで 試験を開始しない電圧コンパレート機能により、正確な試験が行えます。 【特長】 ■合否判定機能 ■タイマー機能 ■電圧コンパレート機能 ■RS-232Cインタフェース装備 ■カスタム対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
絶縁破壊時の電圧をホールド表示！耐電圧試験器としても機能させることができます
当装置は、電線や絶縁材料の破壊試験を行う試験器です。 一定速度で昇圧し、絶縁破壊時の電圧をホールド表示。 設定電圧到達後にタイマーをスタートさせ、耐電圧試験器としても 機能させることができます。 また、恒温槽付きや、3回路同時試験機能などを備えた製品製作実績も ございます。出力電流、電圧、昇圧速度などカスタマイズ可能ですので、 お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■電線や絶縁材料の破壊試験を行う試験器 ■一定速度で昇圧し、絶縁破壊時の電圧をホールド表示 ■設定電圧到達後にタイマーをスタートさせ、耐電圧試験器としても 機能させることができる ■出力電流、電圧、昇圧速度などカスタマイズ可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
絶縁材料が破壊する値を評価！希望の形状に沿って各槽の設計をいたします
当製品は、絶縁材料に、電圧を印加し、絶縁材料が破壊する値を評価する 試験器です。 一定の電圧を印加し続けるか、または一定の速度で昇圧して破壊する値を 評価可能。 各種規格や基準に定められた試験内容に応じて、製作する事ができ、気中、 油中の試験についても、希望の形状に沿って各槽の設計をいたします。 【特長】 ■絶縁材料に、電圧を印加し、絶縁材料が破壊する値を評価する試験器 ■一定の電圧を印加し続けるか、または一定の速度で昇圧して破壊する 値を評価できる ■各種規格や基準に定められた試験内容に応じて、製作する事ができる （JIS-C2110 など） ■絶縁材料の形状（フィルム状、板状、線状など）に合わせて、電極を製作可能 ■電線の絶縁破壊試験（ポリエステル繊維、エナメル繊維、ガラス繊維、 メタ系アラミド繊維など）で多数の実績がある ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
大容量の試験を少ない消費電力で実現！実機搭載状態に近い条件で、波形の確認が可能
当装置はSiC半導体や、SiC半導体と組合わせて使用する装置を、実機に搭載 させる事なく、実環境に近い評価試験が可能となる装置です。 実機搭載状態に近い条件で、損失、発熱、騒音、耐久性、各種計測器を 用いて波形の確認が可能となります。 また、回生機能を有している為、大容量の試験を少ない消費電力で実現。 SiC半導体以外の、車載用リアクトル、IGBT、IPM用の試験器へ応用もできます。 【特長】 ■SiC半導体と組合わせて使用する装置を、実機に搭載させる事なく、 実環境に近い評価試験が可能となる ■実機搭載状態に近い条件で、損失、発熱、騒音、耐久性、各種計測器を 用いて波形の確認が可能 ■回生機能を有している為、大容量の試験を少ない消費電力で実現 ■SiC半導体以外の、車載用リアクトル、IGBT、IPM用の試験器へ応用も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
充電/放電条件は任意に設定可能！指定バッテリーに合わせて製作致します
『連続充放電試験機』は、一般の直流電源装置と、電子負荷装置を組み合わせ、 独自の充放電制御回路と制御ソフトを組み込んだパソコンで構成されております。 お客様の使用条件に合わせて設定変更を行うだけで、簡単に継続したバッテリーの 性能検証ができます。 当社では、各種バッテリーの充電/放電評価用に専用の試験設備を製作致します。 【特長】 ■指定バッテリーに合わせて製作 ■条件設定は外部接続されたパソコンより行う ■制御ソフトを変更することで、各種バッテリーに対応 ■充電/放電条件は任意に設定可能 ■設定条件はパソコンのモニターより確認可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
梱包・包装貨物のランダム振動試験はお任せください。 試験台サイズ1.2m ×1.2m、パレタイズされた大型貨物楽々搭載出来ます。
この受託試験サービスでは、輸送中に発生する振動に対して、包装貨物がどの程度耐えられるのかを評価します。 包装貨物への振動試験は、正弦波掃引に変わり、ランダム波が主流になりつつあります。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください（推奨）。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
製品の挙動や緩衝包装のひずみなどを最大1/2000秒で撮影して動画による目視確認をする事も可能です
『JIS Z 0202（落下試験方法）』は金属、木材、段ボール、板紙、プラスチックまたはこれらの組み合わせからなる包装貨物及び容器について適正であるか否かを評価する為の試験方法です。 試験方法は自由落下試験機による「垂直自由落下試験」、等価落下試験機による「等価落下試験」、クレーンによる「片支持りょう落下試験」の3通りあります。 試験レベルや試験条件についてはJIS Z 0200試験方法一般通則を参照の上 選定して包装後の質量に応じた落下高さより落下試験を行います。 試験をご希望の際は、ぜひ当社へご相談下さい。 【落下試験方法】 ◇垂直自由落下試験 ◇等価落下試験 ◇片支持りょう落下試験 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください（推奨）。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
試験レベルや加振時間についてはJIS Z 0200試験方法一般通則を参照の上選定します
『JIS Z0232（振動試験方法）』は包装貨物が流通過程において受ける 振動に対する内容品または包装の耐振性を評価する為の試験方法です。 当社では包装された製品に対する様々な規格に準拠した振動試験や 製品自身の共振点を探査する正弦波共振点検出振動試験、製品強度を 確認する為の耐久性試験など、多様な目的で実施しています。 試験をご希望の際はぜひ当社へご相談下さい。 【振動条件】 ◇ランダム振動試験 ・加速度実行値：0.604Grms ・周波数：2-200Hz ◇正弦波掃引振動試験 ・加速度：7m/s2 ・周波数：3-100Hz ・掃引速度：1/2oct/min
年間300件以上の輸送試験を実施しています。試験計画の立案から試験報告書作成まで一貫してサポートします
『JIS Z0212（圧縮試験方法）』は金属、木材、段ボール、板紙、 プラスチックまたはこれらを組み合わせからなる包装貨物及び 容器について適正であるか否かを評価する為の試験方法です。 試験方法は主としてJIS Z 0212に規定された圧縮荷重による内容品の 損傷を調べる為に包装貨物の圧縮試験を行う「方法A」と容器自体の 圧縮強さを知る為、空容器で圧縮試験を行う「方法B」があります。 その他にJIS Z0212付属書に規定された「積重ね荷重試験」があり、ユーザーは試験目的に応じて試験方法を選択します。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください（推奨）。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
弊社ではJIS C 60068-2-64 広域帯ランダム振動試験を実施致します
・JIS C60068-2-64はIEC 60068-2-64を基に技術的内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格です。 ・当該振動試験規格は主として電気製品または電子製品を対象（必ずしも電気製品・電子製品に限定されたものではない）としたものであり航空・宇宙分野や地上車両などの輸送環境または使用状況で生じるランダム振動を受ける供試品に適用されます。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください。（推奨） ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
【試験事例進呈】鉄道車両用品向け工業規格『JIS E 4031』の多数の試験実績を持つJBLにお任せください！
『JIS E 4031』は、鉄道車両用品の振動および衝撃試験の要求事項を規定する日本の工業規格です。 この規格では、鉄道車両で通常発生する振動環境条件に耐える能力を証明するために、 機械、空気、電気、電子機器などの耐久性と性能を確認するための試験手順が定められています。 JBLでは鉄道をはじめとして電気、電子、精密機器、産業機器、医療、医薬、自動車、輸送など、 ほぼ全ての業界から様々な試験のご依頼を頂いており、年間800件以上の試験を実施しています。 『JIS E 4031』の試験も受付中ですのでお気軽にお問合せください！ 現在『JIS E 4031』の試験事例を無料で進呈しております。 PDFダウンロードよりご確認ください。 【試験順序】 a) 性能試験 b) 伝達関数試験（上下、前後、左右） c) 振動耐久試験（上下、前後、左右） d) 衝撃試験（上下、前後、左右） e) 輸送及び取扱い試験 f) 振動機能試験（上下、前後、左右） g) 伝達関数試験（上下、前後、左右） h) 性能試験 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
試験方法は傾斜衝撃試験機による傾斜面試験を適用します
『JIS Z 0205（水平衝撃試験方法）』は、金属、木材、段ボール、板紙、プラスチックまたはこれらの組み合わせからなる包装貨物及び容器について適正であるか否かを評価する為の試験方法です。 試験方法は水平面試験、傾斜面試験、振子試験の3通りで当社では傾斜衝撃試験機による傾斜面試験を適用しています。 試験レベルや衝突速度・衝突回数についてはJIS Z 0200 試験方法一般通則 を参照の上選定して衝撃試験を行います。 【衝撃試験方法】 ◇試験方法：傾斜衝撃試験 ◇使用機器：傾斜衝撃試験機 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください。（推奨） ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。
保護回路の動作特性をシミュレーションする装置です。 集積回路に組み込まれた保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。 VFTLP試験も可能です。 【ラインナップ】 ○HED-T5000/T5000VF ○Wafer Type ○Package Type 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
Waferレベル、パッケージ品のESD試験が可能！
WaferESD試験器 HED-W5100Dは、300mmウェハーまで対応できる自動印加/自動測定のESD試験器です。 完璧な安全機能を装備し、フレンドリーで使いやすい操作性を実現しています。 ウェハーの試験チップや印加ポジションの選択を含めた試験条件は、全てモニター上から設定可能。作業性の向上に大きく貢献します。 また、本装置は一般のパッケージ品に対しても試験が可能です。 【特徴】 ○最大300mmのウェハーに対応 ○印加ピンでの波形保証 ○多様な規格波形への対応 ○画像認識機能（オプション） 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
