更新日： 集計期間:2026年01月07日～2026年02月03日
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コンフォーカルレーザー顕微鏡を使用！高温時のサンプルからの放射光等の影響を受けず観察ができます
『VL3000DX-SVF18SP』は、最高1800℃の超高温環境下での 鮮明なミクロ観察ができる超高温観察レーザー顕微鏡システムです。 高倍率、高コントラストでの観察像を得ることが可能。 鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における 微細構造挙動の研究、材料開発にご活用ください。 【特長】 ■高解像度 In situ観察 ■超高温下の高分解能画像を取得できる ■多様な観察条件を実現 ■最高1800℃の急速昇温・急速冷却 ■優れた操作性・制御性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
拡大倍率最大800倍。赤外線／紫外線モデルが選べる携帯式デジタル顕微鏡
モニタ一体型タイプで持ち運んでどこでも使用できるデジタル顕微鏡。 最大倍率800倍まで拡大可能で静止画／動画の撮影と保存が可能です。 <製品特徴> 1、用途に合わせて赤外線／紫外線モデルが選べる 2、持ち運びできるサイズなのに本格的な顕微鏡 3、最大倍率800倍 4、手振れ防止に大活躍の有線コントローラー付き 5、簡易スケール表示可能 6、SDカードにデータ保存 ※商品を実際に試してみたい方に【デモ機貸出中】です。 ※残予算消化にも適した価格でご提供しております。
【無料デモ機受付中】金属など反射しやすい対象物の観察に。反射光をおさえ、品質管理の質を上げる。WiFi接続でワイヤレス操作。
『WIFI接続デジタル顕微鏡 偏光モデル(3R-WM401WIFI-PL)』は、無線で使えるWIFI接続式のデジタル顕微鏡。 顕微鏡本体でとらえた映像をお持ちのスマホやタブレットに無線で飛ばして映し出します。 ○無線で使えるデジタル顕微鏡 ケーブルで接続する必要がないためケーブルが邪魔になることがありません。 有線の場合ケーブルの長さにより届きにくかった場所や電源がなくて使用できなかった環境でも無線のデジタル顕微鏡であれば簡単に使用することが可能です。 ○タブレットやスマホで観察できるWIFI接続式 本商品は無線の中でも「WIFI接続」を採用しています。 そのため、WIFI機能付きのタブレットやスマートフォン無線で映像を飛ばして映し出すことが可能です。Android／iOSどちらでも使用することができるほか、無線機能が付いたパソコンでも使用できます。 ○動画／静止画の撮影やデータ保存、計測が可能 動画（iOSのみ）や静止画の撮影・データ保存が可能。 さらに、撮影した画像を補正・計測することができ、計測結果もデータとして残せます。資料作成などに活用いただいています。
WIFI接続タイプワイヤレスデジタル顕微鏡の偏光モデルです。
光を調整する機能搭載で、反射の大きい金属などでも光を押さえた鮮明な画像確認が可能です。
豊富なサポート機能により、適切なセッティングを実現します。
豊富なサポート機能により、初心者でも顕微鏡の適切なセッティングが簡単に行えます。 また、新開発のガイダンス機能により、前回と同じ観察条件に簡単に戻すこともできます。BX53Mなら、顕微鏡を使いこなすために必要だった専門的なトレーニングを受けなくても顕微鏡の機能を充分に活用でき、作業者ごとのバラつきも抑えることができます。 ◆ダイヤルを回すだけ：シンプルな観察法の切替 顕微鏡使用時に必要となる複雑な操作を極限まで排除します。投光管前面のダイヤルで観察方法を変更でき、明視野、暗視野、微分干渉など、使用頻度の高い観察方法を素早く切り替えられるため、様々な解析を手軽に行えます。さらに簡易偏光観察の場合でもアナライザーを回転させることで観察の幅が広がります。 ◆ガイダンスで適切な画像を取得：指標付絞り これまで適切な設定が分かりにくかった絞り位置を、表示に合わせるだけで適切に指定できます。開口絞り及び視野絞りを適切に設定すると、光学性能をフルに活用した高コントラストの画像が得られます。
金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM（透過電子顕微鏡法）が用いられてきましたが、近年ではSEM（走査電子顕微鏡法）による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。
医学・生物学の分野や、金属、半導体、セラミックスなど様々な分野で活用できます。
ここでは、アズサイエンスおすすめ商品である日本電子株式会社の電子顕微鏡を3製品をご紹介いたします。 ■JSM-IT200 InTouchScope 走査電子顕微鏡 上位機種の機能をよりシンプルに、使いやすくしました。初心者に優しい試料交換ナビで、試料セットから視野探し、SEM画像の観察開始まで容易に行うことができます。分析業務のためのソフトが一つになっています。 ■JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡 「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトで、作業効率の向上、操作の簡便性、分析や計測性能の強化のニーズに応えました。光学顕微鏡の隣に一台置けば、異物分析や品質管理を、よりスピーディーに、より詳細におこなうことができます。 ■JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 品質保証や製造現場では同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能で、繰り返し作業を 「おまかせ」 出来ます。SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
属製長尺ニードル先端部の分析や自動車用大型部品の分析の応用例をご紹介
フルオートFTIR 顕微鏡「LUMOS II」は、面倒な試料の前処理を必要とせず、 大きなサイズの試料もそのまま直接分析することが可能です。 試料ステージの広さと可動範囲の大きさ、そして作動距離の大きさは、 顕微分析において非常に重要な要素であると言えます。 試料形状に応じて、バイスホルダー等を併用することで、 ニードル先端の様に難しい試料の分析も容易に行うことが可能です。 【掲載内容】 ■はじめに ■装置 ■応用例: 金属製長尺ニードル先端部の分析 ■応用例: 自動車用大型部品の分析 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
医療機器・健康機器メーカーとして培ってきた技術力で、人々の未来に貢献します
株式会社オーヒラは、光学機器の設計・精密加工・組立会社として歩んでまいりました。 品質を重視し、眼科用医療機器の商品・サービスを提供しています。 医薬品医療機器等法及びFDA・MDD等の諸外国の法規制にも対応しています。 また、精密機器に用いられる金属部品の材料加工から、表面処理(取引先にて対応)、塗装等も含めて最終製品まで品質管理し対応しています。 【事業内容】 ○医療機器製品の設計・開発製造サービス ○歯科用医療用器具器械の受託製造 ○金属加工サービス(光学機器部品、医療用器具部品、精密機械部品) ○多種少量精密機器の開発・試作、製造・組立 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
ダイヤルでフォーカスを調整！確認したい対象物を覗き込まずモニタで観察できます
『液晶付きデジタル顕微鏡』は、両側にスネークライトを搭載した製品です。 金属など反射しやすい対象物観察時のハレーションを軽減します。 最大倍率43倍、20型相当の外部モニタで最大200倍まで拡大可能。 コンパクトサイズで観察時スペースを取りません。また、レンズを覗き込む 必要がなく、目の疲れを減らします。 【特長】 ■静止画・動画撮影が可能 ■ライトはそれぞれ調光可能 ■対象物がはっきり見えるモニタサイズ ■撮影時に便利なリモコン・スタンド付き ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンパクトで無人運転が可能な新世代のSEMです。
日本電子株式会社 JSM-IT210 走査電子顕微鏡は、日本電子製の据え置き型としては、最もコンパクトな走査電子顕微鏡です。新開発のステージは、5軸移動がすべてモーター駆動となり、より安心でかつ迅速にご使用いただけます。 ○特長 ・試料を入れて、迷わず観察 "試料交換ナビ" ・光学像を拡大すれば、SEM像 "Zeromag" ・観察中も常に元素分析 "Live Analysis" ・多彩な自動測定 "Simple SEM" ・自動測定を強力に支える機能 ・分析をよりスピーディーに ・60 mm2 大口径EDSを標準搭載 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
コンパクトに設計された高温加熱観察装置です。 お持ちの顕微鏡、マイクロスコープに載せて使用可能です。
IR-TPSは、”高機能とローコスト”の相反する事を追求して完成した顕微鏡用高温ステージです。 標準構成はもとより、高品質オプションで高度なシステム機器が構築できます。 精密な温度制御と空気中・不活性ガス中・真空中の雰囲気下で、材料解析等の研究や品質管理等にご利用いただけます。 【特徴】 ○赤外線集光で試料だけの秒速高温均一加熱（1500℃まで60秒以内） ○クリーン加熱で省エネ ○メンテナンスが簡単 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
3Dプリンターの製品確認 材料学も3Dの時代へ！ 組織観察過程を全自動化
さまざまな材料にも適用できる3D顕微鏡です。 コンピュータ制御により、組織観察、研磨機、洗浄、エッチングを 繰り返し全自動で行え、高効率で 3D組織像 が得ることができます。 従来、手動で繰り返し行っていた機械研磨と光学顕微鏡観察を全自動化することで、数ヶ月要していた作業を1日で終わらせることができます。
「操作性」「機能性」に優れたシャープな立体像が観察できるフレキシブル双眼実体顕微鏡です！
◆種類は、持ち運びに便利なS型とマグネットによる固定のM型があります。 ◆オプション品としても、 １、リング蛍光灯照明 ２、アジャスター（取り付け工具付き） ３、防塵ガラス を用意しております。
高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能
・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al、 Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm、 SEM：0.5nm） ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB（集束イオンビーム）加工との組み合わせで連続的な断面SIM像の取得が可能（Slice&View）
長焦点高速オートフォーカスデジタル顕微鏡／M926RMS-TVUSB-20AFT
「たった約0.5秒」で高精細な映像を表示 フルHD200万画素、1/2インチCMOS搭載。 PC不要のモニタ接続式顕微鏡 長焦点高速オートフォーカスデジタル顕微鏡 ●超高速オートフォーカスと高画質を両立。 PCに接続不要、HDMIケーブルでモニタに接続し映像を映し出します。 ※モニタは別売りです。 ■超高速オートフォーカスならスピードと精度で観察時間を大幅に短縮 オートフォーカス（自動ピンと調整機能）の中でも超高速かつ正精度の高い焦点合わせを実現。 フォーカスしたい箇所をモニタの中心に配置するだけ、およそ0.5秒の速さでピントが合い、「見たい」その一瞬を見逃しません。 操作がなくスピーディーに観察でき、時間を大幅に短縮する事が出来ます。 ■検査精度を向上するフルHD200万画素・1/2CMOSセンサー搭載 フルハイビジョンによる高画質200万画素、さらに1/2CMOSセンサーを搭載し、従来の顕微鏡に差をつける高精度な映像を表示します。 これまで見づらいと感じていた対象物の形状をより際立たせ、リアルを追及。 不具合特定の精度を向上します
コストパフォーマンスに優れた超高真空常温SPM
超高真空 (10-8Pa以下)、常温でのSTM・AFM・SNOMなど幅広い応用に対応可能な走査型プローブ顕微鏡 (SPM) システムです。 コンパクトでシンプルな構造と優れた除振機構により高分解能なSPM測定を容易に実現します。
SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
日本電子株式会社 JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。 JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。 〇特長 ・Simple SEM 撮影したい視野を選ぶだけ ・安全・簡単！ 試料交換ナビ ・Zeromag 光学像を拡大すれば、SEM像 ・Live Analysis / Live Map 観察中も常に元素分析 ・充実の機能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を調べることが可能です！
『FE-SEM』は、電子線を絞り細い電子線を試料に照射し、表面を観察する 電界放出型走査顕微鏡です。 超高分解能観察が可能。汎用SEMと同様に電子線を絞り電子ビームとして 対象に照射し、対象物の表面から放出される二次電子や反射電子を検出 することで、対象の表面の観察を実施。 また、JSM-7100Fでは、EDS及びEBSD解析装置が装着されているため、 高分解能の観察だけでなく元素分析や結晶性試料の方位解析(EBSD解析)が できます。 【特長】 ■サブミクロンオーダーでの観察が可能 ・汎用SEMより高倍率で形態観察が可能で、より鮮明な像を取得可能 ■EDX(エネルギー分散型分析装置)による定性分析 ・EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を 調べることが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
細く絞った電子線を試料に照射！結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微鏡！
『FE-SEM（電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡）』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法（Electron Back-Scatter Diffraction；略してEBSD）を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適用対象】 ■金属材料全般 ■セラミックス ■繊維（蒸着処理必要） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
熱物性を測定することで、薄膜の厚みが評価できます！
ベテル社製サーマルマイクロスコープTM3を使用することで、 「薄膜の厚み」が評価できます。
最高1800℃の環境下を高解像度で in-situ（その場）観察。セラミックス、二次電池等の研究、材料開発に！
米倉製作所を代表する加熱観察IRイメージ炉に、デジタルバイオレットレーザー顕微鏡を搭載。 最高1800℃の超高温環境下の鮮明なミクロ観察を可能にしました。 従来機と比べ、解像度・明るさが約２倍に向上*し、高倍率、高コントラストでの観察像が得られます。 鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における 微細構造挙動の研究、材料開発にご活用ください。 ＊当社従来型の「VL2000DX-SVF17SP」と比較 ◆ ポイント◆ ・ 高解像度in-situ（その場）観察 超高温下の高分解能画像を取得 ・多様な観測条件を実現 最高1800℃の急速昇温・急速冷却 ・優れた操作性・制御性 温度と正確にリンクした高速画像取得 オプションの負荷機構モジュール「SVF12FTC」を利用することで、 高温下で応力負荷中（最大5kN）の観察が行えます。 詳細はお問い合わせください。
金属の腐食による変色を観察、分析！変色原因調査事例をご紹介
当社にて、日常によくみられる金属の腐食による変色を、観察、分析した 事例をご紹介いたします。 走査電子顕微鏡(SEM)にて観察したところ、腐食の痕跡を確認。 本件の変色は、ニッケルめっき下の鉄材が腐食し、その生成物である錆が 表面に析出してきたために生じたものと推定されます。 【事例概要】 ■変色部観察：変色部を拡大 ■拡大観察と元素分析：更に拡大観察、変色部を元素分析 ■構造解析：ラマン分光による構造解析 ■変色原因：変色は主に鉄の腐食"赤錆" ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
AFM :原子間力顕微鏡法
AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。
魅力あふれるワイドスクリーンやマイクロビデオなど、驚きの新機能が満載。 最も手軽に持ち運べるマイクロスコープ
従来製品の「場所を選ばずどこでも観察できる、小さく軽いコンパクトなボディ」といった、ご好評いただいたコンセプト はそのままに、基本性能をバージョンアップしました。 スタイリッシュな見た目だけでなく、サイドのゴムグリップにより操作性の向上を図っています。 簡易測定に便利な、「方眼」「十字」のスケール表示・切り替え機能も追加しました。 また、オート・各種状態に対応したモードを設定可能なホワイトバランス、±2.0間隔で明るさの補正が可能なEVシフ ト、ハレーションを軽減するLEDカバーで、より綺麗により高品質に対象物を撮影することが可能になりました。 さらに、動画撮影にも対応しています。 もちろん、撮ったデータはSDカードへ保存して、パソコンやプリンターなどの外部機器とリンク可能です。 確認用途だけでなく記録用途にもご使用していただける、プロユースの高性能デジタル顕微鏡へと進化しました。
非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！
当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
LEDリング照明付きの、標準スタンド型 ズーム実体顕微鏡です
実体顕微鏡SM300シリーズです。鏡筒本体の対物レンズはズーム変倍式（0.7x～4.5倍）で、オプションの対物補助レンズ（0.5x, 2x）を使うと、更に倍率範囲が広がります。接眼レンズは広視野タイプを標準装備しており（WF10x/20mm）、快適な観察が可能です。 SM300シリーズは、双眼（Bタイプ）、カメラポートを備えた3眼式（Tタイプ）をご用意しています。また、3眼タイプでは光路切替えタイプ（眼視／カメラポート＝100/0,0/100切替え）もあり、より光量の少ない対象の観察や写真・動画撮影にも対応しやすくなっています。また、架台も各種取り揃えておりますので目的に合うタイプをお選びいただけます。
LEDリング照明付き／標準スタンド型／カメラポートを装備した3眼タイプのズーム実体顕微鏡です。
実体顕微鏡SM300シリーズです。鏡筒本体の対物レンズはズーム変倍式（0.7x～4.5倍）で、オプションの対物補助レンズ（0.5x, 2x）を使うと、更に倍率範囲が広がります。接眼レンズは広視野タイプを標準装備しており（WF10x/20mm）、快適な観察が可能です。 SM300シリーズは、双眼（Bタイプ）、カメラポートを備えた3眼式（Tタイプ）をご用意しています。また、3眼タイプでは光路切替えタイプ（眼視／カメラポート＝100/0,0/100切替え）もあり、より光量の少ない対象の観察や写真・動画撮影にも対応しやすくなっています。また、架台も各種取り揃えておりますので目的に合うタイプをお選びいただけます。
ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能
LVEM 5 は他に類を見ない「卓上タイプ」「低価格」の「透過型電子顕微鏡（TEM）」。オプションでSEM/STEM追加可能。
【LVEM5の主な特徴】 ◆1台でTEM（電子回析含む）、SEM、およびSTEMイメージングモードが搭載できる汎用性。サンプルの同じ領域を、TEM、SEM、STEMモードを切り替えるだけで観察が可能。（各イメージモード搭載時） ◆抜群の省スペース設計、卓上タイプなので特別な施設も不要。 ◆低電圧（5KV）の為、生体材料観察時に試料へのダメージ軽減及び、染色無しでの観察、軽元素・軽金属の観察に有効。 ◆簡単操作で誰にでも扱える為、専任オペレータは不要。 ◆独自設計の永久磁石レンズは冷却が不要 ◆イオンゲッターポンプの採用によりクリーンで振動が無く、高真空を実現。 ◆簡単に切替が出来るイメージングモード 複数のイメージングモードを切替えて実行出来る為、表面画像と透過画像の両方をキャプチャする事が可能です。 また、カラムを再調整したり試料を調整をすることなく、ワンクリックでモードを切替え使用が出来ます。
