更新日： 集計期間:2025年11月19日～2025年12月16日
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金属の腐食による変色を観察、分析！変色原因調査事例をご紹介
当社にて、日常によくみられる金属の腐食による変色を、観察、分析した 事例をご紹介いたします。 走査電子顕微鏡(SEM)にて観察したところ、腐食の痕跡を確認。 本件の変色は、ニッケルめっき下の鉄材が腐食し、その生成物である錆が 表面に析出してきたために生じたものと推定されます。 【事例概要】 ■変色部観察：変色部を拡大 ■拡大観察と元素分析：更に拡大観察、変色部を元素分析 ■構造解析：ラマン分光による構造解析 ■変色原因：変色は主に鉄の腐食"赤錆" ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能
・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al、 Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm、 SEM：0.5nm） ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB（集束イオンビーム）加工との組み合わせで連続的な断面SIM像の取得が可能（Slice&View）
画鋲形状検査やゴム製品のバリ検査などでの使用事例をご紹介します。
さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡、その顕微鏡の使用事例をご紹介いたします。 工作機械や測定機・各種装置の位置決め・セッティング等、光学的にサポートする周辺機器としても利用価値の高い製品です。 小型で使いやすく、目視検査からモニター観察･画像計測・デジカメ写真撮影まで多様な用途でご利用いただけます。 【使用事例】 ○画鋲（ピン）形状検査 ○ゴム製品のバリ検査 ○ゲート除去残り検査 ○クラック検査設備 ○ピン先端角度検査 ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。
コンパクトに設計された高温加熱観察装置です。 お持ちの顕微鏡、マイクロスコープに載せて使用可能です。
IR-TPSは、”高機能とローコスト”の相反する事を追求して完成した顕微鏡用高温ステージです。 標準構成はもとより、高品質オプションで高度なシステム機器が構築できます。 精密な温度制御と空気中・不活性ガス中・真空中の雰囲気下で、材料解析等の研究や品質管理等にご利用いただけます。 【特徴】 ○赤外線集光で試料だけの秒速高温均一加熱（1500℃まで60秒以内） ○クリーン加熱で省エネ ○メンテナンスが簡単 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を調べることが可能です！
『FE-SEM』は、電子線を絞り細い電子線を試料に照射し、表面を観察する 電界放出型走査顕微鏡です。 超高分解能観察が可能。汎用SEMと同様に電子線を絞り電子ビームとして 対象に照射し、対象物の表面から放出される二次電子や反射電子を検出 することで、対象の表面の観察を実施。 また、JSM-7100Fでは、EDS及びEBSD解析装置が装着されているため、 高分解能の観察だけでなく元素分析や結晶性試料の方位解析(EBSD解析)が できます。 【特長】 ■サブミクロンオーダーでの観察が可能 ・汎用SEMより高倍率で形態観察が可能で、より鮮明な像を取得可能 ■EDX(エネルギー分散型分析装置)による定性分析 ・EDXが装着されており、試料観察と同時に元素の種類・量・分布状態を 調べることが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
細く絞った電子線を試料に照射！結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微鏡！
『FE-SEM（電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡）』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法（Electron Back-Scatter Diffraction；略してEBSD）を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適用対象】 ■金属材料全般 ■セラミックス ■繊維（蒸着処理必要） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
熱物性を測定することで、薄膜の厚みが評価できます！
ベテル社製サーマルマイクロスコープTM3を使用することで、 「薄膜の厚み」が評価できます。
コストパフォーマンスに優れた超高真空常温SPM
超高真空 (10-8Pa以下)、常温でのSTM・AFM・SNOMなど幅広い応用に対応可能な走査型プローブ顕微鏡 (SPM) システムです。 コンパクトでシンプルな構造と優れた除振機構により高分解能なSPM測定を容易に実現します。
コンパクトで無人運転が可能な新世代のSEMです。
日本電子株式会社 JSM-IT210 走査電子顕微鏡は、日本電子製の据え置き型としては、最もコンパクトな走査電子顕微鏡です。新開発のステージは、5軸移動がすべてモーター駆動となり、より安心でかつ迅速にご使用いただけます。 ○特長 ・試料を入れて、迷わず観察 "試料交換ナビ" ・光学像を拡大すれば、SEM像 "Zeromag" ・観察中も常に元素分析 "Live Analysis" ・多彩な自動測定 "Simple SEM" ・自動測定を強力に支える機能 ・分析をよりスピーディーに ・60 mm2 大口径EDSを標準搭載 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
拡大倍率最大800倍。赤外線／紫外線モデルが選べる携帯式デジタル顕微鏡
モニタ一体型タイプで持ち運んでどこでも使用できるデジタル顕微鏡。 最大倍率800倍まで拡大可能で静止画／動画の撮影と保存が可能です。 <製品特徴> 1、用途に合わせて赤外線／紫外線モデルが選べる 2、持ち運びできるサイズなのに本格的な顕微鏡 3、最大倍率800倍 4、手振れ防止に大活躍の有線コントローラー付き 5、簡易スケール表示可能 6、SDカードにデータ保存 ※商品を実際に試してみたい方に【デモ機貸出中】です。 ※残予算消化にも適した価格でご提供しております。
最高1800℃の環境下を高解像度で in-situ（その場）観察。セラミックス、二次電池等の研究、材料開発に！
米倉製作所を代表する加熱観察IRイメージ炉に、デジタルバイオレットレーザー顕微鏡を搭載。 最高1800℃の超高温環境下の鮮明なミクロ観察を可能にしました。 従来機と比べ、解像度・明るさが約２倍に向上*し、高倍率、高コントラストでの観察像が得られます。 鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における 微細構造挙動の研究、材料開発にご活用ください。 ＊当社従来型の「VL2000DX-SVF17SP」と比較 ◆ ポイント◆ ・ 高解像度in-situ（その場）観察 超高温下の高分解能画像を取得 ・多様な観測条件を実現 最高1800℃の急速昇温・急速冷却 ・優れた操作性・制御性 温度と正確にリンクした高速画像取得 オプションの負荷機構モジュール「SVF12FTC」を利用することで、 高温下で応力負荷中（最大5kN）の観察が行えます。 詳細はお問い合わせください。
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、光電子分光装置、内斜系実体顕微鏡のご紹介
アズサイエンスおすすめ商品の3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-1400Flash 電子顕微鏡 高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた透過電子顕微鏡です。バイオロジーからナノテクノロジー、ポリマー、最先端材料など幅広い分野で活用されています。 ◆日本電子株式会社 JPS-9030 光電子分光装置(XPS) カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。大学から工場まで幅広く稼動し、材料の研究開発、また品質管理の現場において汎用性の高い分析手法として利用されています。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 内斜系実体顕微鏡 SMZ445/460 ニコンの最先端実体ズーム顕微鏡シリーズと同様の優れた光学性能を備えています。樹脂成型品、金属加工部品などの検査‧観察に適した実体顕微鏡です。部品検査や品質管理などのニーズにお応えします。
ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能
WIFI接続タイプワイヤレスデジタル顕微鏡の偏光モデルです。
光を調整する機能搭載で、反射の大きい金属などでも光を押さえた鮮明な画像確認が可能です。
AFM :原子間力顕微鏡法
AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。
