更新日： 集計期間:2026年03月25日～2026年04月21日
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試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析もでき、多機能な成分分析も可能です
一般財団法人東海技術センターは『電子顕微鏡による形態観察・成分分析』を 承っております。 手間と時間のかかる前処理なしで観察ができるため、観察までの時間短縮と 観察後の成分分析の評価がしやすくなりました。 また、形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察も可能。 試料中の測定したい2点間の距離計測もできます。 【特長】 ■手間と時間のかかる前処理なしで観察ができる ■形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察もできる ■試料中の測定したい2点間の距離計測も可能 ■試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
見えるから、追求したい
日本電子株式会社 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHRシリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました。 ○特長 ・光学像と連動してSEM像が見える ・高分解能電子銃により、よく見える ・自動測定機能: Simple SEM/EDS ・その場で3D像を構築: Live 3D ・新しい低真空二次電子検出器LHSED ・ショットキーFE電子銃の安定性を従来比 4倍以上に強化 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
試料を冷却してSEMで観察できます。
PP3010Tは、含水試料や電子ビーム、真空ダメージを受けやすい試料を凍結させ電子顕微鏡で観察を行う装置です。 大気非暴露で試料の移動が可能なサンプルトランスファーが標準付属。 自動ガス流量コントロール機能やクライオSEMに最も必要な温度コントロール機能を重要視した設計がなされています。試料をより自然の状態に保ちSEM観察を行うPP3010T装置は動植物、医療、食材、ポリマー、塗装、温度上昇に敏感な半導体材料などの測定に活用されています。
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料：クロメート ■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
お客様へ丸文通商が操作性抜群の卓上電子顕微鏡をお持ち込みし、覧いただきます
「Zeromag」 ：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」 ：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」 ：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 ＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 ＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。 ＪＣＭ７０００を直接ご覧いただける デモンストレーションサービス デモ対象エリア：北陸(富山県 石川県 福井県）甲信(長野県 山梨県)関東(埼玉 群馬 静岡 神奈川)中部関西(岐阜県 滋賀県) のお客様お問い合わせください
光学像からＳＥＭ観察、元素分析まで 高機能ながらもユーザーフレンドリーな高い操作性
「Zeromag」 ：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」 ：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」 ：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 ＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 ＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。
数十nmオーダーの狙い精度で数百μm角の断面観察が可能！
弊団では、Xe-PFIBを用いた広域断面のSEM観察を承っております。 集積回路、電極やプリント基板、半導体パッケージの電極を 電気的に接続する金属製ボンディングは直径数十μm～数百μm程です。 Xe-PFIB(Xe-Plasma Focused Ion Beam)では数十nmオーダーで 加工位置を狙い、数百μm角の断面を作製できるため、 ボンディング中央にて全景を詳細に把握することができます。 【測定法・加工法】 ■[SEM]走査電子顕微鏡法 ■X線CT法 ■[FIB]集束イオンビーム加工 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。
C-SAMは、SAT：Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、透過波の取得も可能。
【新製品】最大15倍の拡大と撮影・保存機能で、目視検査の不安を解消。品質管理や部品検査の記録を効率的に残せます。
■「ろうと型」デザイン 観察部が凹凸や曲面に密着しやすく、斜めからのピントもしっかり合わせられます。平面以外の部品・素材観察でも有効です。 ■最大15倍の高倍率拡大（7／11／15倍切替） 小さなキズや微細な異常、細部の変化まで捉える拡大性能を備えています。 ■2.1インチLCDモニター（解像度480×480）搭載 その場で映像を確認できるモニター付きなので、PC接続なしでも即観察・撮影が可能です。 ■USB接続対応でPC外部カメラとしても使用可 USBケーブルを使えばPC画面上で拡大映像を表示でき、報告や共有にも便利です。 ■撮影・保存機能付き（microSDカード対応） シャッターボタンひとつで撮影し、データはmicroSDカードに保存。PC／スマホへ取り込み可能です。 ■LED（白色×3灯／UV×3灯）搭載＋操作簡易設計 白色・UVの光源切替に対応し、暗所や素材による観察条件変化にも対応。無操作5分で自動オフなど使いやすさにも配慮。
光学像からSEM観察、元素分析まで。使いやすさを追求。
材料業界における構造解析では、材料の微細構造を詳細に観察し、その特性を理解することが重要です。特に、新素材の開発や既存材料の品質評価においては、表面形状や組成を正確に把握することが不可欠です。従来の観察方法では、時間と手間がかかり、迅速な分析が難しいという課題がありました。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、三次元観察機能により、材料の構造解析を効率化します。 【活用シーン】 ・金属材料の組織観察 ・高分子材料の表面観察 ・複合材料の界面観察 ・異物分析 【導入の効果】 ・迅速な分析による研究開発の加速 ・不良原因の早期特定 ・クレーム対応のスピードアップ
化粧品の品質管理、研究開発を加速させる卓上電子顕微鏡
化粧品業界では、製品の品質管理や研究開発において、配合成分の粒子観察が重要です。粒子の形状や大きさ、分布を正確に把握することで、製品の性能や使用感、安全性を評価できます。異物混入の早期発見にもつながります。日本電子 卓上電子顕微鏡JCM7000は、光学像とSEM像をシームレスに切り替え、元素分析も可能なため、化粧品の研究開発や品質管理における課題解決に貢献します。 【活用シーン】 ・化粧品原料の粒子観察 ・製品の品質評価 ・異物分析 ・研究開発 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・研究開発の効率化 ・クレーム対応の迅速化 ・競合他社との差別化
光学像からSEM観察、元素分析まで。故障解析を加速。
電子部品業界において、製品の信頼性確保は不可欠です。故障解析では、不良箇所の特定と原因究明が求められます。従来の外部機関への依頼では、時間とコストがかかることが課題でした。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能により、迅速な解析を可能にします。これにより、不良原因の早期特定と、クレーム対応の迅速化に貢献します。 【活用シーン】 ・電子部品の異物解析 ・不良箇所の特定 ・製品の品質管理 ・研究開発における材料分析 【導入の効果】 ・解析時間の短縮 ・コスト削減 ・品質向上 ・研究開発の効率化
光学像からSEM観察、元素分析まで。異物検出を加速。
製薬業界では、製品の品質管理において異物混入の早期発見が重要です。異物は製品の安全性や有効性に影響を与え、企業の信頼を損なう可能性があります。従来の異物検査では、外部機関への依頼に時間とコストがかかり、迅速な対応が難しいという課題がありました。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能により、異物の迅速な特定を可能にします。 【活用シーン】 ・医薬品製造における異物検査 ・原材料の品質管理 ・クレーム発生時の原因究明 【導入の効果】 ・異物検出時間の短縮 ・品質管理の効率化 ・クレーム対応の迅速化
光学像からSEM観察、元素分析まで。品質管理を加速。
半導体業界の品質管理では、製品の微細な欠陥や異物を迅速に特定することが求められます。特に、製造プロセスの微細化が進む中、ナノレベルでの異常を早期に発見し、不良品の発生を抑制することが重要です。従来の検査方法では、時間とコストがかかり、迅速な問題解決が難しいという課題がありました。JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、インスタント機能により、品質管理における課題解決を支援します。 【活用シーン】 * 半導体デバイスの異物分析 * 製造工程における不良原因の特定 * 製品の品質評価 【導入の効果】 * 迅速な異物・不良箇所の特定による、クレーム対応のスピードアップ * 研究開発サイクルの加速 * 品質管理プロセスの効率化
