光学像からSEM観察、元素分析まで。品質管理を加速。
半導体業界の品質管理では、製品の微細な欠陥や異物を迅速に特定することが求められます。特に、製造プロセスの微細化が進む中、ナノレベルでの異常を早期に発見し、不良品の発生を抑制することが重要です。従来の検査方法では、時間とコストがかかり、迅速な問題解決が難しいという課題がありました。JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、インスタント機能により、品質管理における課題解決を支援します。 【活用シーン】 * 半導体デバイスの異物分析 * 製造工程における不良原因の特定 * 製品の品質評価 【導入の効果】 * 迅速な異物・不良箇所の特定による、クレーム対応のスピードアップ * 研究開発サイクルの加速 * 品質管理プロセスの効率化
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基本情報
【特長】 * 光学像とSEM像のシームレスな切り替え「Zeromag」 * 観察しながら分析も可能な「Live Analysis」 * 任意の場所を分析できる「インスタント機能」 * SEM観察中の三次元観察「Live 3D」 * 高真空・低真空モード標準搭載 【当社の強み】 当社は、分析科学機器の販売・保守サービスを提供するSIer商社です。お客様のニーズを的確に把握し、最適なシステムを提案・構築することを目指しています。北陸・甲信地域を中心に、お客様の課題解決をサポートします。
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用途／実績例
添付ファイルに実例を記載しております。 ダウンロードください 1. 自動車・機械・金属加工業界 品質管理部門や生産技術部門での「不良原因の究明」に圧倒的な強みを発揮します。 2. 電子デバイス・半導体業界 製品の小型化に伴う微細な不良の特定や、歩留まり向上のための検査に最適です。 3. 化学・素材（プラスチック・セラミックス・繊維）業界 新素材の開発から、製造工程における品質の安定化まで幅広く利用されます。 4. 食品・医薬品・化粧品業界 消費者の安心・安全に直結する「異物混入」の迅速な解決や、製品の機能性評価に威力を発揮します。 5. 教育・学術研究機関（大学・高専・公設試験場など） 専門家から学生まで、多種多様なサンプルを扱う環境に「手軽さ」がマッチします。
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企業情報
当社は、医療用検査・治療機器や理科学・産業機器、試験・計測機器などの販売やメンテナンス・保守にとどまらず、システム開発や自動機設計、移設受託やラボ設計までを手がけるSIer商社です。 当社の強みは、幅広い分野の豊富な商材を取り扱うにとどまらず、それらの機器のトレンドや規制などの周辺環境について高度な専門知識・技術とノウハウを有している点にあります。 お客様のニーズに応えることはもちろん、お客様が潜在的に抱えている問題を汲み取って最適なソリューションを提供致します。 カバーエリア 北陸（福井県・石川県・富山県） 甲信（長野県・山梨県） および近県
