丸文通商の製品ラインアップ

高性能な測定スペックを維持しつつ、持ち運びやすさと省スペース性を両立しており、研究開発から製造現場まで幅広い環境に対応

• その他電子計測器
• 通信関連
• 無線LAN

Sパラメータ、インピーダンス、電圧定在波比（VSWR）、タイムドメイン解析（TDA）など、多彩な測定機能を1台に統合しています

• 通信関連
• 無線LAN
• その他電子計測器

高電圧かつ高速なスイッチングが行われる環境において、測定器と被試験デバイス（DUT）を電気的に完全に分離（ガルバニック絶縁）することで、従来の差動プローブでは困難だった正確な信号忠実度の維持とコモンモードノイズの抑制を実現します 　卓越したノイズ抑制 (CMRR): 1 GHzの広帯域においても90 dB（30、000:1以上）という極めて高いコモンモード除去比を実現し、急峻な電圧変化による歪みを排除します 。 　高い安全性と絶縁性能: ±60 kVのコモンモード電圧に対応し、光ファイバー伝送により電気的なリターンパスを遮断します 。 　優れた確度と感度: 最大±3、000 Vの入力レンジから、±10 mVという業界最高レベルの最高感度レンジまで幅広くカバーします 。 　柔軟なシステム構成: 帯域幅は100 MHzから1 GHzまで選択可能で、購入後もソフトウェアによるアップグレードが可能です 。 　多彩な接続オプション: MMCXコネクタチップをはじめ、スクエアピン、絶縁ブラウザーなど、用途に合わせた豊富なチップが用意されています

• その他半導体
• 半導体・IC
• オシロスコープ

Nexera X4は、島津製作所のNexera シリーズで培われた技術を継承した、次世代超高速液体クロマトグラフ（UHPLC）システムです。業界最高レベル* の低拡散設計により、シャープなピークとこれまでにない高い分離性能を実現します。また、最先端の流体制御技術により、超高圧下での高速分析においても抜群の送液安定性を実現し、信頼性の高い分析結果を提供します。UHPLC のハイエンド機種であるNexera X4は、最高レベルのパフォーマンスを求めるすべてのラボに、新たな価値をもたらします。 * カラム外拡散（ECBB 値）7 μL

• 食品試験/分析/測定機器
• 分析装置
• 高速液体クロマトグラフ

[時代を越えて受け継がれる革新性: Innovations Crafted Through Generations] 今まで培った技術を継承し、世界最高レベルの分析体験をお約束します。さらに、検出器の改良や、全く新しい試料気化室をラインナップに加えて、あらゆる分析に対応します。 [分析効率の新たなスタンダード: Benchmark in Analytical Efficiency] オーブンの高速昇温/冷却、試料気化室の高速冷却等、ハイスループットを実現する様々な性能を備えています。また、消費電力、ガス使用量を削減し、エコ性能を強化しました。 [限りなく広がる拡張性: Versatility Without Limits] 化学、石油化学、環境、 GX、食品等の分野へのあらゆるご要望に応えるプラットフォームを準備しており、高い拡張性を提供します

• ガスクロマトグラフ
• 食品試験/分析/測定機器
• 分析機器・装置

主な特長高速・高精度な測定: FFTベースのスキャンにより、従来の最大6、000倍の速さで測定が可能です 。規格への完全適合: CISPR 16-1-1に準拠し、民間（EN、 FCC、 VCCI等）および軍事（MIL-STD-461等）の認証測定要件を満たしています 。高度な診断ツール: リアルタイムスペクトラム解析、スペクトログラム、残光モードなどを備え、見つかりにくい散発的なノイズも検出可能です 。直感的な操作: 21cm（8.4インチ）の大型タッチスクリーンを搭載し、メニュー構成もわかりやすく設計されています 。モビリティ: 小型軽量で堅牢な筐体（オプション）やDC電源に対応しており、移動測定にも適しています

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• アンテナ

高剛性・高精度な土台: 測定精度を追求するため、高剛性・高耐震性を備えた「石定盤ベース」の台座を採用しています 。 　正方形ステージによる利便性: Y方向のストロークがX方向と同じ長さ（最大$300\text{mm} \times 300\text{mm}$）のため、大型サンプルも向きを変えずに測定でき、時間短縮に繋がります 。 多彩な光学系への対応: 1台で「測定対物レンズ（長作動距離）」と「金属対物レンズ（高倍率・高解像）」の両方が使用可能で、幅広い観察・測定ニーズに対応します 。 革新的な操作性:オペレーションユニット: 調光、焦準、オートフォーカスなどの操作を手元で完結できます 。 ライトマネージャー: 対物レンズの切り換えに連動して、設定した照明の明るさを自動調整します 。 高度な高さ測定支援:フォーカスナビゲータ: 投影された指標を合わせる方式で、目視による個人差（バラツキ）を抑えた高さ測定が可能です 。 オートフォーカス: 微細な対象物にも安定して合焦し、常にピントを合わせ続ける「追従（TRACK）モード」も搭載しています

• 三次元測定器
• 光学顕微鏡
• マイクロスコープ

サンプルの表面から深部まで、フォトン（光子）レベルでの定量解析を可能にする高精細な画像取得を実現し、生命現象を多角的に捉えるために設計されています FV5000は、感度、スピード、そして操作性の3点 革新的なディテクター「SilVIR」:シリコンフォトマルチプライヤーと独自の高速信号処理を組み合わせた次世代検出器です 。 　業界最大クラスのダイナミックレンジを備え、微弱な光から明るいシグナルまで、サチュレーション（飽和）を防ぎながら同時に正確にカウント 高速・高解像イメージングの両立: 　2Kレゾナントスキャナー:超高速撮影が可能で、動的な生命現象をリアルタイムで捉えます 　8Kガルバノスキャナー:精細な構造を可視化 　追加ハードウェアなしの超解像: XY方向で最大120nmの分解能を実現 AIを活用した「FLUOVIEW Smart」ソフトウェア: 　スマートサンプルサーチ: AIがサンプルを自動で見つけ、セットアップ時間を1分以内に短縮します 。 　TruAI: 深層学習　深部観察時に発生する画像のボケ（球面収差）をワンクリックで解消します

• レーザー顕微鏡
• 光学顕微鏡
• その他顕微鏡・マイクロスコープ

誰でも簡単に操作できるワークフローとカスタマイズ可能なインターフェースを備え、研究開発や品質管理における課題解決を強力にサポートします マクロからミクロまでを1台でカバー: 　ワイドな光学ズームにより、21倍から最大7300倍までの高精細な画像取得が可能です 。 多彩な観察機能:　 ボタン一つで明視野、暗視野、MIX、偏光、偏斜、微分干渉、シェーデッドレリーフの7つの観察法を切り替えられます 。 AI技術による効率化:　 最小限の教師データで機械学習を行い、ライブ画像上の対象物をスピーディーかつ高精度に自動検出します 。 高度な自動化: 　ライブ測定やエッジ検出などの反復作業を自動化し、作業時間の短縮と人によるバラつきを排除します 。 信頼の測定精度: 　テレセントリック光学系の採用と、設置環境での現地校正（ISO/IEC 17025認定校正対応）により、高い測定精度を保証します

• マイクロスコープ
• 光学顕微鏡
• その他顕微鏡・マイクロスコープ

業界初のガルバニック絶縁型であり、最高レベルの安全性（CAT IV 600 V）を確保しつつ、1台で最大8つの測定器の役割を果たす多機能性を備えています 1台8役の多機能性 優れた安全性と堅牢性 ラボクラスの解析性能 直感的なユーザー体感 比類なき接続性

• オシロスコープ
• プリント基板
• 電流計

MHO900シリーズは、同級品をリードする強力な性能で、入門級オシロスコープの性能限界を完全に覆しました。最大800MHzのアナログ帯域幅を提供し、高速信号の挑戦にも余裕を持って対応できます。標準装備の4つのアナログチャンネルは、複雑なシステムのデバッグに柔軟なサポートを提供します。核心となる12ビットの高解像度で、従来の8ビット機器の16倍の波形の詳細を再現し、最も微弱な信号異常も見逃さずに検出できます。さらに、最大500Mptsの超長メモリ深度と組み合わせることで、複雑な波形を長時間にわたって漏れなくキャプチャし、分析することができます。これにより、あなたが未来のあらゆるテストの挑戦に簡単に対応し、「入門」から「熟練」への飛躍を実現できます

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

RSA6000シリーズのリアルタイムスペクトラムアナライザは、リアルタイム分析（RTSA）、掃引分析（GPSA）機能を備えており、ベクトル信号分析アプリケーションソフトウェア（VSA）、アナログ信号分析アプリケーションソフトウェア（ADM）、およびEMI測定アプリケーションソフトウェア（EMI）を選択できます。優れた性能と仕様を持っています

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

RSA5000は、掃引型スペクトラム・アナライザ、リアルタイム・スペクトラム・アナライザ、スカラ・ネットワーク・アナライザ（-TGモデル）、EMIレシーバー、デジタル復調を備えた5-in-1スペクトル・アナライザです。 周波数範囲は9kHz〜6.5GHz（RSA5065）で、トラッキング・ジェネレータ付きの「-TG」モデルもあり、企業の研究開発、生産ライン、教育、などの分野で広く使用可能です。

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

RSA3000リアルタイム・スペクトラム・アナライザは、リアルタイム測定と掃引測定、オプションのEMI測定アプリケーション・ソフトウェア（EMI）を備え、優れたパフォーマンスと仕様を備えています。周波数範囲は9kHz〜4.5GHz（RSA3045）で、トラッキング・ジェネレータ付きの「-TG」モデルもあり、企業の研究開発、生産ライン、教育、などの分野で広く使用可能です

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

優れた性能と手頃な価格のスペクトラム・アナライザ トラッキング・ジェネレータ、プリ・アンプ、EMI、VSWR、その他のオプションを備えた1.5 GHz〜7.5 GHzモデル

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

DS80000シリーズデジタルオシロスコープは、RIGOLが独自に開発した第8世代デジタルオシロスコープであり、StationMAXII世代プラットフォームに基づいており、最大40 GSa/sのリアルタイムサンプリングレートと13 GHzのアナログ帯域幅を実現しています。ハードウェア指標の改善に加えて、DS 80000シリーズデジタルオシロスコープは、高品質のカスタマーエクスペリエンスを保証するさまざまなユーザーフレンドリーな設計を提供します

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

DS70000シリーズ・デジタル・オシロスコープは、3GHzまたは5GHzの帯域幅で提供され、新しいウルトラビジョンテクノロジと、ウルトラリアル・スペクトル解析テクノロジを組み合わせた、リゴルの最も強力な電子計測器です

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

MSO8000Aシリーズのデジタルオシロスコープは、RIGOLのASICチップとUltraVision II技術プラットフォームに基づく中高級ミックストシグナルデジタルオシロスコープです

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

MSO/DS7000シリーズ・デジタル・オシロスコープは、リゴルが自社開発したASICチップ・セットとウルトラビジョンIIテクノロジ・プラットフォームを搭載した、ミドル・レンジのミクスド・シグナル・デジタル・オシロスコープです

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

MHO/DHO5000シリーズの高解像度デジタルオシロスコープは、RIGOLが発表した初の8チャンネルデジタルオシロスコープで、 最大8つのアナログチャンネル入力をサポートし、最大1GHzのリアルタイム帯域幅と4GSa/sのリアルタイムサンプリングレートを実現します。 12ビットの垂直分解能により、エンジニアは組み込み設計、パワー半導体テスト、電源レールテストなど、さまざまな分野でのテスト問題を解決できます

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

オシロスコープ、ロジック・アナライザ、FFTアナライザ、プロトコル・アナライザ、波形発生器、電圧計、周波数カウンタ／積算器を1つにまとめました

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

高解像度の12ビット DHO4000シリーズオシロスコープは、リゴル2代目のチップセット"Centaurus"が搭載されているため、全機種12ビットサポートします。従来の8ビットより16倍、より正確か鮮明に波形を捉えることができます。 18uVrms 超低ノイズフロア（代表値）、よりクリーンな信号。 100μV超低垂直感度 業界をリードする100μV/divの垂直感度レンジで、μVレベルの信号も正確に測定できます

• 高周波・マイクロ波部品
• 電源
• プリント基板

さまざまな業界のニーズを満たす豊富なトリガーとデコード機能 MHO2000シリーズの高解像度デジタルオシロスコープは、エッジ、インターバル、タイムアウト、ビデオ、シリアルバス、エリアトリガーなどを含む豊富なトリガータイプを提供し、さまざまな異常信号を安定して捕捉・トリガすることが可能です デジタルチャンネルを標準装備し、信号伝送を安定化 MHO20000シリーズの高解像度デジタルオシロスコープには、デジタルチャネルが標準装備されており、PLA 3204ロジックアナライザプローブと組み合わせて、アナログおよびデジタル信号のデバッグの課題に対処するのに役立ちます

• 高周波・マイクロ波部品
• プリント基板
• EMC対策製品

DDSシンセサイザーの採用 拡張ダイナミックレンジモード 優れた出力パワー 周波数アップグレードコンセプト 高度な解析ツール 多ポート対応

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

革新的な「2パス・アーキテクチャ」を採用しており、信号解析とスペクトラム解析で同じ信号パスとブロードバンドA/Dコンバータを使用します 。これにより、マルチチャネル測定、クロス相関、高速掃引、そして比類のない精度を実現しています クロス相関技術による感度向上 業界初のマルチチャネル解析 極めて低い位相雑音とSFDR 広帯域解析 革新的なフィルターバンク概念

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• プリント基板

受動部品の双方向測定に対応し、高品質な設計とコンパクトなサイズを両立しています 。PCプラットフォームを内蔵したスタンドアロン型であるため、外部PCなしで電源投入後すぐに測定を開始できます コンパクトかつ軽量 直感的な操作 確かな性能 高速測定 サポート機能: Sパラメータの設定をガイドする

• EMC対策製品
• 高周波・マイクロ波部品
• プリント基板

優れた操作性: 7インチのマルチタッチスクリーンを搭載し、スマートフォンのようなジェスチャー操作で設定調整やマーカー管理が可能です 堅牢な設計 4レシーバー構成 効率的な測定サポート：コンフィグレーション・オーバービュー、ウィザード機能 リモート制御

• 高周波・マイクロ波部品
• プリント基板
• ロジックアナライザ

圧倒的なRF性能: 超広帯域な解析帯域幅: リアルタイム解析機能 高いユーザビリティ

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• 時間・周波数測定

高度なユーザーインターフェース MultiView機能 SCPIレコーダー イベントベースのアクション 高速測定テクノロジー HUMS（正常性/使用率モニタリング）

• 高周波・マイクロ波部品
• EMC対策製品
• その他電子計測器

高い受信感度 直感的な操作性 多彩な解析ソフトウェア リモート制御 多言語対応

• 高周波・マイクロ波部品
• 圧電デバイス
• 時間・周波数測定

バッテリーを含めても3 kg未満と軽量で、持ち運びに優れています 。 障害位置測定（DTF）、1ポート・ケーブル・ロス測定、アンテナ・マッチング（反射）測定など、アンテナシステムの設置に必要な測定を標準でサポートしています 。 全周波数レンジにわたって工場出荷時に校正済みであるため、現場での測定前の校正作業を省略できます 。 アンプなどのアクティブコンポーネントに給電するためのDC電源（バイアス）を内蔵しています オプションを追加することで、2ポートのベクトル・ネットワーク解析、ベクトル電圧計、パワー測定、スペクトラム解析などの機能を追加できます

• 高周波・マイクロ波部品
• オシロスコープ
• その他電子計測器

高い視認性を誇るディスプレイ: 過酷な現場に耐える堅牢設計: 選べる2つの操作インターフェース: パワフルな探傷性能:

• 探傷試験
• 欠陥検査装置
• ピンホール探知機

高速なスキャン性能: 優れた接続性とデジタルワークフロー 堅牢なタフ設計 ポータビリティと操作性 大容量データロガー内蔵:

• 探傷試験
• 検査ロボット
• プローブ

IPLEX Oneは、第10世代となるエビデント社の工業用ビデオスコープの進化形であり、ソフトウェア駆動型の統合プラットフォームを搭載した検査ソリューションです 。 革新的な光学技術、モジュール式の拡張性、そして堅牢な設計を組み合わせることで、多様な環境や用途における検査業務の効率化と高度化を支援します

• 欠陥検査装置
• 探傷試験
• その他検査機器・装置

Vantaシリーズは、対象物にX線を照射し、発生した蛍光X線を検出器で読み取ることで、成分元素や含有量を非破壊でその場で素早く分析できるハンドヘルド（携帯型）蛍光X線分析計です 。 物質の元素固有のエネルギー量を利用して、合否判定や材料組成の特定を行います 高い耐久性と堅牢性: 米国軍用規格の1.2m落下試験に合格しており、IP55またはIP54の防塵防水規格に準拠しています 。 優れた分析性能（革新）: エビデント独自の技術により、高カウントレートと高分解能を両立しています 。測定が難しいとされるアルミ合金中のマグネシウムも780ppmを検出限界とするなど、短時間で精度の高い分析を実現しています 。 第2世代としての進化: 新型バッテリーの採用で低重心化・重量バランスが改善されたほか、人間工学に基づいた滑りにくい新型ラバーグリップを採用し、長時間の使用でも疲労を軽減します 。 装置単体での完全自立も可能です スマートフォンのような直感的な操作が可能なユーザーインターフェースを採用しています 。 安心のサポート: 全モデルに3年間の保証が付帯しており、国内でのサポート体制も充実しています

• 分析機器・装置
• 蛍光X線分析装置
• 分光分析装置

IPLEX GAirは、パイプや機械設備の内部など、手元から遠く離れた箇所の目視検査をすばやく効率的に行うために開発された工業用ビデオスコープです 。 最大30メートルの長さに対応しており、複雑な機構の検査にも柔軟に対応する高い操作性と鮮明な画像を提供します

• 配管材
• 配管・配管部品
• 配管

本機器は、損傷が深刻化する前にきずや腐食を特定・評価し、資産やインフラの健全性維持をサポートするために使用されます 。 X4は、きずや腐食を確実に検出し、正確に評価するための包括的なマルチテクノロジー超音波フェーズドアレイ探傷器です 。 資産やインフラの健全性維持をサポートするために、多彩な高度画像化技術と直感的な操作性を兼ね備えています

• 探傷試験
• 鉄鋼
• 非鉄金属

● 大型モニターのタッチパネルによる簡単操作 ● 長時間作業でも疲れない軽快な使い心地 ● クリアな高画質、スマートな記録性能 ● タッチパネルで操作できる高度な計測機能 さまざまな現場をこれ一台で

• 工業用内視鏡
• その他検査機器・装置
• 検査治具

ノビテックではハイスピードカメラPhantom（ファントム）など、画像計測技術を提供します。 民間企業はもちろんのこと、官公庁にも認められる高度な画像計測技術で、『視える化』から研究開発を支援します。

• ハイスピードカメラ
• その他 計測・測定機器
• 変速機

化粧品業界では、製品の品質管理や研究開発において、配合成分の粒子観察が重要です。粒子の形状や大きさ、分布を正確に把握することで、製品の性能や使用感、安全性を評価できます。異物混入の早期発見にもつながります。日本電子　卓上電子顕微鏡JCM7000は、光学像とSEM像をシームレスに切り替え、元素分析も可能なため、化粧品の研究開発や品質管理における課題解決に貢献します。 【活用シーン】 ・化粧品原料の粒子観察 ・製品の品質評価 ・異物分析 ・研究開発 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・研究開発の効率化 ・クレーム対応の迅速化 ・競合他社との差別化

• 電子顕微鏡
• 電子顕微鏡
• 走査電子顕微鏡

電子部品業界において、製品の信頼性確保は不可欠です。故障解析では、不良箇所の特定と原因究明が求められます。従来の外部機関への依頼では、時間とコストがかかることが課題でした。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能により、迅速な解析を可能にします。これにより、不良原因の早期特定と、クレーム対応の迅速化に貢献します。 【活用シーン】 ・電子部品の異物解析 ・不良箇所の特定 ・製品の品質管理 ・研究開発における材料分析 【導入の効果】 ・解析時間の短縮 ・コスト削減 ・品質向上 ・研究開発の効率化

• 電子顕微鏡
• 電子顕微鏡
• 走査電子顕微鏡

材料業界における構造解析では、材料の微細構造を詳細に観察し、その特性を理解することが重要です。特に、新素材の開発や既存材料の品質評価においては、表面形状や組成を正確に把握することが不可欠です。従来の観察方法では、時間と手間がかかり、迅速な分析が難しいという課題がありました。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、三次元観察機能により、材料の構造解析を効率化します。 【活用シーン】 ・金属材料の組織観察 ・高分子材料の表面観察 ・複合材料の界面観察 ・異物分析 【導入の効果】 ・迅速な分析による研究開発の加速 ・不良原因の早期特定 ・クレーム対応のスピードアップ

• 電子顕微鏡
• 電子顕微鏡
• 走査電子顕微鏡

製薬業界では、製品の品質管理において異物混入の早期発見が重要です。異物は製品の安全性や有効性に影響を与え、企業の信頼を損なう可能性があります。従来の異物検査では、外部機関への依頼に時間とコストがかかり、迅速な対応が難しいという課題がありました。日本電子 卓上電子顕微鏡 JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能により、異物の迅速な特定を可能にします。 【活用シーン】 ・医薬品製造における異物検査 ・原材料の品質管理 ・クレーム発生時の原因究明 【導入の効果】 ・異物検出時間の短縮 ・品質管理の効率化 ・クレーム対応の迅速化

• 電子顕微鏡
• 電子顕微鏡
• 走査電子顕微鏡

半導体業界の品質管理では、製品の微細な欠陥や異物を迅速に特定することが求められます。特に、製造プロセスの微細化が進む中、ナノレベルでの異常を早期に発見し、不良品の発生を抑制することが重要です。従来の検査方法では、時間とコストがかかり、迅速な問題解決が難しいという課題がありました。JCM7000は、光学像とSEM像のシームレスな切り替え、元素分析機能、インスタント機能により、品質管理における課題解決を支援します。 【活用シーン】 * 半導体デバイスの異物分析 * 製造工程における不良原因の特定 * 製品の品質評価 【導入の効果】 * 迅速な異物・不良箇所の特定による、クレーム対応のスピードアップ * 研究開発サイクルの加速 * 品質管理プロセスの効率化

• 電子顕微鏡
• 電子顕微鏡
• 走査電子顕微鏡

薄切関連装置：ウルトラミクロトーム。クライオミクロトーム。ダイヤモンドナイフ、ガラスナイフ 試料凍結関連：高圧凍結装置・凍結置換装置・個体窒素作製装置 包埋関連：ティッシュプロセッサー、試料埋め込み機 試料切断：アイソメット・ダイヤモンドワイヤーソー 研磨装置：ハンディラップ・小型研磨機・ターゲット断面試料作製・ディンプルグラインダー 試料打抜：超音波ディスクカッター・ディスクパンチシステム イオンミリング（薄膜用）：イオン未リング装置TEMミル・イオンポリッシングシステム イオンミリング（断面加工・平面ミリング）：クロスセッションポリッシャ コーティング：真空蒸着・スマートコーター・オスミウムコーター 試料乾燥：臨界点乾燥装置・凍結乾燥装置 クリーナー：エキシマ

• 電子顕微鏡
• 走査電子顕微鏡
• 透過電子顕微鏡