試料を冷却してSEMで観察できます。
PP3010Tは、含水試料や電子ビーム、真空ダメージを受けやすい試料を凍結させ電子顕微鏡で観察を行う装置です。 大気非暴露で試料の移動が可能なサンプルトランスファーが標準付属。 自動ガス流量コントロール機能やクライオSEMに最も必要な温度コントロール機能を重要視した設計がなされています。試料をより自然の状態に保ちSEM観察を行うPP3010T装置は動植物、医療、食材、ポリマー、塗装、温度上昇に敏感な半導体材料などの測定に活用されています。
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基本情報
PP3010Tで試料の前処理からSEM観察まで１台で行えます。 プレップデックワークステーションで試料の加工、スラッシュ窒素凍結を行いトランスファーデバイスで試料を大気非暴露で移動し前処理室内で割断、昇華、導電薄膜コーティングを行いSEMチャンバー内に移動後SEMにて観察。 -１９０度以下まで冷却可能なので昇華し易い試料や電子ビームによるダメージを受けやすい試料の観察に最適な装置です。 これまで難しかった電子顕微鏡でのクライオ観察を簡単にする最新装置です。 １．タッチスクリーンによる操作 ２．ターボ分子ポンプを使用した高真空前処理室 ３．試料を大気非暴露で移動可能 ４．窒素スラッシャーによる試料の急速凍結 ５．前処理室内で割断、導電薄膜コーティング、試料表面の昇華が可能 ６．床置き21ℓ大型液体窒素デューワーのよる長時間冷却 ７．冷却窒素ガスによるステージ、アンチコンタミネータの前処理室の冷却
価格帯
納期
※３か月
用途／実績例
食品材料、リチュームイオン電池材料、ゴム、ポリマー、塗装、金属、複合材料のFIB加工処理、温度上昇に敏感な半導体材料などの測定に活用されています。
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企業情報
国内、海外のネットワークを通じて、近赤外線・遠赤外線カメラ、マシンビジョンおよび交通監視用・組み込み用エンベディッドカメラ、画像入力ボード、研究・非破壊検査用のX線フラットパネル、電子顕微鏡周辺装置として真空下でコンタミの予防・除去が可能なプラズマアッシング装置、含水試料などを容易にイメージングする為のSEM/FIB用クライオ装置、マイクロマニピュレーター、ピエゾ位置決め装置など、工業用／サイエンス用問わず、用途目的に合わせパーツからシステムに至るまでお客様にご満足いただける製品を提供しています。