AFM針先で原子をスキャン（ニューキャッスル大学）
【アプリケーション例】統合されたマイクロカンチレバーにより原子をスキャン！
原子間力顕微鏡（AFM）の優れた解像度は、光ベースの 顕微鏡よりも1000倍以上に高感度です。 電子顕微鏡とは異なり、サンプルをその場で画像化可能。 メカトロニクス、MEMS、および低ノイズ電子設計の専門知識を結集して、 AFMシステムのナノテクノロジーの複雑さとコストを削減できる独自の ソリューションの例をご紹介します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社エレクトロニカIMT事業部
- 価格：応相談
