MFP-3D 原子間力顕微鏡用 サンプル引張ステージ
NanoRack(ナノラック)サンプルストレッチングステージ
ストレス制御下における、材料の粘着性やクラッキングのナノ測定が可能になりました! 高歪み、高引張距離の手動引張ステージにより、2軸の引張応力制御が可能です。
- 企業:オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
- 価格:応相談
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NanoRack(ナノラック)サンプルストレッチングステージ
ストレス制御下における、材料の粘着性やクラッキングのナノ測定が可能になりました! 高歪み、高引張距離の手動引張ステージにより、2軸の引張応力制御が可能です。