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センサ(チップ) - 企業1社の製品一覧

製品一覧

1~7 件を表示 / 全 7 件

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画像センサ『CHRomatic Vision Camera』

振動の影響不要!環境に依存せず簡単な操作性を実現します!ウエハ検査用途にも。

『CHRomatic Vision Camera』は、ラインカメラをベースとして 色収差共焦点原理を応用した製品です。 コンパクトで組込みシステムをコンセプト(外部光源不要)で chromatic対物レンズは用途やレンジによって交換可能。 ラインセンサーのすべての利点を採用し、エリア内を高速スキャン及び インライン検査などが容易に行えます。 【特長】 ■フラットでないワークでも鮮明なイメージ ■振動の影響不要 ■全ての材料に対して高いコントラスト ■最大取込データ:100kHz (200MPixel/sec) ■焦点深度:150μm~3mm ■分解能:1~5μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • カラーカメラ
  • その他検査機器・装置
  • その他計測・記録・測定器

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色収差共焦点センサー『CHRocodile C』

最大±45°の傾斜でも正確かつ安定測定!全ての表面に対応します

『CHRocodile C』は、白色光を通した、色収差による変位もしくは 厚み測定を行う色収差共焦点センサーです。 440g以下のコンパクトサイズ。 粗面 をはじめ、 鏡面 や 色付き材料 など全ての表面に対応します。 プローブヘッドは200um~10mmまでご用意しております。 【特長】 ■コンパクト ■表面依存無 ■最大±45°の傾斜でも正確かつ安定測定 ■形状に依存無 ■プローブヘッドは200um~10mmまで用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 光学測定器
  • センサ

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小型で安価な高精度光センサ『CHRocodile Mini』

高精度・高速で、安価なシングルポイントセンサ。厚み・距離・高さ測定用に組込み可能なセンサ。半導体ウエハ検査用途にも最適。

『CHRocodile Mini』は、100万円以下の安価な光学式シングルポイントセンサです。高速・高精度な測定/検査が可能で、nm分解能の距離測定、最大4表面、3層厚みの同時測定もできます。粗面、鏡面、色付き材料など表面の状態に依らず計測ができ、測定レンジの範囲も広いセンサです。 【特長】  ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応    厚みは(45um)~厚膜(400mm)までカバー。(屈折率1.5の場合)    距離センサとしては、600um 4mm 10mmの3種類の    プローブラインナップ。  ■高分解能( Zはサブミクロン、XYは数um~)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野

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  • 距離関連測定器
  • 試験機器・装置
  • 基板検査装置

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小型光学式厚み/距離測定用センサ『CHRocodile C』

コスト重視におすすめな安価なタイプ。厚み測定、距離測定用センサ。ウエハ検査用途にも。

『CHRocodile C』は、安価な光学式シングルポイントセンサです。高速・高精度は他のラインナップと変わらず、nm分解能の距離測定 最大4表面、3層厚みを同時測定できる厚みセンサとして使用できます。また、プローブと本体が一体の手のひらサイズとコンパクトで、組込み時に省スペースを実現し、インラインでの使用もお勧めです。粗面、鏡面、色付き材料など全ての表面に対応し、測定レンジの範囲も広いセンサーです。また、グラファイトコーティングの厚み測定にも使用が可能です。  【特長】  ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応    豊富なプローブラインナップで、厚みは(数um)~厚膜(10mm)までカバー。  ■高分解能(サブミクロン Zは最小8nm~)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

  • その他検査機器・装置
  • その他計測・記録・測定器
  • センサ

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非接触厚み測定 光学センサ「CHRocodile 2シリーズ」

薄膜(数um)~厚膜(780um)まで高精度に測定できる幅広いプローブをラインナップ。ウエハ検査用途にも。

『CHRocodile 2シリーズ』は、サブミクロン分解能でウエハ厚のインプロセス測定が可能な非接触センサーです。 抜き取りでの品質管理にも使われています。半導体業界の他、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野で採用されており、透明体厚み、コーティング厚み測定、複数層の同時測定(最大16層)に適しています。 【特長】  ■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応    豊富なプローブラインナップで、厚みは薄膜(数um)~厚膜(780um)までカバー。    材質に合わせて二つの原理方式から選択可能。  ■高分解能(サブミクロン 最小1nm)    「色収差共焦点方式」、「分光干渉方式」の原理による高分解能測定  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

  • センサ

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色収差共焦点方式の光学シングルポイントセンサ

厚み・形状測定の高精度・高速測定の組み込み光センサ

高精度、高速測定が特長のプレシテックの光学センサで、色収差共焦点方式のシングルポイントセンサです。 厚み・形状測定の時間短縮、全数検査での実績多数あり。 色収差共焦点方式のため、角度許容度の大きいプローブの使用も可能です。 廉価版センサラインナップもあり、約80万円~ご紹介可能です。 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

  • 距離関連測定器

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Enovasense Field Sensor

高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフォトサーマル式センサ

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約11万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長  ・非接触で下記が測定できます。    ☆不透明体の厚みマッピング    ☆不透明な表面材料層下の欠陥検知   破壊試験が不要になります。  ・エリアセンサのため、1秒で約11万点の同時測定が可能。  ・溶接部など、従来X線、CTスキャンが必要な箇所の欠陥検知にも適用可能。  ・母材に依らず様々な材料の組み合わせで測定可能。 ■アプリケーション  自動車業界、航空業界、日用品、産業品、医療業界、半導体分野。  コーティング厚み、金属メッキ厚み、塗装膜、溶接部など様々なアプリケーションで使用可能です。 ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせよりご確認ください。

  • 欠陥検査装置

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