マイグレーションテスター 「Van-EE(MIG-87)」
チャンネル数16CHに限定することで「パーソナル&リーズナブル」を実現
マイグレーションテスター「Van-EE(MIG-87)」は、小型・軽量で、いつでもどこでも試験を開始することができ設置場所を選びません。マイグレーション発生確認が簡単で、試験条件設定・コントロール・データ表示はLANケーブルにて接続したパソコンから簡単に操作できます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
- 企業:IMV株式会社
- 価格:応相談
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チャンネル数16CHに限定することで「パーソナル&リーズナブル」を実現
マイグレーションテスター「Van-EE(MIG-87)」は、小型・軽量で、いつでもどこでも試験を開始することができ設置場所を選びません。マイグレーション発生確認が簡単で、試験条件設定・コントロール・データ表示はLANケーブルにて接続したパソコンから簡単に操作できます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
1CH→1電源方式でマイグレーション発生時にもチャンネル間の影響は皆無
マイグレーションテスター「MIG-8600B」は、MIGシリーズの1CH→1電源方式で、安定した電圧を個別に供給し、正常時はもちろんのことマイグレーション発生時にもチャンネル間の影響は皆無です。絶縁抵抗法を各チャンネルに搭載しているので、高精度な連続測定が可能です。
新しい評価方法を提案する、今までに無い高性能テスターです。
イオンマイグレーションテスター「MIG-88」は、従来の絶縁抵抗(Rx)計測に加え、サンプルの誘電正接(tanδ)の計測も行うことで、従来のRxのみの計測では判らなかった試験中の絶縁劣化の傾向を把握する事を可能とします。マイグレーションテストの新しい評価方法を提案する、今までに無い高性能テスターです。
オープンケルビン検知をハイサイド側・リターン側共に全ch標準装備
ハイサイドマイグレーションテスター「MIG-9000」は、ハイサイド測定の基本であるオープンケルビン検知をハイサイド側・リターン側共に全ch標準装備しました。測定データの保存にメモリカードを採用 。小型ディスプレイ搭載で、ホストPCが無くても動作状態、異常内容を表示可能です。
微小抵抗値の変化を高速・高精度に捉え、長時間の連続自動測定が行えます。
導通信頼性テスター「JET-80」は、ノイズに埋もれた微弱な信号を拾い出す「ロックインアンプ」と、接触抵抗の影響を取り除く「4端子測定法」、さらに、故障の原因となる可動部(メカニカルリレー等)を取り除いた「半導体スキャナー」のコラボレーションにより高速・高精度な「多チャンネル(最大320チャンネル同時測定」を実現します。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
絶縁劣化(イオンマイグレーション)を高精度に測定します。
マイグレーションテスター「MIG-87C」は、安定したデータを高精度に測定することができるようになりました。MIGシリーズは全チャンネル印加電源・計測回路の個別搭載。チャンネルごとに電流制限回路を搭載しているので、保護抵抗は一切不用です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。