CalibratARマイクロスケール 3D校正用リファレンス
AFMを校正するためのAFM/SPM校正基準と標準サンプル
CalibratAR校正用リファレンスは、多様な顕微鏡の評価や校正などの目的に使用できます。その適用範囲は、走査型プローブ顕微鏡、原子間力顕微鏡、電子顕微鏡、光学顕微鏡、さらにはスタイラスや光学プロファイラーなど多岐にわたります。３次元の評価のために、リファレンスのサンプルデザインには３つの直交方向の形状を組込んでいます。
- 企業：オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
- 価格：応相談
