自動光学用装置『TR7700QB SII』
高速底面図3DAOI、最大57cm2/秒!データ交換が可能で、MES接続を容易にします
『TR7700QB SII』は、計測グレードの検査が可能な15μmの高解像度12MP イメージングを備えた底面図の3DAOIソリューションです。 スルーホール技術コンポーネントとデュアルインラインパッケージの 高カバレッジ検査用に設計。 スマートファクトリー対応ソリューションは、データ交換が可能で、 MES接続を容易にします。 【特長】 ■高速底面図3DAOI、最大57cm2/秒 ■スマートプログラミングで数分で検査 ■THT/DIPの高欠陥カバレッジ検査 ■正確な測定のための計測グレードの検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業:ティアールアイ ジャパン株式会社 日本支社
- 価格:応相談