【応用事例】表面とサンプルのアブレーション
元素/同位体分析を改善!高い信号対雑音比でより良いデータを取得します
当社の製品では、USPレーザで表面をテクスチャリングするか、分析方法に ナノ秒またはウルトラファーストレーザを使用します(例: LIBS、LA-ICP-MS)。 強靭で繊細な材料の表面はすべて、熱損傷なしにウルトラファーストレーザビーム またはUVエキシマレーザでパターン化可能。 193nmのエキシマレーザは、粒子サイズが小さく、信号強度が高く、固有の分別が 低くなっています。 【特長】 ■ナノ秒レーザフレアを使用して、高い信号対雑音比でより良いデータを取得 ■エキシマレーザまたはfsレーザ増幅器を使用して、固体サンプルの元素および 同位体組成を分析 ■レーザ誘起周期構造(LIPS)を含む究極の表面パターンを作成 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業:コヒレント・ジャパン株式会社 本社、大阪支店、厚木TEC
- 価格:応相談