【超高周波350kHz対応】MEMSセンサー開発向け加振システム
半導体部品をはじめデバイス製品の開発・出荷検査に最適な加振システム サイン派・スイープ・フィールドデータ再現加振にも対応
【基本スペック】 ・周波数 0.5Hz～350kHz ・加速度 ～600m/s2 ・試験品重量 最大25kg ・サイン波、スイープ、フィールドデータ再現加振 ・低周波数／磁場／温度／音響試験機など各種試験と組み合わせ可能 ※数値はそれぞれ最大値です。装置構成、試験内容に依存します。 【用途例１ MEMSセンサー開発】 350kHzの超高周波数まで対応し、性能評価試験をはじめ固有振動数・共振周波数の探査などを行えます。 環境付加として磁場・温度・音響など各種環境試験装置とも組み合わせられ、様々な条件での試験を可能にします。 【用途例２ 品質管理】 基盤製品の出荷試験・検査に適しており、不具合品の検知により品質水準の向上を見込めます。 最新機種「SE-16」や「SE-11」シェーカーでは5個までの試験品を同時に加振可能です。 【用途例３ モーダル解析】 高周波での振動解析以外にも低周波の機種では最大25kgの試験品まで搭載でき、構造体としての加振試験も可能です。 加振もサイン波、スイープ加振以外に実際の振動データを取り込みフィールド再現試験も可能です。
- 企業：エフ・アイ・ティー・パシフィック株式会社
- 価格：応相談
