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【アプリケーション事例】 電波暗箱を利用した電波法対策
【製品紹介】 ■電波暗箱/シールドボックス 低価格、軽量、短納期！ 計測器メーカーが提供する高品質・信頼性・コストパフォーマンスに優れた電波暗箱・シールドボックス ■電動ターンテーブル MT107 小型アンテナ・無線機器の評価に好適な電動ターンテーブル。 UHF帯RFIDは、860～960MHzの周波数帯を利用した電波方式のRFIDです。構内無線局対象のリーダーの出力は1W以下に及びます。評価・試験において周囲に不要な電波を撒き散らさないようにするため、テスターと電波暗箱をセットで使用します。弊社では様々なサイズの電波暗箱を取り揃えております。
電波暗箱や簡易電波暗室、スペアナなど多数用意。“はかる”技術と試験環境を提供いたします
情報技術は著しく進化しており、5Gという言葉も頻繁に耳にするようになりました。 5Gは、「高速、大容量、低遅延、多数接続」といったメリットが期待されています。 当社は、5Gの“はかる”技術と試験環境を提供することで、携帯電話に限らず 暮らしの中にある様々なモノ・サービスに関わっていきます。 【主な製品ラインアップ】 ■簡易電波暗室（電磁波シールドテント型） MY5700シリーズ 安価かつ手軽に電波暗室を構築することが可能。 ■電波暗箱/シールドボックス ミリ波対応 MY6520 5G NR 対応端末・デバイス・チップセット等の、簡易的なOTA試験に好適。 ■RFマトリクススイッチボックス MM6800シリーズ 多入力×多出力のRF信号をマトリクスに組み合わせ可能な切り替えボックス。 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
IEC 61000-4-5 Ed.3の試験規格を図入りで詳しく解説！
当資料は、IEC 61000-4-5 Ed.3 試験規格について掲載しております。 スイッチング及び雷の誘導現象により発生する単極性一方のサージに対し、 電子機器の誤動作を評価します。 概要をはじめ、試験レベルや試験用発生器及び波形の規定など 詳しく解説しています。 【掲載内容(抜粋)】 ■一般事項 ■試験レベル ■試験用発生器及び波形の規定 ■結合減結合回路網と波形の規定 ■試験のセットアップ例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
開発プロセス中の電子アセンブリ上の30MHz～3GHzの電界と磁界を測定可能！
『RF1近傍界プローブセット』は、4本のパッシブ磁界プローブと 専用ケーブル1本が含まれているセットです。 当セットのプローブヘッドは、電子アセンブリに非常に近づけた位置での 測定が可能。 ICピン、導電パス、コンポーネントやコネクタ上での検査を行うことができ、 干渉源を特定することができます。 【セット内容】 ■RF-K 7-4：H-Field Probe 30MHz～1GHz ■RF-U 2.5-2：H-Field Probe 30MHz～3GHz ■RF-R 3-2：H-Field Probe 30MHz～3GHz ■RF-E 10：E-Field Probe 30MHz～3GHz ■SMB-BNC：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
LF-B 3、LF-U 5、LF-U 2.5などの高分解能のプローブを使用して、干渉源をより正確に検出！
『LF1近傍界プローブセット』は、4本の磁界プローブと専用ケーブルが 含まれており、開発プロセス中の電子デバイスから放射される長波、中波、及び 短波周波数を測定することができるセットです。 当セットのプローブヘッドは、ICピンから大型コンポーネント、アセンブリ上の 電磁干渉源を段階的に検出できる様に設計。 50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続できます。 【セット内容】 ■LF-R 400：H-Field Probe 100kHz～50MHz ■LF-B 3：H-Field Probe 100kHz～50MHz ■LF-U 2.5：H-Field Probe 100kHz～50MHz ■LF-U 5：H-Field Probe 100kHz～50MHz ■SMB-BNC：ケーブル1m ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
ミニバーストフィールドジェネレータは、常に手元に用意していただきたいEMCツールの1つ！
当社で取り扱う『P23セット(電界パルス)』について、ご紹介いたします。 P23の干渉パルスは、テスト対象のリセット、クロック、クォーツ、或いは それぞれの信号線等のデジタルIC入力を通り、結合。 結合はバーストフィールドジェネレータ内部で容量的に行われます。P23ミニバースト フィールドジェネレータの先端を、DUTのピンまたは信号線上にセットしてください。 P23の先端は非常に薄く、微細な構造の検査に適しています。 【セット内容】 ■P23：Mini Burst Field Generator(E) ■ケース ■ユーザーマニュアル ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
「E1セット」に含まれるSGZ21バーストジェネレータでのみ動作可能！
『S2セット』は、アクティブ及びパッシブ近傍界プローブが含まれている製品です。 これらは、干渉下にある電子デバイスやアセンブリ内の非反応性ファースト トランジェントパルス磁場を測定。 DUTに問題を引き起こすバースト及びESD干渉の影響を分析できます。 磁界プローブは、LWL接続を介して測定信号をSGZ21バーストジェネレータの 光受信機に送信します。 【セット内容(一部)】 ■MSA 02：Magnetic Field Probe (active) ■05K black：Probe Head (MSA 02用) ■05R white：Probe Head (MSA 02用) ■05U orange：Probe Head (MSA 02用) ■MS 101：Magnetic Field Probe ■MS 102U：Magnetic Field Probe ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ICピン、導電パス、コンポーネントやコネクタ上での検査を行うことができ、干渉源を特定可能！
『SX1セット(磁界・電界プローブ)』は、3本のパッシブ磁界プローブと 専用ケーブル1本が含まれているセットです。 開発プロセス中の電子アセンブリ及びIC上の1GHz～10GHzの高クロック 周波数帯の電界及び磁界を測定することが可能。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、 また電流減衰シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【セット内容】 ■SX-E 03：E-Field Probe 1GHz～10GHz ■SX-B 3-1：H-Field Probe 1GHz～10GHz ■SX-R 3-1：H-Field Probe 1GHz～10GHz ■SMA-SMA：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
対応周波数帯は30MHz～1.5GHz/3GHz！PCBエミッション近傍界プローブタイプ
『RF4-Eプローブセット』は、比較目的で30MHz～3GHz(1.5GHz)の 周波数範囲で電界を測定するパッシブ電界プローブが2本含まれている セットです。 このプローブは、電界分布の分析、モジュール上の結合メカニズムの検出、 信号リードのスイッチングエッジと電源システムのRF電圧の評価を 目的として設計。 Langer社の近傍界プローブはコンパクトで大変使い易く、また電流減衰 シースにより、電気的にしっかりとシールドされています。 【セット内容】 ■RF-E 02：E-Field Probe 30MHz～1.5GHz ■RF-E 05：E-Field Probe 30MHz～3GHz ■SMB-BNC：1mケーブル ■ケース ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
磁界用プローブセット！対応規格はIEC/EN 61000-4-4となっております
当社で取り扱う、Schloeder GmbHシュレーダーの『SFT 470』 をご紹介します。 当製品のタイプは磁界用プローブセットで、 対応規格はIEC/EN 61000-4-4です。 その他、詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ：磁界用プローブセット ■対応規格：IEC/EN 61000-4-4 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続可能！
『XF1近傍界プローブセット』は、4本の磁界プローブと、1本の電界プローブ、 そして専用ケーブル1本が含まれているセットです。 開発プロセス中の電子アセンブリ上の30MHz～6GHzの電界と磁界を 測定することが可能。 またそのインピーダンスマッチングにより、RFタイプのプローブよりも低い 周波数帯における感度は低いです。 【セット内容(一部)】 ■XF-R 400-1：H-Field Probe 30MHz～6GHz ■XF-R 3-1：H-Field Probe 30MHz～6GHz ■XF-B 3-1：H-Field Probe 30MHz～6GHz ■XF-E 10：E-Field Probe 30MHz～6GHz ■XF-U 2.5-1：H-Field Probe 30MHz～6GHz ■SMA-SMA：1mケーブル ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
DC～9GHzまでの干渉源を高精度に測定、位置を特定することが可能！
当社で取り扱う『PBS1セット(磁界・電界プローブ)』について、 ご紹介いたします。 セットには、磁界(H field)と電界(E field)を測定するための4本の磁界プローブと 1本の電界プローブ、そしてそれぞれの標準校正データが含まれます。 プローブには、機械的損傷や環境の影響から保護するために高品質の絶縁層が 設けられており、安全に発振器や電力線の測定ができます。 【特長】 ■干渉源の特定 ■干渉電界強度の推定 ■遮蔽およびフィルタリング対策の検証 ■障害のあるコンポーネントの特定 ■干渉に過度に敏感な回路の検出 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
プローブは、どのスペクトラムアナライザやオシロスコープにも接続することが可能！
当社で取り扱う『PBS2セット(磁界・電界プローブ・プリアンプ)』について、 ご紹介いたします。 セットには、磁界(H field)と電界(E field)を測定するための4本の磁界プローブと 1本の電界プローブ、そしてそれぞれの標準校正データが含まれ、高性能プリアンプが付属。 EMC対策のためのモニタリングはもちろんの事、信号発生器と併用して イミュニティテスト用のフィールドを生成する事も可能です。 【特長】 ■干渉源の特定 ■干渉電界強度の推定 ■遮蔽およびフィルタリング対策の検証 ■障害のあるコンポーネントの特定 ■干渉に過度に敏感な回路の検出 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
アッテネータは20dB(max 16kV)/30dB(max 30kV)！ESD検証セット
当社で取り扱う、『SESD 8800-4,8800-4_S』をご紹介します。 タイプはESD検証セット(ESDパルス検証用 2Ω(4GHz))で、 対応規格はIEC/EN 61000-4-2,ISO 10605です。 アッテネータは20dB(max 16kV)/30dB(max 30kV)となっております。 詳細はダウンロード資料をご参照ください。 【仕様】 ■タイプ：ESD検証セット(ESDパルス検証用 2Ω(4GHz)) ■対応規格：IEC/EN 61000-4-2,ISO 10605 ■アッテネータ：20dB(max 16kV)/30dB(max 30kV) ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
対応周波数帯は～40GHz！PCBエミッション近傍界プローブタイプ
『HR-R 8-1セット(磁場プローブ)』には、HR-R 8-1 B 磁界プローブが 含まれている製品です。 このプローブは、最大40GHzの磁場測定を可能にします。 HR-R 8-1のプローブヘッドは、IC、回路基板構造及びコンポーネントの 測定を行い、高周波磁場の位置を特定できる様に設計されています。 【セット内容】 ■HR-R 8-1：Near-field probe～40GHz B-field ■CS-ESA：ViewerChipScan-ESA Viewer Software/USB ■HR-R char：HR-R 8-1 個別データ ■ユーザーマニュアル ■ケース ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
