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スリット位置に自動でマスク設定！検査の手間を削減する接写型表面欠陥検査装置！
『CONTACT ACEシリーズ』は、反射光学系/透過光学系対応の インライン検査装置です。 同シリーズ製品「CONTACT FILM」は、接写型の表面欠陥検査装置で、 専用ソフトによりスリットの位置に自動でマスク設定（最大48ヶ所）が可能。 検査の手間を大幅に削減できます。 CIS（Contact Image Sensor）の採用により、光学レンズを使用しないため、 視野端と中央でレンズ収差の影響がありません。 【特長（CONTACT FILM）】 ■フィルム・コーティング業界向け ■至近距離から撮像するため、従来のカメラよりも省スペース ■巻き取り直前での検査や、セパレート後の狭小スペースに最適 ■レンズ収差の影響を受けず、視野全域で安定した検査が可能 ■カメラ1台で約2000mmの幅を検査可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
使いやすさと拡張性を重視！ニーズに合わせて変幻自在の表面欠陥検査装置！
『AIRIS ACEシリーズ』は、それぞれの業界の個性に合わせて設計された インラインの表面欠陥検査装置です。 5年先、10年先に求められるニーズに考慮し、ハード面、ソフト面共に 拡張性を重視。使いやすさでお客様をバックアップいたします。 同シリーズのベースモデル「AIRIS-UC」と、欠陥種の判定基準などを 追加し、より多くのニーズに対応できる「AIRIS-SP」を取り揃えています。 【特長】 ■高い拡張性/カメラ・系列に追加 ■同一プラットフォームで多言語対応 ■CoaXPressインターフェース採用 ■処理能力が4倍向上 ■消費電力43％削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最大4系列、カメラ16台まで拡張可能！高分解能化により難しい欠陥検出も可能！
『FITSシリーズ』は、カメラ・系列の追加が可能な表面欠陥装置です。 高分解能化により、地合との差別が難しい欠陥検出が可能に。 特に強い地合中のムラ欠陥や、淡いスジ欠陥に有効なアルゴリズムが 搭載可能になりました。 また、弁別機能により、欠陥をタイプ別に分類することが可能です。 【特長】 ■カメラ・系列の追加ができる（最大4系列、カメラ16台まで） ■圧縮処理ができる ■欠陥の種類を自動判別できる ■ニーズに合わせて選べるラインアップ ※詳しくはお問い合わせ下さい。
表面欠陥検出装置シリーズ
・未塗工幅、塗工幅、基材幅それぞれ管理値を設けて、幅異常監視が可能 ・表裏ズレも管理できるので、塗工材料のロスを低減可能
カスタマイズ対応可能！高分解能検査ができるオフライン検査装置をラインアップ
『MICRO ACEシリーズ』は、アヤハエンジニアリングが取扱う オフライン検査装置です。 分解能0.7μ～超高分解能検査が可能な「OMI-UL」は、3D計測器と連携でき、 検査MAPからボタン1つで欠陥の深さを測定することが可能です。 他にも、コンパクトタイプの「OMI-SP」や、10～100μで簡易検査が可能な 「OMI-FE」などをラインアップしています。 【特長】 ＜OMI-UL＞ ■分解能0.7μ～超高分解能検査が可能 ■焦点深度が広く欠点の全形撮像が可能、ピントによるバラツキなし ■豊富な光学系の組み合わせと、画像処理による欠点種弁別が可能 ■レーザー顕微鏡（オプション）の3D計測による欠点解析が可能 ■ディスプレイ、電子材料、電池向けなど先端素材の研究開発シーンでも活躍 ※詳しくはお問い合わせ下さい。
