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出力線のズレ、セル間のピッチ、セルのカケ・クラックなどを高精度で検査
PV-Module外観検査システムは、PVモジュールを高画素のラインセンサカメラを使って撮像し、不良品を検出してNG信号を出し、「出力線のズレ」や「セル間のピッチ」、｢セルのカケ・クラック｣などを高精度で検査します。モジュール用ガラス検査や樹脂封止後の気泡検査等、モジュール製作工程のあらゆる外観検査工程のご相談を承ります。また、自社開発の検査ソフトウェアのため、納入後の追加や変更にも、迅速に対応いたします。さらに、画像処理ユニットを始め、搬送部分も自社工場にて製作しているので、御要求に柔軟な対応が可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
チップ部品の高速6面検査を行う、2次元CCDカメラによる画像検査機です
電子部品6面外観検査装置は、チップ部品の高速6面検査を行う、2次元CCDカメラによる画像検査機です。チップ部品をパーツフィーダーから搬送してチップ面の6面を検査します。ライン計測とずらし減算を主体とした独自の検査ロジックにより、実用的な検査ができます。オペレータはタッチパネルで簡単操作で、多角形ウインドウで隅々まで検査範囲を設定できます。部品交換で兼用可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
検査内容に合わせた機能の選択、豊富なオプション機能による高精度検査が可能なウエハ外観検査装置
当社が取り扱っている『ウエハ外観検査装置』について ご紹介いたします。 ウエハ工程で発生する外観欠陥を高速かつ高精度に検査可能。 検査対象はLSI、LD、Di、LED、パワー半導体、化合物半導体、MEMS。 検査例はカケ・ワレ、クラック、スクラッチ、パターン異常、異物、 塗布不良、ズレです。 【特長】 ■検査内容に合わせた機能の選択が可能 ・ミクロ検査、マクロ検査 ・カラー検査、モノクロ検査 ・エリアカメラ、ラインカメラ ・表面検査、表裏面検査 ■豊富なオプション機能による高精度検査が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
