検査装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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検査装置(異物) - メーカー・企業と製品の一覧

検査装置の製品一覧

1~8 件を表示 / 全 8 件

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ペレット・パウダ異物検査装置

独自開発の検査機構でペレットやパウダの異物および変色を検出!

ペレット・パウダ異物検査装置は、独自に開発したターンテーブル方式に株式会社ヒューブレインの画像ユニットを組込み、ペレットで難しい透明品種の気泡・中空孔・凹凸等を誤検査することなく、異物だけを判別する装置です。驚異の検出能力(検出精度16.6µm)で、なおかつ検査ボックスと制御盤を組み合せたコンパクトタイプです。クリーンユニット標準装備により簡易クリーンルーム対応で、工場にも設置可能です。タッチパネルで条件設定、あとはボタン1つで自動検査が行える簡単な操作性、自動サンプリングラインとの接続でオンラインの自動検査も可能です。エジェクタによる吸引で容器内に異物を回収する機構があり、解析などに便利です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置

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切削工具検査装置

切削・施削工具のチップを高精度で外観検査を行う装置です!

【特長】 ■切削・施削工具のチップを高精度で外観検査を行う装置です。 ■エッジ部は高精度で微細なカケなどの検査を行い、全面は高画素カメラでコーティング不良やシミの検査を行います。 ■ISO型番製品の簡易品種登録機能搭載。 ■品種データ管理システムにより、10,000品種の設定データを登録可能。

  • 画像処理機器

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グリーンシート外観検査装置

グリーンシート外観検査機-並列処理型

グリーンシートパターン検査専用のロジックで高速検査を行い、不良箇所にはバッド・マーキングを自動で行います。

  • 画像処理ボード
  • 外観検査装置

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ウエハ外観検査装置(ダイシング前)

検査精度に合わせた画像分解能が選択可能!高速かつ高精度な検査を実現

『ウエハ外観検査装置(ダイシング前)』は、ウエハ工程で発生する 外観欠陥を高速かつ高精度で検査が可能な装置です。 検査精度に合わせた画像分解能が選択可能。(マクロ検査約10um分解能以上) また、ビューワーソフトは、検査結果マップ表示機能・NGチップ拡大表示機能・ 不良分類表示機能(不良項目/検査総数/OK/NG)がお使いいただけます。 【特長】 ■多機能画像検査ソフトHu-Dra ■ウエハ工程で発生する外観欠陥の検査が可能 ■オートフォーカス機能(オプション) ■全数のマーキングミスチェック機能(オプション) ■ID読込み及びマッピングデータ出力機能(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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太陽電池セル外観検査装置

出力線のズレ、セル間のピッチ、セルのカケ・クラックなどを高精度で検査

PV-Module外観検査システムは、PVモジュールを高画素のラインセンサカメラを使って撮像し、不良品を検出してNG信号を出し、「出力線のズレ」や「セル間のピッチ」、「セルのカケ・クラック」などを高精度で検査します。モジュール用ガラス検査や樹脂封止後の気泡検査等、モジュール製作工程のあらゆる外観検査工程のご相談を承ります。また、自社開発の検査ソフトウェアのため、納入後の追加や変更にも、迅速に対応いたします。さらに、画像処理ユニットを始め、搬送部分も自社工場にて製作しているので、御要求に柔軟な対応が可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置

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トレイ外観検査装置

カラー・高画素モノクロカメラの並列仕様。微細なキズやシミも確実に検出! セラミックパッケージ、電子部品業界に多数実績有り。

トレイ外観検査装置は、XY軸ロボットでカメラを走査し、トレイに並べられたワーク1つ1つを高速で連続検査します。カラーカメラと高画素モノクロカメラの並列仕様で、微細なキズやシミも確実に検出します。すべてのワークを画像検査した後、不良品をトレイから排出し、良品詰め替え作業も自動で行います。最大100品種まで品種設定可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 外観検査装置
  • 基板検査装置

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2ステージタイプ汎用型平面外観検査装置

トレイ交換により、トレイ中の個片または基板の外観を高速で検査を行います

2ステージタイプ汎用型平面外観検査装置は、XY軸ロボットでカメラおよびトレイを移動させ、トレイに並べられたワークを高速で連続検査します。トレイ交換により、トレイ中の個片または基板のいずれかの検査が可能になります。個片検査の場合は不良品排出、良品補充、方向整列機構を付けることが可能です。基板検査の場合はバッドマーキングを行うことが可能です。画像検査能力を上げるため、高画素カラーカメラとモノクロカメラとの並列処理仕様としています。微細な欠点やシミも確実に検出します。検査タクトをアップさせるため、画像処理とその他の機能とは別個のステージにて並列処理を行うシステムになっています。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 外観検査装置
  • 基板検査装置

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ウエハ外観検査装置 ※検査内容に合わせた機能の選択が可能!

検査内容に合わせた機能の選択、豊富なオプション機能による高精度検査が可能なウエハ外観検査装置

当社が取り扱っている『ウエハ外観検査装置』について ご紹介いたします。 ウエハ工程で発生する外観欠陥を高速かつ高精度に検査可能。 検査対象はLSI、LD、Di、LED、パワー半導体、化合物半導体、MEMS。 検査例はカケ・ワレ、クラック、スクラッチ、パターン異常、異物、 塗布不良、ズレです。 【特長】 ■検査内容に合わせた機能の選択が可能 ・ミクロ検査、マクロ検査 ・カラー検査、モノクロ検査 ・エリアカメラ、ラインカメラ ・表面検査、表裏面検査 ■豊富なオプション機能による高精度検査が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 外観検査装置

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