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測定×株式会社日本レーザー - 企業1社の製品一覧

製品一覧

1~3 件を表示 / 全 3 件

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フォトニック集積回路向け SMU マルチチャンネル ソース 測定

フォトニック集積回路向けマルチチャンネル・ソース測定機器。XPOW は複数の電圧/電流の印加と電圧/電流の測定が可能です。

高い汎用性でシンプルな電子回路から複雑なフォトニック集積回路まで、低消費電力の用途にて最適です。また、 XPOWのアップグレード版で、より高速なXDAC はユニポーラ、バイポーラ、ディファレンシャルなど、柔軟なチャンネル出力が可能です。 ※詳しくはお問い合わせください。

  • 電気計器・電位計(メータ)

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静電容量変位センサ 非接触測定

接触することなく変位を高精度に測定。一切損傷や負荷を与えることなく、各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能です。

〇ナノメートル・サブナノメートルの精度を実現。 MicoSenseの独自技術による静電容量での高い温度特性・高安定性・高分解能・優れた直線性の実現。 〇被測定物に一切損傷や負荷を与えず測定。 接触することなく各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能。 〇目的やアプリケーションのに応じてた使用が可能。真空や非磁性対応の製品も含めさまざまなモデルをラインナップ。 MicroSense LLC独自の技術により開発された静電容量型変位センサです。 ■測定フルスケール:±5μm~4500μm、±15μm~250μm、±25μm~500μm ■出力分解能:最高0.0005%FS以下、最高0.001%FS以下、最高0.002%FS以下 ■出力直線性:最高0.02%FS以下、最高0.03%FS以下、最高0.1%FS以下、 ※詳細はPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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超高安定性 干渉計 フーリエ変換アプローチよるスペクトル測定

NIREOS社のGEMINIは2つのレプリカ間の時間遅延を制御した入力光で、類まれない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。

〇コンパクトで軽量(176mm x 44mm 設置面積、0.4kg) 〇幅広いスペクトルレンジ:350-2300nm(オプションで250-3500nm可能) 〇特許取得済みのコモンパス構造で、堅牢なデザイン。振動の影響を受けません。 〇無制限のスペクトルバンドを連続スペクトルとして提供 〇アライメント済みで、既存のセットアップに簡単に取り付け可能。ターンキーにて使用可能。 〇グレーティングも入力/出力スリットも無い、1cmのクリアーアパーチャーによって、高スループット実現 〇ドライバーを含めた完全な一体型 〇スキャンレンジとスペクトル範囲をユーザーにて設定可能。 ユーザーは簡易的な測定からスタートし、スペクトルを確認後、データ取得時間を延長してSN比を上げ、スペクトル分解能を1nmまで下げることが可能。 ※モデルと波長により異なります。

  • その他計測・記録・測定器

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