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測定(値) - 企業1社の製品一覧

製品一覧

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1ライン3CH設置や、工程前後に測定が可能!多ポイント膜厚測定

多CHでの前後の測定が可能な、多ポイント膜厚測定。複数の受光ヘッドを使用し、複数ポイントの膜厚値を一括測定します。

『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションにて膜の厚みの差やムラ等の測定・解析を 効率的に行えるように、自動XYステージを使用して 自動マッピング測定が可能です。(マッピング膜測定) 【特長】 ■サンプルの反射率を測定し、FFT等によって膜厚値の解析を行う ■膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行える ■測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能 ■インライン膜厚測定としてもご使用頂ける ■カスタム仕様等の対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 光学測定器

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暗室不要で超微弱光を自動測定!吸光度測定システム『DD8-N』

外光・ノイズをキャンセルでき、暗室不要なためインラインで測定可能。透過率だけでなく暗い反射率も測定。【無料デモ測定可能】

『DD8-N』は、吸光度(OD)、透過率を暗室不用で評価することができ、 リアルタイム表示も可能な吸光度測定システムです。 リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算します。 複数ポイント測定をはじめ、偏光プリズムとの偏光度測定や 反射率測定など、各種オプションやカスタム仕様に対応可能です。 【特長】 ■超微弱光の8OD-12ODまで暗室不要で測定 ■外光・ノイズをキャンセルできる ■リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算 ■任意間隔で連続測定が可能 ■各種オプションやカスタム仕様に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置

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