薄膜厚測定システム
分光器からソフトウェア、顕微鏡まで組合せ自由な膜厚測定システム。
オプトシリウスがご提案する膜厚測定システムは、オーシャンオプティクス社の分光器、光源、反射プローブ等に、協業メーカーの分光干渉膜厚測定ソフトウェアを組み合わせたオリジナルシステムです。
- 企業：オプトシリウス株式会社
- 価格：応相談
測定システム×オプトシリウス株式会社 - 企業1社の製品一覧
製品一覧
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labsphere(R) ラブスフェア 光学測定システム
光測定の世界標準。LEDなど発光体の光学特性を測定します。
LEDなど発光体の光学測定の積分球システムです。光学測定における世界No1のメーカです。
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積分球光測定システム illumiaシリーズ
新たに設計されたillumiaシリーズの積分球は、LM-78、LM-79、LM-80に準拠した2π測定および4π測定が可能です。
測定項目 •分光放射束 [W/nm] •色度座標 (xy、u'v') •ピーク波長 [nm] •ドミナント波長 [nm] •半値全幅 [nm] •全光束 [lm] •相関色温度 [K] •重心波長 [nm] •純度 [%] •演色評価数 (CRI) ○詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードして下さい。
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【紫外域対応】配光測定システム BaseSpion
ベンチトップ型UV対応配光測定装置
BaseSpionは、卓上型の配光測定装置であらゆるラボに最適なツールです。 パワーアナライザ、ゴニオメータ等のドライバはすべて内蔵されており非常にコンパクトです。 また、オプションにより、BaseSpionを BaseSpion UV-VIS に アップグレードすることができ、近年需要の高まるUV-C域の一部を測定可能になります。 BaseSpion UV-VISは、可視光とUV光の3D配光・色測定を一度に測定することが可能です。 ユーザーはUV放射の配光特性評価を知ることで、UV消毒・硬化の効率を高めることができます。 詳しくはカタログをダウンロード、または弊社担当までお気軽にお問い合わせください。
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次世代積分球光測定システム illumia plus
新開発したソフトウエアIntegralを使用した次世代の積分球システム
高拡散コーティングが施された積分球と3種類の分光器の組み合わせにより、ご使用用途に応じたシステム構成が可能です。 illumia plusシリーズは、米国IESNA LM-79に準拠した測定が可能です。2π測定もしくは4π測定の選択、または両方の測定を可能にします。分光器は、標準タイプ、電子冷却付高精度タイプ、ハイスピードタイプの3種類から選択頂けます。システムにはNISTトレーサブルの標準光源を含んでおります。 オプションでサンプル電源や、LM-82対応の温度コントロールユニットもラインナップしております。
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【紫外域対応】配光測定システム LabSpion
小型ランプから大型ランプまでカバーする紫外対応配光測定システム
VisoSystems社のLabSpionは、小型ランプやLEDチップから大型パネルや街灯まで、 幅広い光源をカバーする配光測定システムです。 近年需要の高まるUV-C域に対応するため200nm～の測定が可能です。 2軸ゴニオメータにより、幅広い光源の配光を測定可能です。 照明設計のためのLDT、IESファイルを提供します。 独自のテクノロジーにより、分光センサと内蔵パワーアナライザを使用して、光束測定が可能になり、すべてのデータを迅速に測定できます。 また、オプションにより、LabSpionを LabSensor UV-VIS に アップグレードすることができます。 LabSensor UV-VISは、可視光とUV光の3D配光・色測定を一度に測定することが可能です。 ユーザーはUV放射の配光特性評価を知ることで、UV消毒・硬化の効率を高めることができます。 詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
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膜厚測定システム SKOP
オーシャンオプティクス社分光器を使用した安価・簡易膜厚測定システム！
SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、 光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。 基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。 パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。 SKOPでは干渉パターンを専用のソフトウェアで解析することにより、膜の厚みに換算します。
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