薄膜厚測定システム
分光器からソフトウェア、顕微鏡まで組合せ自由な膜厚測定システム。
オプトシリウスがご提案する膜厚測定システムは、オーシャンオプティクス社の分光器、光源、反射プローブ等に、協業メーカーの分光干渉膜厚測定ソフトウェアを組み合わせたオリジナルシステムです。
- 企業：オプトシリウス株式会社
- 価格：応相談
測定システム×オプトシリウス株式会社 - メーカー・企業と製品の一覧
測定システムの製品一覧
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【紫外域対応】配光測定システム LabSpion【高速測定】
小型ランプから大型ランプまでカバーする紫外対応配光測定システム
VisoSystems社のLabSpionは、小型ランプやLEDチップから大型パネルや街灯まで、 幅広い光源をカバーする配光測定システムです。 近年需要の高まるUV-C域に対応するため200nm～の測定が可能です。 2軸ゴニオメータにより、幅広い光源の配光を測定可能です。 照明設計のためのLDT、IESファイルを提供します。 独自のテクノロジーにより、分光センサと内蔵パワーアナライザを使用して、光束測定が可能になり、すべてのデータを迅速に測定できます。 プロセスは自動で行われ、Cプレーン毎のデータ取得には15～30秒かかるため、ほとんどの測定には2～10分で完了です。 設置手順も非常に簡単なため、どなたでも組み立て可能です。 詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
- 企業：オプトシリウス株式会社
- 価格：応相談
膜厚測定システム SKOP
オーシャンオプティクス社分光器を使用した安価・簡易膜厚測定システム！
SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、 光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。 基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。 パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。 SKOPでは干渉パターンを専用のソフトウェアで解析することにより、膜の厚みに換算します。
- 企業：オプトシリウス株式会社
- 価格：応相談
