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測定システム×株式会社システムロード - 企業1社の製品一覧

製品一覧

1~8 件を表示 / 全 8 件

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偏光特性測定システム『PP8』

偏光スペクトルなどを自動で評価!リアルタイム表示が可能な偏光特性測定システム

『PP8』は、偏光フィルム、偏光レンズなどの偏光度、偏光スペクトル、 透過率、色度特性などを自動で評価でき、リアルタイム表示も可能な 偏光特性測定システムです。 サンプルに合わせた治具対応やUV対応によるUV-A UV-B測定など、 各種オプションやカスタム仕様に対応可能。 充実したソフトウェアにて、LEDモジュール、デバイスなどの開発・評価を サポートします。 【特長】 ■偏光スペクトルや色度特性などを自動で評価 ■リアルタイム表示が可能 ■各種オプションやカスタム仕様に対応可能 ■LEDモジュール、デバイスなどの開発・評価をサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置

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配光測定システム『RR8-LED-2000/12000』

お客様の標準光源を使用した校正も可能!JIS C8105-5 配光測定方法に準拠した測定システム

『RR8-LED-2000/12000』は、LED照明、各光源、平面発光、スポットライト などの配光特性、全光束、色度特性、電気特性を自動で評価できます。 トプコン社製分光放射計は、JCSS校正が行われており、演算については JIS規格に準拠しています。 また、照度アダプタを取り外すことで、ワイドダイナミックレンジ (0.0005~5 000 000cd/m2)の輝度測定が可能です。 【特長】 ■リアルタイム表示が可能 ■お客様の標準光源を使用した校正も可能 ■JIS C8105-5 配光測定方法に準拠 ■照明設計ソフト対応のIES配光データを出力可能 ■各種オプション・カスタム仕様に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置

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多波長画像測定システム『OD4-8』

ドライ検査チップ評価用!セル内の反応分布を測定することが可能です

『OD4-8』は、不均一反応下での解析方法、混入した気泡やゴミの影響を 除去するアルゴリズムの開発などに必要な基礎データを取得することが 可能な測定システムです。 ソフトウェアは、5波長の画像情報から各波長の吸光度経時変化を 求めることが可能。また、データは全て画像として保存されますので 測定後、測定使用範囲を変更し自由に解析することができます。 【特長】 ■ドライ検査チップ評価用 ■セル内の反応分布を測定することが可能 ■チョッパー方式のため、外光・ノイズをキャンセルできる ■リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算可能 ■任意間隔で連続測定ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器

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積分球LED測定システム『LL8』

数日の作業が数時間で自動測定できる!LEDデバイスの開発・評価をサポートします

『LL8』は、光学特性、温度特性、電気特性を自動で評価することができ、 リアルタイム表示も可能なLED積分球測定システムです。 米国NIST準拠の標準校正光源を使用し、演算についてはJIS規格に 準拠しています。 グラフの重ね書きや統計処理機能など充実したソフトウェアにて、 LEDデバイスの開発、評価をサポートします。 【特長】 ■光学特性・温度特性・電気特性を自動で評価 ■リアルタイム表示も可能 ■米国NIST準拠の標準校正光源を使用 ■演算についてはJIS規格に準拠 ■各種オプションまたカスタム仕様に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置

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LED点灯・個数測定システム『SR10-LT』

各品種の形状等を登録可能!インライン上での自動測定が可能なLED点灯・個数測定システム

『SR10-LT』は、基板のLEDの点灯個数および光量を評価することができ、 リアルタイム表示も可能なLED点灯・個数測定システムです。 基板のLEDの個数を点灯せずに計測可能なほか、インライン上での 自動測定ができます。 画像認識によるLED位置検出や形状検出、コネクタなどのパーツの有無の 判別など、各種オプションやカスタム仕様に対応いたします。 【特長】 ■リアルタイム表示が可能 ■基板のLEDの個数を点灯せずに計測できる ■インライン上での自動測定が可能 ■ティーチングにより各品種の形状等を登録可能 ■各種オプション・カスタム仕様に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置

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積分球測定システム『LL8-UV-VIS-NIR』

LED光学特性評価のための高精度光測定を実現!お客様の標準光源で校正も可能です

『LL8-UV-VIS-NIR』は、LED開発や評価が効率良く行えるよう、積分球/ 分光器/電源等を自動で制御し、 LEDの光学特性、電気特性、温度特性を 測定するシステムです。 標準校正光源は米国NIST準拠のものを使用し、演算についてはJIS規格に準拠。 お客様の標準光源で校正も可能です。 また、グラフの重ね書きや統計処理機能など充実したソフトウェアにて LEDデバイスの開発、評価をサポートします。 【特長】 ■LED光学特性評価のための高精度光測定を実現 ■LED開発や評価が効率良く行えるよう、積分球/分光器/電源等を自動で制御 ■LEDの光学特性、電気特性、温度特性を測定可能 ■充実したソフトウェアにてLEDデバイスの開発、評価をサポート ■各種オプションまたカスタム仕様に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器

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積分球量子効率測定システム『LL8-UV-VIS-NIR』

量子効率測定、LED光学特性評価等の高精度光測定を実現!各種オプションやカスタム仕様にも対応

『LL8-UV-VIS-NIR』は、励起光源を使用し、外部量子効率、内部量子効率、 励起波長依存性、励起スペクトル、発光スペクトルを測定できる 積分球量子効率測定システムです。 LED開発や評価が効率良く行えるよう、積分球/分光器/電源等を自動で制御。 LEDの光学特性、電気特性、温度特性を測定します。 尚、標準校正光源は米国NIST準拠のものを使用し、演算については JIS規格に準拠しています。 【特長】 ■量子効率測定、LED光学特性評価等の高精度光測定を実現 ■LED開発や評価が効率良く行えるよう、積分球/分光器/電源等を自動で制御 ■LEDの光学特性、電気特性、温度特性を測定 ■お客様の標準光源で校正も可能 ■充実したソフトウェアにてLEDデバイスの開発、評価をサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器

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温度特性測定システム『LL8-HC』

温度制御に恒温槽を使用!-60℃~+150℃と広い範囲の温度特性を測定することが可能

『LL8-HC』は、分光器・電源・恒温槽を自動制御することにより、1台で 光学特性・温度特性・電気特性の測定を行うことが出来る 温度特性測定システムです。 電流、電圧、温度を自動で変更しながらその状態での光学特性や電気特性を リアルタイムで測定可能。また、一定時間間隔で行う時間変化測定や、 任意回数の測定を行う繰り返し測定も可能です。 【特長】 ■電流や電圧はDC駆動とパルス駆動が可能 ■逆バイアス測定を行うことも可能 ■測定結果を保存し、解析処理機能を使い様々な解析を行うことができる ■解析した結果は、印刷、CSV保存、クリップボードコピーなどが行える ■ソフトウェアは全て日本語による分かりやすい表示 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器

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