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非破壊で膜厚測定と素材分析ができる！品質管理や生産管理における測定にも好適！
『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です！ また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに当シリーズは、FISCHERSCOPE X-RAYシステムの特長である 高精度かつ長期安定性により再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 【特長】 ■微小部品や複雑な構造部品を測定可能 ■非破壊で膜厚測定や素材分析ができる ■プログラム機能付き電動式XYステージを搭載 ■品質管理や生産管理における測定にも好適 ■再校正（キャリブレーション）に必要な時間や労力を大幅に削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です。
『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 【特長】 ■膜厚測定や組成分析に好適 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減 ■より簡単に膜厚測定と素材分析ができる ■使いやすく設計されたユーザーフレンドリーな卓上型 ■ハウジングの両サイドがスリット状になっており、大きな板状サンプルも測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器！
『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラリーレンズを搭載 ■高精度で高分解能な検出感度を実現 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減可能 ■簡単に膜厚測定と素材分析ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
オーステナイト鋼とデュープレックス鋼におけるフェライト組織量を測定！
『FERITSCOPE FMP30』は、フェライト組織量を簡単に高精度で 測定することができる測定器です。 フェライト量が少なすぎる場合は、溶接部分が高温でひび割れの可能性が出てきます。フェライト量が多すぎると、柔軟性や耐食性が悪化します。 フェライト量の検査に最適なハンディタイプの測定器です。 サンプル表面にプローブを当てるだけで測定値を記録して表示。 また、当製品は二相鋼のステンレスの厚みが3mm厚から基材側の物性による影響を受けずにフェライト組織量が測定できます。 【特長】 ■フェライト組織量の変化で溶接の継ぎ目を発見 ■熔接継ぎ目周りの測定を簡便にする「連続測定・記録」機能を装備 ■メッキなどの基材側の物性による影響を受けずに測定可能 ■校正値は常にそれぞれのアプリケーションの記録エリアに登録 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
