透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析
EBSD:電子後方散乱回折法
薄片化した試料でEBSD分析を行うことにより、従来のバルク試料よりも高い空間分解能を得ることができます。
- 企業:一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格:応相談
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EBSD:電子後方散乱回折法
薄片化した試料でEBSD分析を行うことにより、従来のバルク試料よりも高い空間分解能を得ることができます。
お手元のXPSスペクトルデータの解析、レポート作成をお引き受けします
近年の測定装置の高度化・高機能化によって、高品質かつ大量のXPSスペクトルデータを短期間で取得することが可能となっています。しかしながら、取得したスペクトルデータの解析にあたってはデータベースの調査や解析技術の習得に手間や時間を要するだけでなく、過去の経験に裏付けられた判断を求められることが多く、保有している装置やデータの有効活用に対し障壁の一つとなっています。MSTではそうした課題を抱えているユーザー向けに、お手元のXPSスペクトルデータについて、解析からレポート作成までワンストップでお引き受けするサービスを展開しています。
軽溶媒そのままの測定
NMRは通常、磁場の安定性確保などを理由に磁場調整を重水素化溶媒の2H(:D)核の共鳴信号を用いて行いますが、1H核の共鳴信号を用いて行うことにより、軽溶媒(:通常の溶媒)でも測定を行うことが可能です(No-D測定法)。 No-D測定法が有効な測定は次の通りです。 ・軽溶媒との相互作用を評価する測定(例:軽溶媒での劣化調査) ・重水素化溶媒を用いることができない試料の測定(例:タンパク質など生化学分野の試料の測定) ・揮発しやすい成分を含む試料の測定 ・溶解できる重水素化溶媒がない試料の測定