セグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析
ヒストリー機能を用いた高分解能での長時間捕捉について紹介します。
新製品の開発時には、散発的なエラーによって貴重な時間が失われます。 オシロスコープのメモリでは、通常、エラーやエラーの履歴を解析するための メモリ長が数ミリ秒に制限されます。 大容量のセグメントメモリと専用のトリガ条件により、長時間休止すること なく、関連するシーケンスを捕捉できるので、この問題を解決できます。 【電子計測ソリューション】 ■シングルショット ■アクティブな信号要素に収集を制限 ■ヒストリーおよびセグメントメモリ ■設定が簡単で、結果を短時間で取得可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社
- 価格：応相談
