SEM-EDX定量マッピング画像を用いた鉱物解析技術
材料分析や研究開発において、対象試料の性状や試験による経時変化の情報は非常に重要です！
当社独自技術として、走査型電子顕微鏡-エネルギー分散型X線分析(SEM-EDX) による定量マッピング画像と独自のアルゴリズムを併用することで、鉱物の 局所的な組成情報を明らかにし、鉱物の分布状態を可視化する技術を開発しました。 測定の性質上、同一試料・同一視野での観察が可能であることから、試料の 経時変化観察において有用な技術。 本技術を活用することで、水和反応における経時変化観察、状態変化の メカニズム解明調査が可能です。 【分析装置】 ■走査型電子顕微鏡 SEM ・TM3030plus(日立ハイテクノロジーズ社製) ■エネルギー分散型 X線分析装置 EDX ・QUANTAX75 Esprit Compact(ブルカー社製) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：日鉄環境株式会社 分析ソリューション事業部・営業部
- 価格：応相談
