AFMプラットフォーム 光学顕微鏡付き
高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。
光学顕微鏡を備えたAFMプラットフォームです。光学顕微鏡観察をしたエリアを狙い、原子間力顕微鏡によるイメージングが可能。 垂直光路設計を採用し、気液両用プローブホルダーは空気中でも液体中でも同時に使用可能。（要 液中測定オプション） ※詳しくはお問い合わせください。
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
顕微鏡(afm) - メーカー・企業と製品の一覧
顕微鏡の製品一覧
1～5 件を表示 ／ 全 5 件
表示件数
原子間力顕微鏡
C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応
導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法（KFM）、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法（sMIM）などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ ：最大100 mm角 ■ステージ移動距離 ：100 mm ■XY走査範囲 ： 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 ： 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms ■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms ■ノイズレベル ：Typ : <0.01 mV RMS
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
AFM-IR 装置 サブ5 nm IR 空間分解能
AFM-IR装置 分光ナノスコピーPiFM・PiF -IR
サブ5 nm のIR 空間分解能を実現したAFM-IR装置です。コンパクトかつ自己完結型システム。光学系のクイックチェンジ・切り替えが簡単かつ、サンプルへのアクセスが容易です。
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
AFM 原子間力顕微鏡 ナノオブザーバー 2
老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現
柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定（KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
ミクロスフィア式超解像分解能光学顕微鏡 ≦100nm分解能
≦100nm分解能 光学顕微鏡 非破壊、フルカラーで観察可能
回折限界を超えて観察ができます100nm以下の空間分解能で、ナノスケールの構造を非破壊・フルカラーで観察できます。半導体研究開発および先端材料イメージング、またはSEMやAFMの代わりとしてご使用いただけます。対物レンズのみでの販売も可能です。
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
