更新日： 集計期間:2025年09月24日～2025年10月21日
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組立部品選定や組立から最終検証やトラッキングまで、様々な製造工程で活躍！
「マシンビジョン検査システム」の電子機器検査事例をご紹介いたします。 当システムは、電子機器業界の部品や機器の検査ができ、 部品や機器は高速で移動が可能。 解像度や処理能力は、こうした検査に耐えられる性能を持っており、 組立部品選定や組立から最終検証やトラッキングまで、 様々な製造工程において活躍します。 【事例概要(抜粋)】 ■ケーブルアセンブリ検証 ■スイッチアセンブリの構成検証 ■コネクタの印字方向検証 ■部品の有無、位置、向きの検証 ■回路基板の向き決定(ロボットピッキング用) ■ICのピン数と識別マーク検証 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ターゲット化合物を選択的にまた迅速分離精製を行うことが可能！ フラッシュ分取クロマトグラフ
関連製品： 分取クロマトグラフィーシステム Pure C-815 ペプチド等の中分子化合物を高純度の精密精製を行うには、逆相LCが 汎用的に適用されており、合成または抽出後の簡便的な粗精製として 一般的にSPE(固相抽出)等が適用されています。 SPEによる粗精製では、通液する溶媒のpHを調整することで、アニオン・ カチオン・ノニオンを容易に分離できますが、同イオン性の各成分の 分離は困難です。 フラッシュによる粗精製は、移動相やグラジエント条件等の最適化により、 ターゲット化合物を選択的にまた迅速分離精製を行うことが可能です。 【SPEによる粗精製メカニズム】 ■アニオン・カチオン・ノニオンを容易に分離することが可能 ■同イオン性(アニオン・カチオン・ノニオン)の各成分の分離は困難 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
