半導体検査【コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード】
様々な電子部品の検査をサポート！TOTAL TEST SOLUTIONの精研！
電気検査に使用するコンタクトプローブ、 半導体ウエハ検査用プローブカード・ICソケットを取り扱う 株式会社精研の半導体検査機器のご紹介です。 標準品から特殊仕様品にも対応した「コンタクトプローブ」をはじめ、 用途に合わせたハウジング材料での構成が可能な「ICソケット」、 微細加工技術による狭ピッチをはじめ、様々な検査条件に対応した「プローブカード」をラインアップしています。 検査条件の例 ・狭ピッチに対応（MIN P=80μ） ・大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査) ・非磁性検査（磁性を持たない材質で製作するプローブ） 長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境を提供すること、 より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。 製品概要を資料にてご紹介をしております。 【掲載内容】 ■はじめに ■製品・技術のご紹介（コンタクトプローブ） ・新製品技術のご紹介 ■技術紹介（ICソケット、プローブカード） ■その他各種製品・サービス（精密加工他） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社精研 本社
- 価格：応相談
