Xe-プラズマFIBによる構造解析
数百μmの広い領域を対象に精密加工/構造評価が可能
高い位置精度かつ広域の断面作製を実現し新しい大容量解析アプリケーションとして活用できます 大面積中の小さな構造でも狙って加工でき、広域の構造解析が可能
- 企業:一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年11月19日~2025年12月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
16~20 件を表示 / 全 20 件
数百μmの広い領域を対象に精密加工/構造評価が可能
高い位置精度かつ広域の断面作製を実現し新しい大容量解析アプリケーションとして活用できます 大面積中の小さな構造でも狙って加工でき、広域の構造解析が可能
XRD:X線回折法
極点測定は特定の結晶面に着目し、試料に対して様々な方向からX線を入射させることで結晶方位の分布を評価する方法です。検出器を着目の結晶面の回折角度(2θ)に固定し、α(試料のあおり角度)とβ(試料の面内回転角)の2つのパラメータを変化させてあらゆる方向に傾いた結晶面を測定します。高い回折強度が観測される方向に結晶方位が集中していることを示します。また、測定結果は右下の図のような極図形で表します。
構造強度に関する設計開発の課題および品証問題を解決いたします
・変形解析 ・応力解析 ・接触解析 ・材料塑性解析 ・大規模アセンブリー解析 ・クリープ解析 ・座屈解析 (座屈固有値、非線形座屈) ・振動解析 (固有振動、周波数or時刻歴応答、 ランダム応答) ・走行解析 ・衝突解析 (落下、転倒、走行衝突、圧縮崩壊) ・破壊解析 (延性破壊、脆性破壊) ・塑性加工解析 (プレス、ベンド、ストレッチ、ハイドロ) ・流体構造連成解析 (スロッシング、流体衝撃) ・溶接解析 (工程再現、固有ひずみ法) ・機構解析 ・熱伝導解析 (定常、非定常、輻射) ・亀裂進展解析 (J値、K値)
動的な荷重(加振)を受ける構造物の挙動を扱う、工学の一分野です
構造解析は、動的な荷重(加振)を受ける構造物の挙動を扱う、工学の一分野です。静的な荷重を受ける構造物の挙動を正確に予測するのは可能ですが、動的な荷重については、構造物の減衰のようにモデル化が困難なパラメータが必要となります。そのため、動的な荷重に対する構造物の応答を正確に求めるには、モード試験のような何らかの構造解析試験を行う必要があります。 モード試験によって、構造物のモードパラメータを実験的に求めることが可能となります。モードパラメータには、共振周波数、減衰、モード形状が含まれます。共振周波数は、ある加振力が加わった時に、加振力より大きく増幅された応答が生じるような周波数です。加振力が構造物の共振周波数に近い場合、悪影響を生じることが多いため、共振周波数を知ることは重要です。共振によって過度の振動が発生すると、疲労破壊の原因になったり、構造物のデリケートな部分にダメージを与えたり、また極端な場合には構造物が壊れることもあります。 詳しくはお問い合わせください。
パナソニックReRAM搭載MN101LR05D 8bitマイクロコントローラ
MN101LR05Dはポータブルヘルスケア、セキュリティ装置、センサー処理用と向けに開発された低消費電力の8bitシングルチップマイクロコントローラです。MN101LR05DはCPUコアが10MHz 8bitのAM13Lで64KBのReRAM容量と4KBのSRAM容量を特徴としています。 MR101LR05Dは世界初の量産化されたReRAM(Resistive RAM:抵抗変化型メモリー)の実用例であり、既存の不揮発性メモリーの後継技術として多く活用されるとみられています。 MN101LR05Dは180nm CMOSプロセスに4層のAIメタライゼーションを使用して製造されています。この金属酸化物のReRAMセルはメタル3から4に接続するスタックWビアの間に形成されます。 レポートの結果は走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM)、エネルギー分散型X線分析(TEM-EDS)、電子エネルギー損失分光法(TEM-EEKS)、および拡がり抵抗測定(SRP)のデータによるものです。